[實用新型]一種TFT LCD測試設備的探針結構

有效

• 申請號: 200720170302.9
• 申請日: 2007-08-21
• 公開（公告）號: CN201069498Y
• 公開（公告）日: 2008-06-04
• 發明（設計）人: 肖光輝;于洪俊
• 申請（專利權）人: 北京京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G02F1/1362;G01R1/067
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司
• 代理人: 劉芳

技術領域

本實用新型涉及薄膜晶體管液晶顯示器(TFT?LCD)測試設備，尤其涉及TFT?LCD測試設備的探針結構。

背景技術

在對TFT?LCD的電學性能進行檢測的過程中，測試效率和耗材的使用尤為重要。測試效率的提高一方面提高了設備的使用率；另一方面給競爭贏得了時間。耗材的合理使用一方面保證測試數據的真實可靠；另一方面可以節約成本。在對TFT電學特性進行檢測時，需要輸入電學信號，就目前所使用的設備，需要借助一種導電介質，通過導電介質這個橋梁將所需測試點與設備探針連接，從而達到信號輸入的目的。所以在測試之前必須做好準備工作。這些準備工作包括導電介質的調制，涂抹及與設備探針連接的精度等問題。需要涉及到的因素有：導電介質的選用、導電介質的均勻性以及導電介質與設備探針之間的接觸效果和使用探針的方便程度。這些準備工作不僅耗時長，而且往往由于外界因素的干擾，使得準備工作所得到的效果不一樣，從而對測試結果有一定的影響。

圖1所示是TFT?LCD陣列基板。如圖1所示，該陣列基板包括面板陣列1，形成在面板陣列外圍的數據線綁定部2(Data?Pad)和柵線綁定部3(GatePad)。圖2所示是現有技術測試設備的探針結構在對面板進行檢測時的示意圖。如圖2所示，測試開始前首先要花一定的時間將一種叫做導電銀膠的導電介質調勻，在調制結束后，將導電銀膠4涂抹到數據線綁定部2(或柵線綁定部)上，然后等待一段時間，待其凝固后，將測試設備的探針5的頂端按壓在導電銀膠4上。由于探針5同檢測設備的同軸電纜6連接，檢測設備通過同軸電纜6將輸入信號傳送到面板上，從而完成檢測。

上述可見，檢測時首先要花一定的時間將導電銀膠調勻，涂抹到柵線或數據線的綁定部上后，還必須等待相當一段時間，待其凝固以后才可以使用，這些無疑造成了時間上的浪費。另外這種導電銀膠在過一段時間以后其成份會發生變化，其導電性能將發生變化，必然會影響測試信號的輸入。再者，這些前期的準備工作與設備使用是沒有關聯的，所以在準備工作進行的同時，設備是處于閑置狀態，這樣無疑降低了設備的使用效率。此外，由于現設備探針無法很好的與同軸電纜保持固定，在將探針按壓的過程中，探針難免會轉動偏移，從而需要一定的時間來保證連接的準確性，在某種意義上又降低了設備的使用效率。且由于探針的這種不固定性，導致在操作上的不便利性。

實用新型內容

本實用新型的目的是針對現有技術的缺陷，提供一種TFT?LCD測試設備的探針結構，在不影響測試結果的前提下，通過對測試設備的探針結構進行變更，達到檢測時不使用耗材，提高檢測的便利性和檢測設備的使用效率的目的。

為了實現上述目的，本實用新型提供一種TFT?LCD測試設備的探針結構，包括：探針本體，與探針本體連接的同軸電纜，其中在所述探針本體的末端連接有接觸頭。

上述方案中，所述接觸頭的材料與所述探針本體的材料可以相同或不同，優選相同。所述探針本體與同軸電纜之間的連接可以為固定連接或活動連接，優選固定連接。所述接觸頭為圓形、長方形或正方形等形狀，且面積小于等于被測試的柵線綁定部或數據線綁定部的面積的1/3，優選1/3。

與現有技術相比，本實用新型由于不再使用昂貴的導電介質，成本節約得以實現，且由于導電介質的局限性而造成的時間上的浪費也將消除，極大地提高了設備的使用效率，且為日益激烈的競爭贏得了保障。而且本實用新型由于從根本上對探針的結構進行了改進，在保證信號輸入效果不變的前提下，極大地提高了探針的操控性；同時也保證了接觸精度問題，從而提高了設備的使用效率。

附圖說明

圖1是TFT?LCD陣列基板；

圖2是現有技術測試設備的探針結構在對面板進行檢測時的示意圖

圖3是采用本實用新型具體實施例1測試設備的探針結構對面板進行檢測時的示意圖；

圖4是本實用新型具體實施例2測試設備的探針結構；

圖5是本實用新型具體實施例3測試設備的探針結構。

圖中標識：1、面板陣列；2、數據線綁定部；3、柵線綁定部；4、導電銀膠；5、探針；6、同軸電纜；7、圓形的接觸頭；8、長方形的接觸頭；9、正方形的接觸頭。

具體實施方式

下面結合附圖說明和首選具體實施例，對本實用新型進行進一步詳細地說明。

本實用新型提供的TFT?LCD測試設備的探針結構，通過對探針的端部結構探頭進行重新設計，將探頭與被測試設備接觸部位面積增大，從而提高測試效率和設備的使用率，并能避免耗材的使用，節約成本。