[發(fā)明專利]對象位置的檢測方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200710307371.4
• 申請日: 2007-12-28
• 公開（公告）號: CN101470767A
• 公開（公告）日: 2009-07-01
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 毛春芹;范文綱
• 申請（專利權(quán)）人: 英業(yè)達(dá)股份有限公司
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司
• 代理人: 左一平

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種電路布局圖的檢測方法，特別是涉及一種對象位置的檢測方法。

背景技術(shù)

一般而言，在電路板開發(fā)之際，首先，由電子工程師依據(jù)客戶要求來繪制線路圖(Schematic)。之后，布局工程師再依據(jù)線路圖來設(shè)計(jì)電路布局圖，以依據(jù)電路布局圖來制造印刷電路板(Printed?Circuit?Board，PCB)。

為了提升印刷電路板的質(zhì)量，布局工程師在完成電路布局(Layout)圖之后，必須進(jìn)行電路布局圖的檢測工作。舉例來說，若文字對象的位置與貫孔(Via)重疊，在制作電路板的過程中，文字則會在鉆孔的過程遭到毀損，工程師則無法正確解讀文字內(nèi)容。

有鑒于此，在現(xiàn)有技術(shù)中，布局工程師必須以人工方式一一檢查電路布局圖中文字對象的位置是否適當(dāng)。此作法相當(dāng)曠日廢時(shí)，而且常會因人為疏忽而無法將所有的錯(cuò)誤一一更正。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的就是在提供一種對象位置的檢測方法，利用文字對象的坐標(biāo)范圍與待比對對象的坐標(biāo)范圍，檢查文字對象與待比對對象是否重疊或距離小于設(shè)定值，借以縮短布局的檢測時(shí)間。此外，還能提升印刷電路板的質(zhì)量。

為達(dá)上述或其它目的，本發(fā)明提出一種對象位置的檢測方法，適于電路布局圖，此方法包括擷取電路布局圖的文字對象的坐標(biāo)范圍。此外，擷取電路布局圖的待比對對象的坐標(biāo)范圍。再者，檢查文字對象的坐標(biāo)范圍與待比對對象的坐標(biāo)范圍是否重疊或距離小于設(shè)定值。

依照本發(fā)明的較佳實(shí)施例所述對象位置的檢測方法，還包括當(dāng)文字對象的坐標(biāo)范圍與待比對對象的坐標(biāo)范圍是否重疊或距離小于該設(shè)定值時(shí)，高亮文字對象或待比對對象。

依照本發(fā)明的較佳實(shí)施例所述對象位置的檢測方法，還包括當(dāng)文字對象的坐標(biāo)范圍與待比對對象的坐標(biāo)范圍重疊或距離小于設(shè)定值時(shí)，輸出警示訊息。

依照本發(fā)明的較佳實(shí)施例所述對象位置的檢測方法，其中待比對對象包括貫孔、測試點(diǎn)、焊墊及零件其中之一或其組合。

依照本發(fā)明的較佳實(shí)施例所述對象位置的檢測方法，其中設(shè)定值介于5英絲與35英絲之間或10英絲與30英絲之間。

本發(fā)明利用文字對象的坐標(biāo)范圍與待比對對象的坐標(biāo)范圍，檢查文字對象與待比對對象是否重疊或距離小于設(shè)定值。改善了先前所采用的人工檢測方式，因此可以縮短布局的檢測時(shí)間。此外，還能提升印刷電路板的質(zhì)量。

本發(fā)明的有益效果：

1.本發(fā)明能自動(dòng)檢查文字對象與待比對對象是否重疊或距離小于設(shè)定值，與現(xiàn)有技術(shù)所采用的人工檢測方式相較之下，本發(fā)明能大幅地縮短布局的檢測時(shí)間。

2.由于現(xiàn)有技術(shù)所采用的人工檢測方式，容易因人為疏忽而有遺漏檢測的問題。本發(fā)明采用自動(dòng)檢查文字對象與待比對對象是否重疊或距離小于設(shè)定值，因此能避免人為疏忽所造成的遺漏檢測問題，進(jìn)而提升印刷電路板的質(zhì)量。

上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明的技術(shù)手段，并可依照說明書的內(nèi)容予以實(shí)施，以下以本發(fā)明的較佳實(shí)施例并配合附圖詳細(xì)說明如后。

附圖說明

圖1是依照本發(fā)明的實(shí)施例所繪示的對象位置的檢測方法的流程圖。

圖2是依照本發(fā)明第一實(shí)施例所繪示的局部電路布局圖的示意圖。

圖3是依照本發(fā)明第二實(shí)施例所繪示的局部電路布局圖的示意圖。

圖4是依照本發(fā)明第三實(shí)施例所繪示的局部電路布局圖的示意圖。

圖5是依照本發(fā)明第四實(shí)施例所繪示的局部電路布局圖的示意圖。

S101～S105：對象位置的檢測方法的各步驟

201：貫孔

202、302、404：文字對象

P1～P4：端點(diǎn)

P5、P6：圓心

r1、r2：半徑

301：測試點(diǎn)

401、402：焊墊

403：零件的擺放位置

具體實(shí)施方式

在現(xiàn)有技術(shù)中，布局工程師必須以人工檢測方式一一檢查電路布局圖中的文字對象的位置是否適當(dāng)，相當(dāng)費(fèi)時(shí)且容易出錯(cuò)。本發(fā)明即是利用文字對象的坐標(biāo)范圍與待比對對象的坐標(biāo)范圍，來檢查文字對象與待比對對象是否重疊或距離小于設(shè)定值，因此不但能提升檢測效率更能提升檢測質(zhì)量。為了使本發(fā)明的內(nèi)容更為明了，以下特舉幾個(gè)實(shí)施例作為本發(fā)明確實(shí)能夠據(jù)以實(shí)施的范例。

第一實(shí)施例