[發(fā)明專利]法珀干涉儀頻率穩(wěn)定性的測量方法和測量裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200810036103.8 | 申請日: | 2008-04-16 |
| 公開(公告)號: | CN101261179A | 公開(公告)日: | 2008-09-10 |
| 發(fā)明(設計)人: | 孫旭濤;劉繼橋;周軍;陳衛(wèi)標 | 申請(專利權)人: | 中國科學院上海光學精密機械研究所 |
| 主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02;G01M11/00;G01J9/00;G02F1/03 |
| 代理公司: | 上海新天專利代理有限公司 | 代理人: | 張澤純 |
| 地址: | 201800上*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 干涉儀 頻率 穩(wěn)定性 測量方法 測量 裝置 | ||
1、一種法珀干涉儀頻率穩(wěn)定性測量方法,其特征在于該方法是將一單頻激光頻率鎖定在待測的法珀干涉儀上,將另一單頻激光頻率鎖定在某一原子或分子的吸收譜線上,將該兩束激光進行拍頻,測量二者的頻差隨時間的變化,由于原子或分子吸收譜線的中心頻率是不變的,所以頻差變化完全是由待測法珀干涉儀的漂移引起的,由此測量法珀干涉儀的頻率穩(wěn)定性。
2、一種法珀干涉儀頻率穩(wěn)定性的測量裝置,其特征在于由第一激光器(1)、第一分束片(2)、電光相位調制器(3)、第一透鏡(4)、第二透鏡(5)、第一偏振分束片(6)、1/4波片(7)、電光相位調制器驅動源(9)、移相器(10)、混頻器(11)、第一高速光電二極管(12)、第二激光器(13)、第二分束片(14)、第三分束片(15)、氣體池(16)、第二高速光電二極管(17)、減法器(18)、第一1/2波片(19)、第二1/2波片(20)、第三高速光電二極管(21)、全反鏡(22)、第二偏振分束片(23)、第四高速光電二極管(24)、頻率計(25)、第一低通濾波器(26)、第一放大器(27)、第二低通濾波器(28)和第二放大器(29)組成,其位置關系是:
第一激光器(1)輸出的第一單頻激光光束通過第一分束片(2)被分為透射光束和反射光束,該透射光束通過電光相位調制器(3)被相位調制,然后經過與光束垂直放置的第一透鏡(4)、第二透鏡(5),實現與待測法珀干涉儀(8)模式匹配,經與光束成45°放置的第一偏振分束片(6)后完全透射,然后垂直入射到1/4波片(7)和待測法珀干涉儀(8),經待測法珀干涉儀(8)反射的光信號經過1/4波片(7)后,偏振方向發(fā)生旋轉,被第一偏振分束片(6)反射后入射到第一高速光電二極管(12),光信號轉化為電信號后進入混頻器(11),電光相位調制器驅動源(9)用來驅動電光相位調制器(3),其輸出信號的一部分用做本振信號,該本振信號經移相器(10)移相后進入混頻器(11)并與來自第一高速光電二極管(12)的電信號進行混頻,由此產生的電信號作為鑒頻信號,經第一低通濾波器(26)濾除高頻信號后的直流信號經第一放大器(27)放大后反饋到第一激光器(1),將第一激光器(1)的頻率鎖定在待測的法珀干涉儀(8)的共振頻率上;
第二激光器(13)輸出的第二單頻光束的光軸上依次是第二分束片(14)、第三分束片(15)、氣體池(16)和第二高速光電二極管(17),所述的第二分束片(14)將第二單頻光束分成透射光束和反射光束兩部分,該透射光束又被第三分束片(15)分為透射光束和反射光束兩部分,該反射光束入射到第三高速光電二極管(21),用做差分,消除光強變化帶來的影響,透射光束入射到氣體池(16),氣體池(16)的透射光強由第二高速光電二極管(17)探測,信號輸入到減法器(18),該電信號減去第三高速光電二極管(21)的電信號,產生鑒頻信號,經第二低通濾波器(28)低通濾波后的直流信號經第二放大器(29)放大后反饋到第二激光器(13)的壓電陶瓷將第二激光器(13)的頻率鎖定在氣體池(16)內的原子或分子對應的吸收譜線上;
第一1/2波片(19)用于調整第一分束片(2)反射的第一單頻激光的反射光束的偏振方向,全反鏡(22)將該光束反射到與該光束反射成45°的第二偏振分束片(23),并完全透過,第二1/2波片(20)用于調整第二分束片(14)反射的第二單頻激光束的反射光的偏振方向,使該光束被與該光束成45°放置的第二偏振分束片(23)完全反射,并與由全反鏡(22)的反射光束共線,垂直入射到第四高速光電二極管(24)上,產生拍頻信號,頻率計(25)用來探測該拍頻信號頻率變化,即為待測法珀干涉儀(8)的頻率變化,由此測得待測法珀干涉儀(8)的頻率穩(wěn)定性。
3、根據權利要求2所述的法珀干涉儀頻率穩(wěn)定性測量裝置,其特征在于所述的第一激光器(1)和第二激光器(13)均為單頻激光器,并且激光腔鏡上粘有壓電陶瓷,通過外加電壓于所述的壓電陶瓷調節(jié)激光頻率。
4、根據權利要求2所述的法珀干涉儀頻率穩(wěn)定性測量裝置,其特征在于所述的電光相位調制器(3)調制頻率應大于待測的法珀干涉儀的線寬。
5、根據權利要求2所述的法珀干涉儀頻率穩(wěn)定性測量裝置,其特征在于所述的第一分束片(2)、第二分束片(14)和第三分束片(15)均與光束成45°放置,透射光束與反射光束的強度比為1∶1。
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