[發明專利]一種電子元器件自動測試轉盤

無效

• 申請號: 200810029866.X
• 申請日: 2008-07-30
• 公開（公告）號: CN101504427A
• 公開（公告）日: 2009-08-12
• 發明（設計）人: 吳啟權;曹勇祥
• 申請（專利權）人: 珠海市運泰利自動化設備有限公司
• 主分類號: G01R1/02
• 分類號: G01R1/02;G01R31/01
• 代理公司: 廣州市紅荔專利代理有限公司
• 代理人: 李彥孚

技術領域

本發明涉及一種電子元器件自動測試轉盤。

背景技術

隨著社會的發展，科技的進步，現代工業技術更是顯現出了勢不可擋的發展勢頭，特別是電子行業，電子產品在生活和工作上的運用日益廣泛，需求量越來越大，為應對產品的高需要量，在保證產品質量的同時必須加快提高產品的生產速率，以滿足廣大客戶的使用需求，為保證產品的質量，所生產出來的電子元器件必須通過一道測試程序，把不合格產品濾去，此測試過程為產品質量把關，因此是重要環節，但如果測試花去太多時間，就會影響效率，加長了生產周期，要提高生產速率就必須提高產品生產和產品測試過程的自動化和智能化程度，而在現有技術中，對電子元器件自動測試的效率難于滿足要求，現有技術多是采用“點對點”的測試方式，即是將一個生產出來的產品放在指定的測試點進行測試，測試完畢之后將其取出，再放另一個產品到該測試點進行測試，這種測試方式速度慢，測試時間長，嚴重拖慢了生產節奏，不利于縮短產品的生產周期，因此，電子元器件的測試技術需要有新的突破。很多生產廠商也為此不斷嘗試開發新技術，試圖解決此問題，從而提高其經濟效益。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是克服現有技術的不足，提供一種能夠有效提高對電子元器件的測試速率和縮短電子元器件生產周期的電子元器件自動測試轉盤。

本發明所采用的技術方案是：本發明包括轉盤體、傳動軸、電機，所述轉盤體的中心部位設置有軸孔，四周設置有至少二個測試夾具，所述測試夾具的上下方對應位置設置有上測試位、下測試位，所述上測試位與下測試位視為一組測試位，根據需要可以在其他測試夾具的對應位置設置多組測試位，使得多組測試位對電子產品進行不同的測試，亦可以按要求關閉其中的某組或某幾組測試位；所述傳動軸的上軸端與所述轉盤體的軸孔固定配合，所述傳動軸的下軸端與所述電機的輸出軸固定配合，由所述電機控制所述轉盤體的轉動，使裝夾在所述測試夾具的產品定在所需位置，接受所述上測試位與所述下測試位的測試；

本發明還包括上軸承、軸筒、下軸承、墊圈，所述上軸承、所述下軸承及所述墊圈依次與所述傳動軸配合并置于所述軸筒的內部，本發明的底部還設置有支撐裝置，所述支撐裝置包括支撐板和支腳，所述軸筒與所述支撐板的上端面相配合，所述支撐板的下端面與所述支腳的上端面相配合，所述支腳固定于工作臺上。

本發明的有益效果是：本發明中的電機控制轉盤體作圓周動作，測試位可對放置在測試夾具的產品進行不間斷測試，從而在保證測試質量的前提下有效提高了測試速度、優化生產節奏、縮短生產周期。因此，本發明解決了技術問題，達到技術目的。

附圖說明

圖1是本發明的爆炸示意圖；

圖2是本發明的裝配示意圖；

圖3是本發明在自動測試裝置中的位置示意圖；

具體實施方式

如圖1～3所示，本發明包括轉盤體2、傳動軸3、電機9，所述轉盤體2的中心部位設置有軸孔10，四周設置有至少二個測試夾具1，所述測試夾具1的上下方對應位置設置有上測試位13、下測試位12，所述上測試位13與下測試位12視為一組測試位，根據需要可以在其他測試夾具的對應位置設置多組測試位，使得多組測試位可以同時對電子產品進行不同的測試，亦可以按要求關閉其中的某組或某幾組測試位；所述傳動軸3的上軸端與所述轉盤體2的軸孔10固定配合，所述傳動軸3的下軸端與所述電機9的輸出軸固定配合，由所述電機9控制所述轉盤體2的轉動，使裝夾在所述測試夾具1的產品定在所需位置，接受所述上測試位13與所述下測試位12的測試；

本發明還包括上軸承4、軸筒5、下軸承6、墊圈7，所述上軸承4、所述下軸承6及所述墊圈7依次與所述傳動軸3配合并置于所述軸筒5的內部，本發明的底部還設置有支撐裝置，所述支撐裝置包括支撐板8和支腳11，所述軸筒5與所述支撐板8的上端面相配合，所述支撐板8的下端面與所述支腳11的上端面相配合，所述支腳11固定于工作臺上。本發明可廣泛應用于電子元器件測試領域。