[實用新型]6線大功率插入式元器件老化測試插座

無效

• 申請號: 200720109315.5
• 申請日: 2007-05-10
• 公開（公告）號: CN201112804Y
• 公開（公告）日: 2008-09-10
• 發明（設計）人: 曹宏國
• 申請（專利權）人: 曹宏國
• 主分類號: H01R13/46
• 分類號: H01R13/46;H01R13/11;H01R13/639;H01R13/629;G01R1/02;G01R31/327
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技術領域

本實用新型涉及一種微電子元器件老化測試裝置，尤其能對6線大功率插入式元器件可靠性進行高溫老化試驗和測試的插座。

背景技術

目前，在我國可靠性技術領域，國內老化試驗插座系列產品本體材料采用的是非耐高溫普通工程塑料，在對被測器件進行測試時，老化工作溫度僅為-25℃～+85℃，且老化工作時間短暫，插座接觸件表面鍍銀，結構簡單，存在著與被測器件之間接觸電阻大、耐環境弱、一致性不高和機械壽命不長的重大缺陷。在我國微電子元器件可靠性領域，大功率插入式器件高端技術產品，因無高溫老化可靠性試驗的專用裝置，不能滿足對器件性能指標的測試要求，容易引發工程質量事故。

發明內容

為克服現有老化試驗插座在接觸電阻、耐高溫和一致性以及使用壽命方面的不足，本實用新型提供一種高溫老化測試試驗插座。該插座不僅能將老化工作溫度范圍從-25℃～+85℃擴大到-65℃～+150℃，一次老化連續工作時間長達1000h(150℃)以上，插拔壽命5000次以上，而且在對被測試器件進行高溫老化試驗和性能測試過程中，具有接觸電阻小、一致性好、可靠性高、方便使用、表面耐磨和零插拔力的優點，大大提高了插座的可靠性和使用壽命。

本實用新型解決技術問題所采用的技術方案是：按照6線單列型大功率插入式元器件的結構設計和尺寸要求，將插座設計成三大組成部分，即插座體、接觸件和鎖緊裝置。插座體由座、蓋組成，選用進口的耐高溫型特種高溫工程塑料，經高溫注塑成型工藝技術制造成插座本體，用于被試器件的定位安裝。接觸件以鈹青銅材料沖壓成型，經300℃高溫淬火處理及電鍍硬金層技術表面鍍金，采用與被試器件引出線相對應、縱向排列、自動鎖緊和零插拔力結構安裝于插座體的座中。鎖緊裝置由滑塊和手柄組成，該實用新型首次采用雙滑塊特殊結構，改變了以往的單滑塊模式，可達到最佳的鎖果緊效。當手柄受力向下翻轉90°時，由于手柄的徑向尺寸差，從而使兩個滑塊產生相對運動，下滑塊向右移動，上滑塊向左移動，兩個滑塊的相對運動促使接觸件上端閉緊，接觸件自動鎖緊被試器件引出線，達到鎖緊器件的效果，通電后進行高溫老化試驗和性能測試。這種以與被試器件引出線相對應的、縱向排列、橫向自鎖式和零插拔力為設計結構的試驗插座，徹底解決了在高溫老化試驗和性能測試過程中的接觸電阻大、耐環境弱、一致性差和機械壽命不長的技術難點。同時該實用新型可滿足被試器件不同引線的要求，且可將兩個該實用新型同時使用，以滿足任意跨距雙列器件老化測試試驗的需求。

本實用新型的有益效果是：該實用新型可以滿足軍民通用6線和其它同類大功率插入式元器件高溫老化試驗和性能測試，填補了國內空白，替代進口，為國家節約了外匯，為用戶節約了成本，可以獲得較大的經濟效益和社會效益。

附圖說明：

下面結合附圖和實例對本實用新型作進一步說明。

圖1是本實用新型的外形結構縱剖面構造圖。

圖2是本實用新型外型結構俯視圖。

圖1：1壓簧??2簧片??3蓋??4上滑塊??5下滑塊??6座??7擋板

8手柄??9手柄球??10不銹鋼開槽沉頭自攻螺釘

具體實施方式：

在圖1中，按孔的位置將下滑塊5和壓簧1裝入座6上；再將上滑塊4和壓簧1放在下滑塊5上，并裝入座6內；然后將簧片2裝入座6內。裝入擋板7和手柄8；最后將蓋3按孔放在座6之上，并用不銹鋼開槽沉頭自攻螺釘固定住蓋3與座6。

該方案中，插座體用于被試器件的安裝定位，接觸件由鍍金簧片12.7mm間距按縱向排列、橫向自動鎖緊和零插拔力結構安裝于插座體的座中，與被試器件引出線相對應，鎖緊裝置由上滑塊、下滑塊和手柄組成，安裝于插座體一側。當手柄處于初始位置時，接觸件張開，放入被試器件后，手柄受力向下翻轉90°時，接觸件自動鎖緊被試器件。