[發明專利]一種通用型測試板及其使用方法有效
| 申請號: | 200710172423.1 | 申請日: | 2007-12-17 |
| 公開(公告)號: | CN101464490A | 公開(公告)日: | 2009-06-24 |
| 發明(設計)人: | 何蓮群;劉云海 | 申請(專利權)人: | 中芯國際集成電路制造(上海)有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28;G01R1/073;G01R1/02 |
| 代理公司: | 上海思微知識產權代理事務所 | 代理人: | 屈 蘅;李時云 |
| 地址: | 2012*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 通用型 測試 及其 使用方法 | ||
1.一種通用型測試板,所述測試板包括數個具有兩列插針的連接器,數個具有兩列插針的電源連接器和一個具有若干管腳插槽的芯片插座,其特征在于,它還包括數個具有數列插針的緩沖連接器和數個具有兩列插針的電源緩沖連接器;所述緩沖連接器的插針與芯片插座和連接器相連,所述電源緩沖連接器的插針與電源連接器的插針連接,其中已通過所述芯片插座與芯片的電源管腳相連的緩沖連接器的插針與所述電源緩沖連接器上的插針連接。
2.如權利要求1所述的通用型測試板,其特征在于,所述緩沖連接器包括三列插針和一組接線器,所述三列插針中的一列插針與芯片插座相連,另一列插針與所述連接器的一列插針一一對應連接。
3.如權利要求1所述的通用型測試板的使用方法,所述通用型測試板用于測試具有若干管腳的待測芯片,其特征在于,它的使用方法包括以下步驟:
步驟1:將所述具有若干管腳的待測芯片置于具有若干插槽的芯片插座上;
步驟2:根據所述待測芯片的管腳分布,對所述緩沖連接器的插針的連接通道進行電源通道配置。
4.如權利要求3所述的使用方法,其特征在于,所述步驟2中的插針的連接通道進行電源通道的配置是用跳線將與芯片插座相連的插針與所述電源緩沖連接器上的插針連接。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中芯國際集成電路制造(上海)有限公司,未經中芯國際集成電路制造(上海)有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200710172423.1/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





