[發明專利]一種空芯光子晶體光纖及利用該光纖的光譜測量裝置

無效

• 申請號: 200810065104.5
• 申請日: 2008-01-02
• 公開（公告）號: CN101251616A
• 公開（公告）日: 2008-08-27
• 發明（設計）人: 閆培光;阮雙琛;張敏;郭春雨;邢鳳飛
• 申請（專利權）人: 深圳大學;閆培光;阮雙琛;張敏;郭春雨;邢鳳飛
• 主分類號: G02B6/02
• 分類號: G02B6/02;G01N21/64
• 代理公司: 深圳市智科友專利商標事務所
• 代理人: 曲家彬

1.一種空芯光子晶體光纖，中間為空芯層，同軸線徑向設置有內空氣孔陣列層、外圓環包層和涂覆層，其特征在于：

A.在所述的內空氣孔陣列層(2)外設置有內圓環包層(3)，在內圓環包層(3)和外圓環包層(5)之間設置有外空氣孔陣列層(4)；

B.所述內空氣孔陣列層(2)、內圓環包層(3)、外空氣孔陣列層(4)和外圓環包層(5)都采用同一種材料；

C.所述內圓環包層(3)的壁厚大于內空氣孔陣列層(2)和外空氣孔陣列層(4)中空氣孔壁厚的100倍。

2.一種利用空芯光子晶體光纖的光譜測量裝置，包括激光發射源、光隔離器、二色鏡、耦合物鏡、測量光纖和光譜儀，在激光發射源發射的激光光路上依次設置光隔離器和二色鏡，使激光通過光隔離器后以45度入射角入射到二色鏡上，二色鏡對于激發樣品產生的熒光或拉曼散射光能保持高度透過而同時對激光能保持高度反射，在激光經二色鏡的反射光路上依次設置耦合物鏡、測量光纖，測量光纖一端與耦合物鏡相連，另一端連接樣品，光譜儀設置在沿激光經二色鏡的反射光路的反向延長線上，位于二色鏡的后方，其特征在于：所述測量光纖為權利要求1所述的空芯光子晶體光纖(E)。

3.根據權利要求2所述的一種利用空芯光子晶體光纖的光譜測量裝置，其特征在于：在靠近空芯光子晶體光纖(E)裝有樣品的一端設置一凹面鏡(F1)，凹面鏡(F1)凹面正對空芯光子晶體光纖(E)的端面。

4.根據權利要求2所述的一種利用空芯光子晶體光纖的光譜測量裝置，其特征在于：在空芯光子晶體光纖(E)裝有樣品的一端設置一平面鏡(F2)，平面鏡(F2)正面緊靠空芯光子晶體光纖(E)的端面。

5.根據權利要求2所述的一種利用空芯光子晶體光纖的光譜測量裝置，其特征在于：在空芯光子晶體光纖(E)連接樣品的一端的空芯(1)內放置熒光材料(H)，并用選擇性膜(I)把該端面封口。

6.一種利用空芯光子晶體光纖的光譜測量裝置，包括激光發射源、光開關、光纖耦合器、多模光纖和光譜儀，激光發射源發出激光由多模光纖傳導并接入光開關，光纖耦合器連接光開關接出端和3至5根多模光纖，多模光纖連接樣品，光譜儀與光纖耦合器通過多模光纖連接，其特征在于：所述多模光纖連接樣品的一端接有一段權利要求1所述的空芯光子晶體光纖(E)，空芯光子晶體光纖(E)中內圓環包層(3)的直徑小于多模光纖的纖芯直徑，空芯光子晶體光纖(E)與樣品連接。