[實(shí)用新型]具光罩裝置的物件檢測(cè)機(jī)無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200720129523.1 | 申請(qǐng)日: | 2007-08-09 |
| 公開(公告)號(hào): | CN201094005Y | 公開(公告)日: | 2008-07-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊明瞭 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 德宏恩企業(yè)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01B11/00 | 分類號(hào): | G01B11/00 |
| 代理公司: | 廈門市新華專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人: | 朱凌 |
| 地址: | 臺(tái)灣省高雄縣*** | 國(guó)省代碼: | 中國(guó)臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具光罩 裝置 物件 檢測(cè) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種檢測(cè)機(jī)設(shè)計(jì),特別是一種具光罩裝置的物件檢測(cè)機(jī)。
背景技術(shù)
參閱圖1、圖2,為中國(guó)臺(tái)灣第I254471號(hào)『具可動(dòng)式光源之元件檢測(cè)機(jī)構(gòu)』專利案,其包含有一檢測(cè)平臺(tái)1,一設(shè)置于該檢測(cè)平臺(tái)1一側(cè)的固定軌13,一設(shè)于該檢測(cè)平臺(tái)1上方的可動(dòng)式光源模組14,以及一設(shè)于該固定軌13上且位于該可動(dòng)式光源模組14上方的影像擷取單元15;其中,該檢測(cè)平臺(tái)1設(shè)有一輸送待測(cè)元件2的輸送軌道11,以及一受該驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)驅(qū)動(dòng)的轉(zhuǎn)盤12,該轉(zhuǎn)盤12可轉(zhuǎn)動(dòng)且承載該待測(cè)元件2;另,該可動(dòng)式光源模組14設(shè)有一內(nèi)部空間141、一環(huán)型光源142、一上開口143及一下開口144,而前述該可動(dòng)式光源模組14可沿該固定軌13相對(duì)該檢測(cè)平臺(tái)1進(jìn)行縱向往復(fù)式移動(dòng),同時(shí)該環(huán)型光源142環(huán)設(shè)于該內(nèi)部空間141內(nèi),以提供一可動(dòng)式光源投射至該檢測(cè)平臺(tái)1的待測(cè)元件2,并且該待測(cè)元件2表面反射的光線經(jīng)由該影像擷取單元15擷取,以進(jìn)行元件檢測(cè)。
參閱圖2,實(shí)際使用時(shí),該待測(cè)元件2借由所述輸送軌道11輸送,以及該轉(zhuǎn)盤12轉(zhuǎn)動(dòng)而將每一個(gè)待測(cè)元件2依序轉(zhuǎn)至該可動(dòng)式光源模組14下方,此時(shí)該可動(dòng)式光源模組14向下移動(dòng),以將該待測(cè)元件2完全蓋覆,并借由該環(huán)型光源142以提供一可動(dòng)式光源投射至該待測(cè)元件2,并且該待測(cè)元件2表面反射的光線經(jīng)由該影像擷取單元15擷取,以利后續(xù)的分選集收作業(yè)。
然而,實(shí)際使用后發(fā)現(xiàn),該螺絲檢測(cè)機(jī)1仍有未臻完善之處,茲詳述如下:
1.該影像擷取單元15擷取檢測(cè)每一物件影像時(shí),該可動(dòng)式光源模組14就必須向下移動(dòng),且將該待測(cè)元件2覆蓋后,以利該影像擷取單元15擷取影像,之后,該可動(dòng)式光源模組14向上移動(dòng),以利下一待測(cè)元件2進(jìn)行檢測(cè),如此周而復(fù)始,將影響檢測(cè)速度進(jìn)行。
