[實用新型]無源互調失真測試裝置

無效

• 申請號: 200720077405.0
• 申請日: 2007-12-27
• 公開（公告）號: CN201134812Y
• 公開（公告）日: 2008-10-15
• 發明（設計）人: 梁文超;熊明;吳晨萍;王常春
• 申請（專利權）人: 奧雷通光通訊設備(上海)有限公司
• 主分類號: H04B17/00
• 分類號: H04B17/00;H04Q7/34
• 代理公司: 上海科盛知識產權代理有限公司
• 代理人: 趙繼明

技術領域

本實用新型涉及無源互調測試技術，特別是涉及無源互調失真測試裝置。

背景技術

無源互調失真是由通信系統中的非線性因素產生，將對其他通信設備產生嚴重干擾，尤其是三階互調失真(IMD3)。三階互調失真(IMD3)是由兩個頻率而產生的的，是窄帶通信系統中普遍存在的問題，當系統中存在兩個或更多的信號時，通常會產生很強的互調產物。兩個信號f1和f2的二次諧波2f1和2f2會進一步產生互調失真，其最大的互調產物就是三階交調(2f1-f2和2f2-f1)。這些互調產物通常是發射頻段的三階交調產物落到接收通道中，對接收靈敏度產生干擾，甚至造成接收機無法正常工作。不管是有源還是無源器件如放大器濾波器等都會產生三階交調產物。

隨著頻率資源的日漸緊張，為使不同通信系統間互調產物不相互影響，所以對產品的互調要求也更苛刻。但是對三階互調尤其是無源器件(系統)的三階互調產物IMD3的測試方法還未有非常權威和準確的測試方法，同時目前無源互調測試系統價格非常昂貴，是一些中小型企業無法承受的。另外目前雖然也有一些廠商推出了簡易IMD測試系統，但這些小型測試系統的測試方法僅停留在測無源互調的傳輸或者反射，而且內部結構連接繁瑣，帶來了更多的測試不確定因素，使得測試可靠性降低。

發明內容

本實用新型所要解決的技術問題就是為了克服上述現有技術存在的缺陷而提供

本實用新型的目的可以通過以下技術方案來實現：無源互調失真測試裝置，其特征在于，包括兩個信號發生器、三工器一、三工器二、兩個大功率負載、頻譜儀、N型匹配負載，所述的兩個信號發生器分別通過一個功放與三工器一的Tx口連接，所述的兩個大功率負載分別與三工器二的Tx口連接，所述的三工器一、三工器二的天線口均與待測產品連接，所述的頻譜儀在測試傳輸模式時與三工器二的Rx口連接，所述的N型匹配負載在測試傳輸模式時與三工器一的Rx口連接，所述的頻譜儀在測試反射模式時與三工器一的Rx口連接，所述的N型匹配負載在測試反射模式時與三工器二的Rx口連接。

所述的三工器一、三工器二均通過低互調電纜與待測產品連接。

與現有技術相比，本實用新型既可測試無源互調的傳輸又可測試反射模式，并且具有測試性能穩定，設計成本低等優點，對無源器件廠商而言這是一套性價比極高的無源互調測試系統。

附圖說明

圖1為本實用新型的結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖對本實用新型作進一步說明。

如圖1所示，無源互調失真測試裝置，包括兩個信號發生器1、2、三工器一3、三工器二4、兩個大功率負載5、6、頻譜儀7、N型匹配負載8，所述的兩個信號發生器1、2分別通過一個功放9、10與三工器一3的Tx口連接，所述的兩個大功率負載5、6分別與三工器二4的Tx口連接，所述的三工器一3、三工器二4的天線口均與待測產品連接所述的頻譜儀7在測試傳輸模式時與三工器二4的Rx口連接，所述的N型匹配負載8在測試傳輸模式時與三工器一3的Rx口連接，所述的頻譜儀7在測試反射模式時與三工器一3的Rx口連接，所述的N型匹配負載8在測試反射模式時與三工器二4的Rx口連接。

所述的三工器一3、三工器二4均通過低互調電纜與待測產品連接。其他部件之間通過普通測試電纜連接線連接。該測試系統采用兩個三工器作為標準件，可以測試傳輸和反射兩個模式，系統三階互調IMD測試值可以達到122dBm以上。