[發明專利]管理臨時缺陷列表的方法

有效

• 申請號: 200710167065.5
• 申請日: 2004-04-29
• 公開（公告）號: CN101202088A
• 公開（公告）日: 2008-06-18
• 發明（設計）人: 黃盛凞;高禎完
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G11B20/18
• 分類號: G11B20/18;G11B7/0037
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司
• 代理人: 郭鴻禧;韓素云

1.一種用于管理存儲在一次寫入記錄介質上的用戶數據的臨時缺陷列表的方法，包括：

在基于逐簇將臨時缺陷列表記錄在一次寫入記錄介質的臨時缺陷管理區期間執行寫入后檢驗處理，從而當在記錄臨時缺陷列表期間產生缺陷簇時，記錄在缺陷簇中的數據被記錄在替換簇中。

2.如權利要求1所述的方法，其中，執行寫入后檢驗處理的步驟包括：

以單一單位將臨時缺陷列表記錄在臨時缺陷管理區的連續簇中；和

檢驗記錄的單一單位的臨時缺陷列表，從而當缺陷被定位在與臨時缺陷列表的一部分相應的臨時缺陷管理區的簇中的一個中時，在臨時缺陷管理區的下一簇中存儲并檢驗所述臨時缺陷列表的該部分。

3.如權利要求2所述的方法，還包括：

將指示位置的指針信息存儲在記錄臨時缺陷列表的臨時缺陷管理區中。

4.如權利要求3所述的方法，其中，指針信息僅指向包含臨時缺陷列表的臨時缺陷管理區的簇。

5.如權利要求3所述的方法，還包括：

將指針信息存儲在被存儲于臨時缺陷管理區中的臨時盤定義結構中。

6.如權利要求5所述的方法，其中，當臨時缺陷管理區滿時，臨時缺陷列表和臨時盤定義結構被存儲在一次寫入記錄介質上的次臨時缺陷管理區中。

7.如權利要求6所述的方法，其中，臨時缺陷列表在臨時盤定義結構之前被存儲在臨時缺陷管理區中。

8.如權利要求7所述的方法，其中，一次寫入記錄介質是一次寫入光盤。

9.如權利要求8所述的方法，其中，一次寫入光盤是單記錄層盤。

10.如權利要求1所述的方法，其中，執行寫入后檢驗處理的步驟包括：

將臨時缺陷列表記錄在臨時缺陷管理區的多個單一簇中；和

檢驗每個單一簇，并且當缺陷定位于與臨時缺陷列表的一部分相應的臨時缺陷管理區的單一簇中時，在臨時缺陷管理區的下一簇中記錄并檢驗所述臨時缺陷列表的該部分。

11.如權利要求10所述的方法，還包括：

將指示位置的指針信息存儲在記錄臨時缺陷列表的臨時缺陷管理區中。

12.如權利要求11所述的方法，其中，指針信息僅指向包含臨時缺陷列表的臨時缺陷管理區的簇。

13.如權利要求11所述的方法，還包括：

將指針信息存儲在被存儲于臨時缺陷管理區中的臨時盤定義結構中。

14.如權利要求13所述的方法，其中，當臨時缺陷管理區滿時，臨時缺陷列表和臨時盤定義結構被存儲在一次寫入記錄介質上的次臨時缺陷管理區中。

15.如權利要求14所述的方法，其中，臨時缺陷列表在臨時盤定義結構之前被存儲在臨時缺陷管理區中。

16.如權利要求15所述的方法，其中，一次寫入記錄介質是一次寫入光盤。

17.如權利要求16所述的方法，其中，一次寫入光盤是單記錄層盤。

18.如權利要求1所述的方法，其中，缺陷簇和替換簇的位置由物理扇區號指示。

19.如權利要求18所述的方法，其中，物理扇區號與缺陷簇和替換簇的各自第一扇區相應。

20.如權利要求18所述的方法，其中，物理扇區號與缺陷簇和替換簇的各自最后扇區相應。

21.如權利要求18所述的方法，其中，索引指示各個缺陷簇和替換簇。