[實用新型]一種測試運算放大器失調電壓類別的裝置無效
| 申請號: | 200720002805.5 | 申請日: | 2007-01-26 |
| 公開(公告)號: | CN201035102Y | 公開(公告)日: | 2008-03-12 |
| 發明(設計)人: | 孔亮;鄭偉建;謝昊;項益峰 | 申請(專利權)人: | 中控科技集團有限公司浙江大學 |
| 主分類號: | G01R31/00 | 分類號: | G01R31/00;G01R31/28;H03F3/45 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 | 代理人: | 逯長明 |
| 地址: | 310053浙江省杭州市濱*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 測試 運算放大器 失調 電壓 類別 裝置 | ||
1.一種測試運算放大器失調電壓類別的裝置,其特征在于,包括:
失調電壓獲取單元,其輸入端具有與所述被測運放芯片接口相匹配的通用接口,其輸出端與所述失調電壓比較單元電連接;
失調電壓比較單元,設有與所述失調電壓相比較的基準電壓,其另一端作為比較結果的輸出端與類別判斷單元電連接;
類別判斷單元,存有與比較結果相應的類別信息,其另一端作為類別結果的輸出端與類別結果輸出單元電連接;
類別結果輸出單元,與所述類別判斷單元電連接,以呈現所述類別結果。
2.如權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述失調電壓獲取單元具有至少兩個測試通路;所述裝置還包括:
并串轉換單元,具有至少兩個輸入端,并分別與所述失調電壓獲取單元的不同輸出端電連接;還具有一個輸出端與所述失調電壓比較單元電連接,以將所有失調電壓串行輸出;
微處理器CPU,與所述并串轉換單元電連接,以控制所述并串轉換單元的輸出時間。
3.如權利要求2所述的裝置,其特征在于,所述失調電壓比較單元進一步包括:用于提高失調電壓帶負載能力的電壓跟隨電路、電壓比較電路;其中,
所述電壓跟隨電路與所述失調電壓獲取單元電連接;所述電壓比較電路電連接在所述電壓跟隨電路與所述類別判斷單元之間。
4.如權利要求3所述的裝置,其特征在于,所述電壓比較電路進一步包括:
比較器,其同相輸入端連接所述電壓跟隨電路的輸出端,負相輸入端連接本路基準電壓,其輸出端與所述電平轉換單元電連接。
5.如權利要求1至4中任一項所述的裝置,其特征在于,還包括:
電平轉換單元,電連接在所述失調電壓比較單元與所述類別判斷單元之間,將來自于所述失調電壓比較單元的比較結果的高電平轉換成所述類別判斷單元接收的電平。
6.如權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述類別結果輸出單元包括:
顯示單元,為共陽級8段數碼管,根據類別結果顯示所述被測運放芯片所屬的類別信息;和/或
聲音輸出單元,存有不同類別對應的提示聲音,根據類別結果發出相應的提示聲音。
7.如權利要求2所述的裝置,其特征在于,所述裝置的失調電壓獲取單元還包括:撥碼開關、跳線,與所述被測運放芯片的輸出端電連接,將所述運放芯片的其他運放通路切換至所述失調電壓獲取單元的輸入端。
8.如權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述裝置還包括:用于提供電源的電源單元,與所述裝置的所有單元電連接。
9.如權利要求1所述的裝置,其特征在于,失調電壓獲取單元的輸入端為適用于不同封裝方式的運放芯片的標準鎖緊端口。
10.如權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述微處理器CPU為AT89系列單片機。
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