2.由于該可動(dòng)式光源模組14的內(nèi)部空間141呈弧形設(shè)計(jì),因此固設(shè)于上的環(huán)型光源142所照射的光線呈散射狀態(tài),無(wú)法集中光線于同一位置,即使借由現(xiàn)行調(diào)整而將該光線集中于一處,但隨著不同尺寸的待測(cè)元件2,將使該環(huán)形光源142即因?qū)箚栴}而無(wú)法適用,故使用上有其不便之處,再加上該可動(dòng)式光源模組14呈上下移動(dòng)方式進(jìn)行,將使對(duì)焦調(diào)整作業(yè)更加困難,導(dǎo)致該環(huán)型光源142無(wú)法提供足夠光線照射,造成檢測(cè)待測(cè)元件2無(wú)法清楚顯現(xiàn),影響該影像擷取單元15所擷取的影像,不利后續(xù)的影像判別作業(yè)進(jìn)行,易產(chǎn)生檢測(cè)的誤差。
當(dāng)然,部份人士可能采用增加該環(huán)形光源142所設(shè)的數(shù)量,期以彌補(bǔ)光線聚光的不足,但是如此易導(dǎo)致電力消耗增加,增加檢測(cè)成本外,并且增加該環(huán)型光源142可達(dá)到的效果,亦非完全改善的保證。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于提供一種具光罩裝置的物件檢測(cè)機(jī),其主要提供均勻且集中的光源,以便快速、清楚地?cái)X取影像進(jìn)行檢測(cè)。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型的技術(shù)解決方案是:
一種具光罩裝置的物件檢測(cè)機(jī),其包含有一將物件整列輸出的整列裝置,一承接該輸出物件的檢測(cè)盤,一設(shè)于該檢測(cè)盤旁且擷取該物件影像的攝影機(jī),一與該攝影機(jī)連結(jié)且將擷取的影像進(jìn)行分析的運(yùn)算裝置,以及一將該運(yùn)算裝置分析的物件進(jìn)行分選集收的退料裝置;該攝影機(jī)與檢測(cè)盤間增設(shè)有一光罩裝置,該光罩裝置包括有一中空蓋體,以及復(fù)數(shù)設(shè)于該中空蓋體上的光源;其中,該中空蓋體具有一內(nèi)周壁,該內(nèi)周壁由復(fù)數(shù)不同斜率的環(huán)形平面銜接而成,且該每一不同斜率的環(huán)形平面可供復(fù)數(shù)光源設(shè)置,以形成不同角度照明,同時(shí)該中空蓋體上開設(shè)有一相對(duì)該攝影機(jī)位置的開孔,以利該攝影機(jī)在復(fù)數(shù)光源輔助下透過該開孔擷取影像。
所述位于每一環(huán)形平面上的復(fù)數(shù)光源均向外連接于一可控制不同環(huán)形平面上的光源啟閉的控制器上。
采用上述方案后,將本實(shí)用新型與現(xiàn)有產(chǎn)品作一比較,當(dāng)可得知本實(shí)用新型確實(shí)具有以下所列的優(yōu)點(diǎn)與功效:
1.因該中空蓋體為一固設(shè)在檢測(cè)盤上方,無(wú)需反復(fù)上下移動(dòng)遮蓋受測(cè)物件,使受測(cè)物件可快速通過該中空蓋體下方,且讓攝影機(jī)快速地?cái)X取所需畫面,以供后續(xù)檢測(cè)作業(yè)進(jìn)行。
2.鑒于該中空蓋體系呈固定設(shè)置,再輔以該復(fù)數(shù)光源設(shè)置于不同斜率的環(huán)形平面上,故能調(diào)控該光源對(duì)焦,且光線充足、均勻地照射在受測(cè)物件上,使該物件整體影像輪廓更清晰完整呈現(xiàn),以利該攝影機(jī)可以順利擷取影像。
3.該復(fù)數(shù)光源可適時(shí)連接于該控制器上,且借該控制器調(diào)控該每一環(huán)形平面上的復(fù)數(shù)光源,因此可依不同物件檢測(cè)部位可調(diào)整該復(fù)數(shù)光源的光線照射,所以該復(fù)數(shù)光源毋需全數(shù)開啟,可有效降低用電量,節(jié)省不必要的浪費(fèi)。
附圖說明
圖1是現(xiàn)有物件檢測(cè)機(jī)的示意圖;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于德宏恩企業(yè)股份有限公司,未經(jīng)德宏恩企業(yè)股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200720129523.1/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:多火口節(jié)能爐灶
- 下一篇:逆流色譜儀平衡配重裝置
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





