[實用新型]一種LRC測試儀的通道擴展裝置

無效

• 申請號: 200720124313.3
• 申請日: 2007-05-23
• 公開（公告）號: CN201035055Y
• 公開（公告）日: 2008-03-12
• 發明（設計）人: 曾浩;劉玲;李正周;陳世勇;邱晶
• 申請（專利權）人: 重慶大學
• 主分類號: G01R13/00
• 分類號: G01R13/00
• 代理公司: 重慶博凱知識產權代理有限公司
• 代理人: 袁慶民

技術領域

本實用新型涉及LRC測試儀及其測量技術。

背景技術

LRC測試儀是用于測量電容、電阻、電感元件的相應物理參數的儀器。與常用的萬用表相比較，LRC測試儀不但測量精度更高，而且可以測量元件的多種參數，比如阻抗、品質因素等等。然而，由于現有的LRC測試儀僅僅只有一對測試頭，因此，一次只能與一個元件的兩極連接，也即一次只能測量一個元件的參數。而在工業生產過程中，很多時候都需要一次對系統中的多個電容、電阻或者電感元件的物理參數進行測量，以監控這些元件的參數變化，從而判斷系統工作是否正常。在這種情況下，現有的一次只能測量一個元件參數的這種LRC測試儀就無法滿足需要了。

實用新型內容

本實用新型要解決的技術問題是，提供一種能夠一次對系統中的多個電容、電阻或者電感元件的物理參數進行測量的LRC測試儀的通道擴展裝置。

解決所述技術問題的技術方案是這樣一種LRC測試儀的通道擴展裝置。它由一個CPLD芯片為中心的邏輯控制單元、與該CPLD芯片的I/O口分別連接的時鐘輸入單元、模擬開關單元、通道選擇輸入單元和通道顯示單元構成。其中，時鐘輸入單元的電路包括其輸出端與CPLD芯片的I/O口相連的多諧振蕩器，以及其一端通過各一個上拉電阻與CPLD芯片的I/O口相連、另一端接地的兩路撥鍵開關；模擬開關單元的電路包括各自的COM端分別與LRC測試儀的兩個測試頭連接的兩片相同的模擬開關芯片，這兩片模擬開關芯片的各對相同編號的通道管腳連接在各個被測元件的兩端，兩片模擬開關芯片的控制端管腳分別短接后與CPLD芯片的I/O口相連；通道選擇輸入單元的電路包括其一端與CPLD芯片的I/O口和發光二極管的負極相連、另一端接地的多路撥鍵開關，該多路撥鍵開關通道數和發光二極管的數量與被測元件數量相等；通道顯示單元的電路包括與該CPLD芯片的I/O口相連的七段譯碼器和與該七段譯碼器相連的七段LED數碼管。

在一次對多個元件進行測試時，首先由通道選擇輸入單元中的多路撥鍵開關選擇測量使用的通道，而多個被測元件是同時接入兩片模擬開關芯片的各對相同編號的通道管腳之間的，通道管腳編號要與多路撥鍵開關選擇的通道編號一致。以CPLD芯片為中心的邏輯控制單元，一方面根據多路撥鍵開關的狀態依次改變模擬開關控制管腳狀態，從而依次選通被測元件所在通道，即采用時分復用方式，依次地對多路撥鍵開關所選擇的測試通道中的被測元件進行測試，測試結果仍然在LRC測試儀上顯示；另一方面根據兩路撥鍵開關的狀態來對時鐘輸入單元產生的時鐘進行分頻，從而控制每個通道測量時間。(測試過程在具體實施方式中再詳細說明)。

與沒有連接本通道擴展裝置的單通道的LRC測試儀相比較，本實用新型的有益效果是，它不但保持了LRC測試儀測量精度高，測試參數多的優點，而且還利用單通道的LRC測試儀來完成多通道的測試功能，即在用于工業生產過程中，能夠一次對系統中的多個電容、電阻或者電感元件的物理參數進行測量。

下面結合附圖對本實用新型作進一步的說明。

附圖說明

圖1是本實用新型的系統框圖

圖2是本實用新型的電路原理圖

圖3是圖2中的I單元放大的時鐘輸入與CPLD芯片接口電路的原理圖

圖4是圖2中的II單元放大的模擬開關與CPLD芯片接口電路的原理圖

圖5是圖2中的III單元放大的通道選擇輸入與CPLD芯片接口電路的原理圖

圖6是圖2中的IV單元放大的通道顯示與CPLD芯片接口電路的原理圖

圖7是本實用新型中CPLD芯片的邏輯功能圖

具體實施方式