[發明專利]一種用于指導兒童個性化教育培養基因芯片及其檢測套組和方法

無效

• 申請號: 200810034637.7
• 申請日: 2008-03-14
• 公開（公告）號: CN101532049A
• 公開（公告）日: 2009-09-16
• 發明（設計）人: 郜恒駿;吳彩云;盛海輝
• 申請（專利權）人: 上海芯超生物科技有限公司
• 主分類號: C12Q1/68
• 分類號: C12Q1/68
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1、一種檢測兒童個性化教育培養相關基因的各種基因型的基因 芯片，包括片基，多個檢測區域的微陣列排列的核苷酸片 段，連接于片基之上，其特征在于所述核苷酸片段，為一組 長度在11-2000個堿基的人工編碼寡核苷酸序列，每個序列由 支持片段和特異片斷組成。

2根據權利要求1所述的一種檢測兒童個性化教育培養相關基 因的各種基因型的基因芯片，其特征在于所述及的支持片段 為胸腺嘧啶的重復序列(poly?T)，長度為5-30個堿基，其 5’端與片基連接。

3、根據權利要求1所述的一種檢測兒童個性化教育培養相關基 因的各種基因型的基因芯片，其特征在于所述及的特異片段 至少包括序列號為SEQ?ID?NO.1至36的核苷酸序列或具有與 上述序列85％以上同源的連續核苷酸序列的人工編碼序列， 或者是具有上述特征的PCR產物，該特異片段的5’端的第一 個堿基與權利要求2所述的支持片段的3’端的最后一個堿基 相連。

4、根據權利要求1所述的一種檢測兒童個性化教育培養相關基 因的各種基因型的基因芯片，其特征在于所述及的片基包括 玻璃、硅芯片、陶瓷材料、金屬、聚二氟乙烯膜或醋酸纖維 膜等材料。

5、根據權利要求1所述的一種檢測兒童個性化教育培養相關基 因的各種基因型的基因芯片，其特征在于所述及的片基是經 過表面修飾的，修飾的手段包括醛基修飾、氨基修飾、特殊 標記物表面包被等化學及生物學表面處理。

6、根據權利要求1或2所述的一種檢測兒童個性化教育培養相 關基因的各種基因型的基因芯片，其特征在于所述及核苷酸 片段的5′端可帶有氨基修飾。

7、根據權利要求1所述的一種檢測兒童個性化教育培養相關基 因的各種基因型的基因芯片，其特征在于所述及的多個檢測 區域的微陣列，是12個或少于12個包含相同探針排列、但 彼此獨立的檢測區，每個檢測區里排列了15～100個探針 點，探針點直徑不大于5mm。

8、一種檢測兒童個性化教育培養相關基因的各種基因型的套組， 其特征在于包括：

(a)權利要求1—7中任一項所述的檢測兒童個性化教育培養 相關基因的各種基因型的基因芯片；

(b)PCR擴增液

(c)特異性引物，為一組部分序列的5′端帶有標記物修飾的寡 核苷酸片段；

(d)雜交溶液。

9、根據權利要求8所述的一種檢測兒童個性化教育培養相關基 因的各種基因型的套組，其特征在于所述及的特異性引物至 少包括序列號為SEQ?ID?NO.37至72的核苷酸序列或具有與 上述序列85％以上同源的連續核苷酸序列的人工編碼序列， 或者是具有上述特征的PCR產物。

10、根據權利要求8所述的一種檢測兒童個性化教育培養相關基因 的各種基因型的套組，其特征在于所述及的標記物為熒光基團 或其它化學發光基團。

11、一種檢測兒童個性化教育培養相關基因的各種基因型的方 法，包括：

(a)提供權利要求9、10所述的引物和PCR擴增液與待測樣 品進行以下反應，94℃預變性10分鐘；94℃變性30秒， 52℃退火30秒，72℃延伸1分鐘，循環30次；最后72 ℃延伸7分鐘。

(b)提供權利要求1-7任一項所述的檢測兒童個性化教育培 養相關基因的各種基因型的基因芯片與(a)項反應產物雜 交，雜交溫度為45℃；

(c)用掃描儀掃描芯片。

12、根據權利要求11所述的一種檢測兒童個性化教育培養相關基 因的各種基因型的方法，其特征在于所述及的待測樣品提純 于兒童的口腔粘膜或者靜脈血。

13、根據權利要求11所述的一種檢測兒童個性化教育培養相關基 因的各種基因型的方法，其特征在于該法可運用于與兒童的 性格、智商、運動、二手煙危害、近視易感性、肥胖易感性 等相關的個體基因型的輔助判斷。