[發(fā)明專利]一種短波長(zhǎng)光輔助硅片直接鍵合方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200810047324.5 | 申請(qǐng)日: | 2008-04-11 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101261931A | 公開(kāi)(公告)日: | 2008-09-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 史鐵林;廖廣蘭;馬滄海;湯自榮;聶磊;林曉輝 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華中科技大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L21/00 | 分類號(hào): | H01L21/00;H01L21/02;H01L21/18;H01L21/20;H01L21/762;H01L21/84 |
| 代理公司: | 華中科技大學(xué)專利中心 | 代理人: | 曹葆青 |
| 地址: | 430074湖北*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 波長(zhǎng) 輔助 硅片 直接 方法 | ||
1.一種短波長(zhǎng)輔助低溫硅片直接鍵合方法,其步驟包括:
(1)將待鍵合的硅片進(jìn)行清洗;
(2)將清洗后的硅片進(jìn)行氧化性氨溶液活化,活化后取出;
(3)將氧化性氨溶液活化后的硅片用短波長(zhǎng)光繼續(xù)輔助活化,活化后取出;
(4)將短波長(zhǎng)光輔助活化后的硅片甩干,快速貼合,使之預(yù)鍵合;
(5)進(jìn)行加熱退火,使貼合后的硅片鍵合。
2、根據(jù)權(quán)利要求1所述的短波長(zhǎng)光輔助硅片直接鍵合方法,其特征在于:步驟(3)中,短波長(zhǎng)光的波長(zhǎng)范圍為100~400nm,短波長(zhǎng)光照射光強(qiáng)為5~30mW/cm2,活化時(shí)間為0.5~30分鐘。
3、根據(jù)權(quán)利要求1所述的短波長(zhǎng)光輔助硅片直接鍵合方法,其特征在于:步驟(2)中,活化時(shí)所采用的氧化性氨溶液為氨水、雙氧水和去離子水的混合溶液,各組分質(zhì)量比NH4OH∶H2O∶H2O2=0.7~2.1∶13~37∶1。
4、根據(jù)權(quán)利要求1所述的短波長(zhǎng)光輔助硅片直接鍵合方法,其特征在于:步驟(1)中,
(1.1)使用丙酮將待鍵合的硅片超聲清洗3~20分鐘;
(1.2)再使用氫氟酸溶液超聲清洗3~10分鐘,氫氟酸溶液質(zhì)量百分比為1%~20%;
(1.3)然后在硫酸與雙氧水混合溶液中清冼,H2SO4、H2O與H2O2的質(zhì)量比為H2SO4∶H2O∶H2O2=5.5~22∶2.4~2.8∶1。
5、根據(jù)權(quán)利要求1所述的短波長(zhǎng)光輔助硅片直接鍵合方法,其特征在于:步驟(5)中,退火溫度100~400℃,退火時(shí)間5~30小時(shí)。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





