[發明專利]檢測通電和斷電的電路

無效

• 申請號: 200710306147.3
• 申請日: 2007-11-05
• 公開（公告）號: CN101191815A
• 公開（公告）日: 2008-06-04
• 發明（設計）人: 樸煥旭;金玗燮
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02;G01R31/28;G11C29/50;H03F3/45;H03K5/14
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所
• 代理人: 錢大勇

技術領域

各示例實施例涉及在半導體器件中檢測通電和斷電的方法和電路。

背景技術

因為電子系統不斷地變得更小，所以有關減少由半導體器件耗散的功率的研究已經增加。例如，半導體器件中的各等待電路塊可依賴于操作模式斷電，以便降低功耗。在斷電狀態中，電路塊不完全斷電，但是關閉包括在該電路塊中的電流源以減少漏電流。

通電時間和斷電時間可包括在半導體存儲器器件的測試說明書中。

在檢測通電或斷電的傳統方法中，通過測量流過電路的平均電流確定該電路進入斷電模式還是退出斷電模式。因為沒有使用測試器實時測量電路的操作電流，所以使用傳統方法不能測量斷電進入時間或斷電退出時間。因為不得不對通電/斷電的測量時間增加余量，所以可通過測試確定的、用于半導體存儲器器件的通電/斷電的等待時間可能更長。因此，操作速度可能劣化。

發明內容

示例實施例提供一種能夠實時提供通電時間和斷電時間的通電/斷電檢測電路。示例實施例還提供一種具有通電/斷電檢測電路的半導體器件和具有該半導體器件的存儲器系統。此外，示例實施例提供一種用于實時提供通電時間和斷電時間的檢測通電或斷電的方法。

根據示例實施例，通電/斷電檢測電路可包括功率檢測電路、選擇電路和確定電路。

基于對應于流過多個功能塊的電流的多個讀出(sense)信號，功率檢測電路可產生多個檢測信號。基于通電/斷電模式選擇控制信號和檢測信號，選擇電路可產生多個選擇信號。確定電路響應于通/斷控制信號，對選擇信號執行邏輯操作以產生通電完成信號和斷電完成信號。

通電/斷電檢測電路還可以包括解碼器，其解碼功率模式信號以產生通電/斷電檢測模式選擇控制信號和通/斷控制信號。

當所有的選擇信號有效時，通電完成信號可以有效。通電完成信號有效以響應最后有效的選擇信號。

通過從當功率模式信號有效時的時刻到當通電完成信號有效時的時刻的時間段，可以確定通電延遲。

當所有的選擇信號無效時，斷電完成信號有效。通電完成信號可以有效以響應最后無效的選擇信號。

通過從當功率模式信號有效時的時刻到當斷電完成信號有效時的時刻的時間段，可以確定斷電延遲。

根據示例實施例，半導體器件可包括內部電路和通電/斷電檢測電路。

內部電路可包括多個功能塊，并且可產生多個讀出信號。基于功率模式信號和讀出信號，通電/斷電檢測電路可產生通電完成信號和斷電完成信號。通電完成信號和斷電完成信號可分別指示通電時間和斷電時間。

根據示例實施例，存儲器系統可包括半導體存儲器器件和存儲器控制器。

半導體存儲器器件可存儲輸入數據或輸出存儲數據，以響應時鐘信號、命令信號和地址信號。半導體存儲器器件可實時檢測流過各電路塊的電流以確定通電時間和斷電時間。半導體存儲器器件可產生通電完成信號和斷電完成信號。

存儲器控制器可向半導體存儲器器件提供時鐘信號、命令信號、地址信號以及輸入數據，以響應對應通電完成信號或斷電完成信號。

根據示例實施例，一種檢測通電或斷電的方法可包括：基于對應流過多個功能塊的電流的多個讀出信號產生多個檢測信號；基于通電/斷電模式選擇控制信號和檢測信號產生多個選擇信號；以及響應于通/斷控制信號對選擇信號執行邏輯操作，以產生通電完成信號和斷電完成信號。

附圖說明

從以下結合附圖進行的詳細描述中，將更清楚地理解各示例實施例。如在此描述的，圖1-9表示非限制的示例實施例。

圖1是圖示根據示例實施例的存儲器系統的方塊圖；

圖2是圖示根據示例實施例的通電/斷電檢測電路的方塊圖；

圖3是圖示包括在圖2的通電/斷電檢測電路中的功率檢測器的示例的方塊圖；

圖4是圖示包括在圖2的通電/斷電檢測電路中的功率檢測器的另一示例的方塊圖；

圖5是圖示圖3和圖4的功率檢測器的磁滯特性的圖；

圖6是圖示包括在圖2的通電/斷電檢測電路中的選擇電路和確定電路的示例的方塊圖；

圖7是圖示包括在圖2的通電/斷電檢測電路中的選擇電路和確定電路的另一示例的方塊圖；

圖8和圖9是圖示圖2的通電/斷電檢測電路的操作的時序圖。

具體實施方式

在此公開了詳細的示例實施例。然而，為了描述各示例實施例的目的，在此公開的特定結構和功能的細節，僅僅是表示性的。然而，各示例實施例可包括許多替代的形式，而不應解釋為僅限于在此提出的各實施例。