[發明專利]測試線對圖板、鏡頭光學解析量測系統及其量測方法

無效

• 申請號: 200710202987.5
• 申請日: 2007-12-11
• 公開（公告）號: CN101458441A
• 公開（公告）日: 2009-06-17
• 發明（設計）人: 袁崐益
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G03B43/00
• 分類號: G03B43/00;G01M11/00;G01M11/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種鏡頭光學解析量測系統，用于量測待測鏡頭的光學解析能力，其包括：

一測試線對圖板，其具有多個測試線對圖，所述待測鏡頭與所述測試線對圖板相對；

一光源，用于發出光線以照射所述測試線對圖板；

一個影像感測器，用于接收所述光源發出的光線經所述測試線對圖板反射后穿透所述待測鏡頭的光學信號，并將該光學信號轉換成電信號；

一處理裝置，所述處理裝置與影像感測器電性連接，用于接收所述影像感測器的電信號，并將該電信號轉換成數字信號后，計算并輸出亮度分布資料及光學解析調制轉換函數值；以及

一顯示器，所述顯示器與處理裝置電性連接，用于接收并顯示所述亮度分布資料及光學解析調制轉換函數值；

其特征在于，所述測試線對圖板具有一個關于整個測試線對圖板中心對稱的加粗框形圖案，所述多個測試線對圖均位于該加粗框形圖案內，通過觀察所述加粗框形圖案的圖像是否完全顯示在所述顯示器上并且其是否關于所述顯示器的中心對稱來判定所述待測鏡頭的中心軸是否與所述影像感測器的中心軸重合。

2.如權利要求1所述的鏡頭光學解析量測系統，其特征在于，所述多個測試線對圖包含兩種以上的空間頻率，且各個測試線對圖之間垂直水平交錯排列。

3.如權利要求1所述的鏡頭光學解析量測系統，其特征在于，所述測試線對圖板的加粗框形圖案位于整個測試線對圖板的邊緣。

4.如權利要求1所述的鏡頭光學解析量測系統，其特征在于，進一步包括一承載盤及一用于驅動該承載盤移動的驅動裝置，該承載盤等間距開設有多個貫通其中的收容孔，各個待測鏡頭容置在該各個收容孔中。

5.一種使用如權利要求1所述的鏡頭光學解析量測系統的鏡頭光學解析量測方法，用于量測待測鏡頭對所述測試線對圖板的光學解析能力，其包括如下步驟：

使所述影像感測器的中心軸與所述測試線對圖板的中心軸對齊；

判斷所述測試線對圖板的加粗框形圖案是否透過待測鏡頭完全成像在所述影像感測器上，并是否關于所述影像感測器中心對稱，若不完全成像在所述影像感測器上或不關于所述影像感測器中心對稱，則移動所述待測鏡頭，直至所述測試線對圖板的加粗框形圖案完全成像在所述影像感測器上并關于所述影像感測器中心對稱；

若所述測試線對圖板的加粗框形圖案完全成像在所述影像感測器上并關于所述影像感測器中心對稱，則進行待測鏡頭對所述測試線對圖板上的測試線對圖的光學解析能力量測。

6.如權利要求5所述的鏡頭光學解析量測方法，其特征在于，所述待測鏡頭容置在一中空的承載盤中，該承載盤由一驅動裝置控制進行移動。

7.一種測試線對圖板，其具有多個測試線對圖，用于供待測鏡頭進行光學解析能力量測，所述測試線對圖板具有一個關于整個測試線對圖板的中心對稱的加粗框形圖案，所述多個測試線對圖均位于該加粗框形圖案內，其特征在于，所述多個測試線對圖包含兩種以上的空間頻率，且各個測試線對圖之間垂直水平交錯排列。

8.如權利要求7所述的測試線對圖板，其特征在于，所述測試線對圖板的加粗框形圖案位于整個測試線對圖板的邊緣。