[發明專利]一種新型智能卡的檢測及設置方法

無效

• 申請號: 200810043708.X
• 申請日: 2008-08-13
• 公開（公告）號: CN101650393A
• 公開（公告）日: 2010-02-17
• 發明（設計）人: 楊輝峰;洪斌
• 申請（專利權）人: 上海長豐智能卡有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 上海天翔知識產權代理有限公司
• 代理人: 朱妙春

技術領域：

本發明涉及一種微電子半導體檢測方法，特別涉及一種智能卡的檢測以及進行各種設置的方法。

背景技術：

隨著集成電路封裝技術的不斷進步，集成電路的集成度日益提高，功能越來越豐富。對于不斷出現的新應用需求，要求集成電路封裝企業能設計出新型的測試方法來配合新的需求。在智能卡封裝領域，尤其是智能卡的使用量非常大，但是目前都使用傳統工藝進行測試及手機個性化設置的方法，其主要通過將整張PVC卡基放入設備進行測試及個性化設置，這種方式每次只能放入一張卡進行測試及個人化，效率較低、成本較高。

目前，傳統的智能卡的測試方法只能進行單張智能卡測試及個性化設置方法，其存在可靠性低、效率低、測試成本高、設備資金投入量大、設備專用性強等缺點。因此，對于智能卡的新型測試方法的開發迫在眉睫。

目前，集成電路封裝業界已有的智能卡測試及個人化方法，其測試方法還存在成本偏高、通用性差、過于單一的缺點；而對于新型智能卡的測試方法，它要求批量化、通用性強，目前在國際上都是空白的。

發明內容：

本發明針對上述現有智能卡檢測以及個性設置方法所存在的不足，而提供一種可靠性高、效率高、成本低的智能卡的檢測和設置方法。

為了達到上述目的，本發明所采用的技術方案，

一種新型智能卡的檢測及設置方法，該方法主要包括以下步驟：

(1)將待檢測的智能卡置于托盤上；

(2)將安置有智能卡的托盤放入檢測系統中，該系統通過數控感應，確認托盤中的智能卡的安置方向是否都擺放正確；若沒有，轉到步驟(3)；若擺放正確，轉到步驟(4)；

(3)系統報警，提醒操作人員智能卡安置方向發生錯誤，待操作人員糾正方向后，系統再次進行檢測；

(4)確認托盤中的智能卡方向擺放正確后，使用連有數控設備的檢測板對全部智能卡進行性能測試，判斷托盤中的智能卡性能是否都正常；若有智能卡不正常，轉入步驟(5)；若都正常，轉入步驟(6)；

(5)系統對不良智能卡打上不良品標記，再轉入步驟(6)；

(6)確認智能卡性能正常之后，對正常智能卡輸入個性化設置程序，進行各種設置得到成品智能卡；

(7)將成品智能卡與不良品智能卡分開放置，并對成品智能卡進行包裝和數量統計。

所述步驟(2)的方向判斷是先通過系統中的感應器判斷整個托盤擺放方向是否正確，再判斷托盤中每個智能卡的擺放方向是否正確。

所述智能卡的擺放方向為智能卡含有芯片的表面朝上，且按照同一方向放置。

所述步驟(4)中性能測試是通過連有數控設備的檢測板來測試智能卡的電性能和信號反饋。

上述托盤上設有容納智能卡的安置槽，該安置槽以陣列的方式排列在托盤上。

上述檢測板上設有與托盤上安置槽位置相對應的檢測區，每個檢測區上設有檢測壓針，且檢測壓針的個數和位置與智能卡上需檢測區域相對應。

根據上述技術方案得到的本發明摒棄了傳統的智能卡的測試方法只能進行單張智能卡測試及個性化設置方法，避免了該方法所存在的各種缺陷，本測試和設置方法成本低、通用性強、且能夠批量化，大大的加快了智能卡的檢測效率，同時大大提高各種智能卡的成品率，測試完成之后的智能卡可廣泛應用于不同領域的需求，如手機中的SIM卡、UIM卡、SD卡、Micro?SD卡和TD卡等，也可以用于其他移動通信產品，如無線網卡、無線基站、公用電話等產品中，具有更好的應用前景。

附圖說明：

以下結合附圖和具體實施方式來進一步說明本發明。

圖1為本發明的流程圖。

圖2為托盤的示意圖。

圖3為檢測板的示意圖。

圖4為測試狀態圖。

具體實施方式：

為了使本發明實現的技術手段、創作特征、達成目的與功效易于明白了解，下面結合具體圖示，進一步闡述本發明。

傳統的智能卡的測試方法只能進行單張智能卡測試及個性化設置方法，其存在可靠性低、效率低、測試成本高、設備資金投入量大、設備專用性強等缺點。因此，為了這樣的問題，本發明采用了如圖1所示的技術方案。

該方案實施的過程中主要使用到如圖2和3所示的兩個部件：用于放置需要檢測的智能卡的托盤1和檢測智能卡的檢測板2。

如圖2所示，托盤1上設有容納智能卡的安置槽3，該安置槽以陣列的方式排列在托盤上，該圖上顯示的是6×10的陣列。