[發(fā)明專利]一種通用型測試板及其使用方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200710172423.1
• 申請(qǐng)日: 2007-12-17
• 公開（公告）號(hào): CN101464490A
• 公開（公告）日: 2009-06-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 何蓮群;劉云海
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中芯國際集成電路制造（上海）有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28;G01R1/073;G01R1/02
• 代理公司: 上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所
• 代理人: 屈 蘅;李時(shí)云

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及芯片測試裝置的設(shè)計(jì)和制作領(lǐng)域，尤其涉及一種通用型測試板及其使用方法。

背景技術(shù)

目前，芯片生產(chǎn)制作完成之后都需要進(jìn)行封裝，例如采用雙列直插式封裝(DIP)，方形扁平式封裝(QFP)或其他類型封裝。不同的芯片封裝類型具有不同的管腳分布和管腳數(shù)。這些封裝好的芯片均要進(jìn)行功能驗(yàn)證和測試。在進(jìn)行該操作時(shí)需要將這些封裝芯片置于特定的測試板上進(jìn)行測試。常規(guī)的測試板，如圖1所示，包括兩個(gè)連接器2(connector)，兩個(gè)電源連接器3以及芯片插座1。這種類型的測試板針對(duì)雙列直插式封裝芯片。進(jìn)行測試時(shí)，將待測試芯片4置于測試板的具有若干管腳插槽的芯片插座1上，兩個(gè)連接器均通過測試專用的排線與測試機(jī)相連后進(jìn)行測試。針對(duì)管腳分布在封裝芯片四個(gè)側(cè)邊的封裝芯片的測試板，根據(jù)不同的引腳數(shù)，相對(duì)上述測試板，芯片插座的四邊分布的連接器數(shù)目會(huì)有差別。

封裝后芯片的引腳大致分兩類：信號(hào)引腳和電源引腳，在測試時(shí)，這兩類引腳需要嚴(yán)格區(qū)分。因?yàn)殡娫匆_需要通過較大的電流，而信號(hào)引腳只需要通過很小的電流。如果不加以區(qū)分，測試機(jī)就會(huì)無法把需要的電源供給給待測芯片，測試將不能正常進(jìn)行。常規(guī)測試板上的信號(hào)通道與電源通道與芯片上的信號(hào)引腳和電源引腳一一對(duì)應(yīng)，信號(hào)通道通過連接器2與測試機(jī)相連，電源通道通過電源連接器3與測試機(jī)相連，針對(duì)特定的芯片管腳，測試板上的這些通道就被固定下來。由于待測試的芯片類型有許多，例如靜態(tài)存儲(chǔ)芯片(SRAM)，動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)芯片(DRAM)，可擦除且可編程的只讀存儲(chǔ)器(EEPROM)，閃存芯片(flash)等。這些不同芯片，它們的引腳差別很大，電源引腳和信號(hào)引腳在封裝芯片上分布的位置也有很大區(qū)別。常規(guī)的測試板都是針對(duì)特定的類型的芯片專門進(jìn)行設(shè)計(jì)的，信號(hào)通道和電源通道已經(jīng)被固定下來，這樣即使封裝類型相同芯片管腳分布的不同仍會(huì)導(dǎo)致無法使用相同的測試板。測試板的這種設(shè)計(jì)導(dǎo)致了測試板應(yīng)用的不靈活，針對(duì)不同類型的芯片還需要花費(fèi)大量成本購買不同類型芯片產(chǎn)品的測試板。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種通用型測試板以及使用方法，以解決對(duì)不同管腳分布的封裝芯片進(jìn)行測試時(shí)，需要購買專用的測試板的問題。

為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明的通用型測試板，該測試板除了包括數(shù)個(gè)具有兩列插針的連接器，數(shù)個(gè)具有兩列插針的電源連接器和一個(gè)具有若干管腳插槽的芯片插座，它還包括數(shù)個(gè)具有數(shù)列插針的緩沖連接器和數(shù)個(gè)具有兩列插針的電源緩沖連接器。其中，緩沖連接器的插針與芯片插座和連接器相連，電源緩沖連接器的插針與電源連接器的插針連接。緩沖連接器包括三列插針和一組接線器，三列插針中的一列插針與芯片插座相連，另一列插針與連接器上的一列插針一一對(duì)應(yīng)連接。與芯片插座相連的緩沖連接器的一列插針通過該組接線器和與連接器相連的緩沖連接器的一列插針一一連接。

本發(fā)明通用型測試板的使用方法，該通用型測試板用于測試具有若干管腳待測芯片，使用方法包括以下步驟：步驟1：將具有若干管腳待測芯片置于芯片插座上；步驟2：根據(jù)待測芯片的管腳分布，對(duì)所述緩沖連接器的插針的連接通道進(jìn)行電源通道配置。

進(jìn)一步地，緩沖連接器包括三列插針和一組接線器，三列插針中的一列插針與芯片插座相連，另一列插針與連接器相連，與芯片插座相連的一列插針通過一組接線器和與連接器相連的一列插針一一連接。步驟2中的插針的連接通道進(jìn)行電源通道的配置是去掉所述接線器，用跳線將與芯片插座相連的插針與所述電源緩沖連接器上的插針連接。

與現(xiàn)有的測試板以及測試方法相比，本發(fā)明的通用型測試板及其使用方法，通過對(duì)緩沖連接器插針的連接通道進(jìn)行電源或信號(hào)通道的配置，使得待測芯片無論是電源管腳還是信號(hào)引腳均可與緩沖連接器直接相連，不用再受待測芯片管腳分布的限制。這樣可有效解決不同的芯片需要專用測試板進(jìn)行測試的問題。

附圖說明

以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式對(duì)本發(fā)明的通用型測試板以及使用方法作進(jìn)一步詳細(xì)說明。

圖1為常規(guī)測試板結(jié)構(gòu)的示意圖。

圖2為本發(fā)明通用型測試板結(jié)構(gòu)示意圖。

圖3為圖2通用型測試板電源通道配置的使用方法的示意圖。

具體實(shí)施方式