[發(fā)明專利]利用模擬信號進行裝置中掃描鏈測試的系統(tǒng)與方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200810003111.2
• 申請日: 2008-01-10
• 公開（公告）號: CN101201389A
• 公開（公告）日: 2008-06-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 余大偉
• 申請（專利權(quán)）人: 威盛電子股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R31/317;G01R31/3183
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務(wù)所
• 代理人: 錢大勇

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明是關(guān)于一種集成電路測試的系統(tǒng)與方法，且特別是關(guān)于一種利用模擬信號進行掃描鏈測試(Scan?chain?testing)的系統(tǒng)與方法。

背景技術(shù)

一直以來，利用多掃描鏈進行板級測試的方法很流行，因為此方法提供了高度的可測試性。通過提供對集成電路的低層訪問，可以更加高效率地執(zhí)行測試，導(dǎo)致極大地節(jié)約成本。例如，使用多掃描鏈執(zhí)行的一種常見測試就是監(jiān)控給定印刷電路板(PCB)的集成電路上的觸發(fā)器。相對過去一直使用的傳統(tǒng)“針床式在線測試”(bed?of?nail?fixtures)而言，使用多掃描鏈的一個主要優(yōu)點是節(jié)約空間。傳統(tǒng)的“針床式在線測試”中多個測試探頭(test?probes)被物理的安插在給定PCB的各個測試點。可以理解的是，假定某個特定的PCB的空間是有限的，那么測試探頭的數(shù)量肯定也是有限的。掃描鏈測試可以解決以下幾個問題。首先，掃描鏈測試為包含數(shù)百萬個門電路的大規(guī)模集成電路提供測試，并確保通過諸如故障切換的測試方法使得信號可以正確切換。這種測試方法確保以一定程度的確定性來完成集成電路的正確制造。此外，掃描鏈測試提供了測試電路板上集成電路間的互連關(guān)系的手段。集成在裝置中的掃描鏈可以從接腳或者核心邏輯信號中捕獲數(shù)據(jù)。或者，也可以將測試數(shù)據(jù)輸入到接腳中以測試特定的邏輯模塊。然后，將上述捕獲的數(shù)據(jù)逐次移出，并進行檢查以確定被測試邏輯模塊的特性和參數(shù)。因此，可以將包含預(yù)定義測試模式的輸入數(shù)據(jù)逐次移至集成的掃描鏈元件中。總之，使用掃描鏈測試可以縮短測試時間，提高測試覆蓋率和增強診斷能力。然而，對于焊盤有限的高容量半導(dǎo)體芯片，越來越難以實現(xiàn)因為通過對數(shù)字信號的傳統(tǒng)使用來傳輸信號進出芯片需要大量的輸入和輸出而必需的大量的掃描鏈。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明揭露了利用模擬信號進行裝置中掃描鏈測試的系統(tǒng)與方法。本發(fā)明的一個實施例是揭露一種方法，利用模擬信號對裝置進行掃描鏈測試，包括：從測試模塊傳送多個數(shù)字輸入信號至信號分解器，該信號分解器用于將該多個數(shù)字輸入信號劃分成與該多個數(shù)字輸入信號中每一個對應(yīng)的多個位；傳送該多個位至數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器，該數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器用于產(chǎn)生模擬輸入信號；傳送該模擬輸入信號至該受測試裝置的模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器，以獲得與該多個數(shù)字輸入信號中每一個對應(yīng)的多個位；傳送該多個位至該受測試裝置的多個掃描鏈作為輸入；以及利用該多個位通過該多個掃描鏈測試該受測試裝置。

本發(fā)明的另一個實施例是揭露一種方法，利用模擬信號對裝置進行掃描鏈測試，包括：從掃描鏈傳送多個數(shù)字信號至位于該裝置中的數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器，以產(chǎn)生模擬輸出信號；轉(zhuǎn)發(fā)該模擬輸出信號至位于該裝置的外部的模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器，以并行方式得到原始數(shù)字信號；以并行方式發(fā)送該多個數(shù)字信號至信號合成器，該信號合成器用于將所述多個數(shù)字信號合并成串行的位流；以及發(fā)送該位流至測試單元進行分析。

本發(fā)明的再一個實施例是揭露一種方法，利用模擬信號對裝置進行掃描鏈測試，包括：產(chǎn)生要被發(fā)送到受測試裝置的數(shù)字測試模式；轉(zhuǎn)換該數(shù)字測試模式為模擬輸入信號；轉(zhuǎn)發(fā)該模擬輸入信號至該受測試裝置；利用該模擬輸入信號進行該受測試裝置的掃描鏈測試，并生成模擬輸出信號；轉(zhuǎn)發(fā)該模擬輸出信號至該受測試裝置；轉(zhuǎn)換該模擬輸出信號為數(shù)字輸出信號；以及評估該數(shù)字輸出信號。

本發(fā)明還提供一種系統(tǒng)，利用模擬信號對裝置進行掃描鏈測試，該系統(tǒng)包括：測試模塊，用于生成多個數(shù)字輸入信號和接收多個數(shù)字輸出信號；第一數(shù)字至模擬轉(zhuǎn)換器，用于將該數(shù)字輸入信號轉(zhuǎn)換為模擬輸入信號；第一模擬至數(shù)字轉(zhuǎn)換器，用于接收該模擬輸入信號和得到與該數(shù)字輸入信號相關(guān)的多個單獨位；以及多個掃描鏈，用于接收用于測試該受測試裝置的該多個單獨位，該多個掃描鏈進一步用于生成該數(shù)字輸出信號。

本發(fā)明所述方法使得在給定裝置中執(zhí)行掃描鏈測試所需的硬件數(shù)量大大減少，同時仍保持同樣水平的測試容量。對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員而言，其他未包含在本發(fā)明下述所揭露的內(nèi)容與圖示中的系統(tǒng)、方法、特征或者優(yōu)勢為顯而易見的，因此凡其他未脫離本發(fā)明所揭示之精神下所完成之等效改變或修飾，均應(yīng)包含在本發(fā)明之權(quán)利要求范圍內(nèi)。

附圖說明

本發(fā)明的一些實施例會詳細(xì)描述如下。然而，除了詳細(xì)描述外，本發(fā)明還可以廣泛地在其他的實施例中施行，且本發(fā)明的范圍不受限定，其以權(quán)利要求的范圍為準(zhǔn)。再者，在本說明書中，各元件的不同部分并沒有依照尺寸繪圖。某些尺度與其他相關(guān)尺度相比已經(jīng)被夸張，以提供更清楚的描述宜對發(fā)明的理解。另外，附圖中以相同的應(yīng)用數(shù)字指代相應(yīng)的部分。

圖1A繪示了根據(jù)本發(fā)明示范性實施例的掃描鏈結(jié)構(gòu)的框圖；