[發(fā)明專利]一種實(shí)時(shí)電子電路的故障診斷參數(shù)識(shí)別方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200810030908.1 | 申請(qǐng)日: | 2008-03-25 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101251574A | 公開(kāi)(公告)日: | 2008-08-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 何怡剛;劉美容;黃立宏;劉慧 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 湖南大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 長(zhǎng)沙市融智專利事務(wù)所 | 代理人: | 顏昌偉 |
| 地址: | 410082湖*** | 國(guó)省代碼: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 實(shí)時(shí) 電子電路 故障診斷 參數(shù) 識(shí)別 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種電子電路的故障診斷方法,特別涉及一種實(shí)時(shí)電子電路的故障診斷參數(shù)識(shí)別方法。
背景技術(shù)
參數(shù)識(shí)別法是模擬電子電路故障診斷一種重要方法,一般地是通過(guò)求解電路方程從而求得元件參數(shù),由于電路的規(guī)模龐大,特別是模數(shù)混合集成電路和超大規(guī)模模擬集成電路,可測(cè)試節(jié)點(diǎn)少,因而獲得能求所有參數(shù)的電路方程非常困難,且這種方程一般為大規(guī)模非線性方程,往往求解費(fèi)時(shí)且所求得的解不一定與實(shí)際情況吻合。
發(fā)明內(nèi)容
為了解決現(xiàn)有電子電路故障診斷參數(shù)識(shí)別方法存在的上述技術(shù)問(wèn)題,本發(fā)明提供一種實(shí)時(shí)電子電路的故障診斷參數(shù)識(shí)別方法。本發(fā)明通過(guò)多次激勵(lì),獲得適當(dāng)而非充分的電路方程組,采用最優(yōu)化方法直接求得電路所有元件參數(shù)增量,從而完成參數(shù)識(shí)別,定位故障。
本發(fā)明解決上述的技術(shù)問(wèn)題的技術(shù)方案包括以下步驟:
a.將待測(cè)電子電路所有元件參數(shù)增量用等效電源替代;
b.測(cè)試在單個(gè)電流源激勵(lì)下可測(cè)節(jié)點(diǎn)電壓對(duì)可測(cè)節(jié)點(diǎn)電流激勵(lì)間的阻抗矩陣Zmm(m×m維矩陣),可測(cè)節(jié)點(diǎn)電壓對(duì)等效電源的混合矩陣Hm(m×n維矩陣);
c.測(cè)量并計(jì)算待測(cè)電路與正常標(biāo)稱電路可測(cè)試節(jié)點(diǎn)電壓差值,建立電路測(cè)試與診斷特征方程;
d.重復(fù)步驟a~c,獲得多個(gè)電流源激勵(lì)下電子電路的測(cè)試與診斷特征方程;
e.將元件參數(shù)增量與節(jié)點(diǎn)電壓增量作為優(yōu)化變量應(yīng)用最優(yōu)化理論將相對(duì)參數(shù)增量絕對(duì)值與相對(duì)電壓增量的實(shí)部絕對(duì)值、相對(duì)電壓增量的虛部絕對(duì)值之和最小定義為約束目標(biāo)函數(shù),將電路測(cè)試與診斷特征方程作為優(yōu)化約束方程從而建立參數(shù)識(shí)別方程;
f.應(yīng)用基于增廣Lagrange乘子法神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)求解參數(shù)識(shí)別方程,神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的輸出即為元件參數(shù)增量,根據(jù)元件參數(shù)的容差范圍完成故障識(shí)別。
本發(fā)明的技術(shù)效果在于:(1)由于Lagrange乘子λR、λI自動(dòng)更新將加速神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)狀態(tài)向平衡點(diǎn)接近的進(jìn)程,使神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的收斂時(shí)間縮短;(2)由于Lagrange乘子λR、λI的作用,使得含有較大罰參數(shù)K的微分方程(6)式的剛性減弱;(3)由于Lagrange乘子λR、λI的自適應(yīng)控制作用,使得神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的初始狀態(tài)設(shè)置比較自由;(4)由于Lagrange乘子λR、λI的作用及規(guī)則化參數(shù)α的引入,使得神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的收斂特性得到改進(jìn)。本發(fā)明方法具有實(shí)時(shí)性、定位準(zhǔn)確率高的優(yōu)點(diǎn),適用于現(xiàn)代工業(yè)快速診斷場(chǎng)合。
下面結(jié)合附圖及實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的說(shuō)明。
附圖說(shuō)明
圖1為本發(fā)明的計(jì)算元件參數(shù)增量的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模擬框圖。
圖2為本發(fā)明的計(jì)算求解優(yōu)化問(wèn)題的跨導(dǎo)電容神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(圖中標(biāo)有G的表示Gilbert跨導(dǎo)乘法器)。
圖3為本發(fā)明求解電阻電路故障診斷最小絕對(duì)值和優(yōu)化問(wèn)題的神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模擬框圖。
圖4為本發(fā)明圖3所示神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的跨導(dǎo)實(shí)現(xiàn)(圖中標(biāo)有G的表示Gilbert跨導(dǎo)乘法器)。
圖5為本發(fā)明應(yīng)用示例晶體管放大器電路。
圖6為本發(fā)明應(yīng)用示例晶體管放大器等效電路。
具體實(shí)施方式
下面詳細(xì)說(shuō)明本發(fā)明的各步驟。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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