[發明專利]氣體中微小顆粒物的分析方法及儀器有效
| 申請號： | 200810054056.X | 申請日： | 2008-08-04 |
| 公開（公告）號： | CN101329249A | 公開（公告）日： | 2008-12-24 |
| 發明（設計）人： | 張帆;姚鳳蘭;冷云平 | 申請（專利權）人： | 天津信達北方科技有限公司 |
| 主分類號： | G01N15/02 | 分類號： | G01N15/02;G01N15/00;G01N21/45 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 300190天津市南開區平*** | 國省代碼： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 氣體 微小 顆粒 分析 方法 儀器 | ||
【權利要求書】：
1.一種氣體中微小顆粒物的分析方法，其特征是該方法按以下步驟實現：
——采用低相干光干涉儀原理對氣體中粒子進行數據采集；
——通過氣體流動實現氣體掃描，由于粒子的流速，只有在光束的相干體積內的粒子散射才會被檢測放大，成為一個粒子的有效計數，并且相干信號很強，提高了檢測的信噪比；
——通過分析記錄的每個粒子的干涉條紋包絡特性，精確計算出每個粒子的粒徑和速度參數，同時計算出每種粒子的數量。
2.一種如權利要求1所述的氣體中微小顆粒物分析方法的氣體中微小顆粒物分析儀器，包括寬帶光源、干涉儀、氣體掃描、空間濾波系統、光電檢測、差頻濾波放大電路和分析計算系統；其特征是采用低相干光干涉儀對氣體中粒子進行掃描，通過分析采集的每個粒子的干涉條紋包絡特性，精確計算出粒子的特征參數。
3.根據權利要求1所述的氣體中微小顆粒物的分析方法，其特征是所述的低相干光干涉儀可以是開放式干涉儀，也可以是光纖式干涉儀。
4.根據權利要求1所述的氣體中微小顆粒物的分析方法，其特征是所述的低相干光源是相干長度小于5mm的光源。
5.根據權利要求1所述的氣體中微小顆粒物的分析方法，其特征是所述的通過氣體流動可以是通過動力源使氣體流動也可以是對已經流動的氣體直接進行檢測。
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