[發(fā)明專利]具有精細(xì)接觸孔的半導(dǎo)體器件的制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200710166864.0 | 申請日: | 2007-10-23 |
| 公開(公告)號: | CN101174579A | 公開(公告)日: | 2008-05-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 權(quán)城鉉;沈載煌;郭東華;金周泳 | 申請(專利權(quán))人: | 三星電子株式會社 |
| 主分類號: | H01L21/768 | 分類號: | H01L21/768;H01L21/311 |
| 代理公司: | 中原信達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 | 代理人: | 黃啟行;穆德駿 |
| 地址: | 韓國京畿道水*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 精細(xì) 接觸 半導(dǎo)體器件 制造 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明的實(shí)施例總體上涉及半導(dǎo)體器件的制造方法,且更具體地說,涉及如下半導(dǎo)體器件的制造方法,在所述半導(dǎo)體器件中,利用采用模塑圖案所形成的掩模圖案,形成精細(xì)接觸孔。
背景技術(shù)
半導(dǎo)體器件包括分立器件,諸如晶體管、電阻器以及電容器。分立器件經(jīng)由在通過絕緣層的接觸孔中形成的接觸插塞或者互連來彼此電連接。例如,NAND型閃存器件可以包括在半導(dǎo)體襯底內(nèi)部的橫跨于彼此間隔開的有源區(qū)之上的字線,以及鄰近于所述字線并且橫跨于有源區(qū)之上的選擇線。NAND型閃存器件還可以包括位線,所述位線通過層間電介質(zhì)層與所述字線和選擇線相隔離并橫跨于其上。位線可以經(jīng)由接觸孔分別電連接到有源區(qū),所述有源區(qū)鄰近于所述選擇線。通常,可以通過構(gòu)圖工藝來形成接觸孔。構(gòu)圖工藝包括:通過光刻工藝在層間電介質(zhì)層上形成具有孔形開口的掩模圖案;以及蝕刻通過所述開口暴露的層間電介質(zhì)層。
因?yàn)榻佑|孔的尺寸隨著半導(dǎo)體器件的集成度的增加而變得更小,所以應(yīng)當(dāng)縮小開口的尺寸。然而,因?yàn)樾枰s小開口的尺寸,所以難以控制光刻工藝。例如,因?yàn)榘雽?dǎo)體襯底上的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)很復(fù)雜,所以在光刻工藝期間,由于諸如選擇線和字線的圖案可以生成漫反射。因此,在確保每個開口具有相同的尺寸方面,存在限制。
結(jié)果,在填充每個接觸孔的接觸插塞中,不能保證相同的電阻。因此,惡化了半導(dǎo)體器件的可靠性。
發(fā)明內(nèi)容
因此,在此示例性描述的實(shí)施例用于提供一種半導(dǎo)體器件的制造方法,該半導(dǎo)體器件通過利用模塑圖案來形成掩模圖案而具有精細(xì)的并且尺寸基本上相同的接觸孔。
在此示例性描述的一個實(shí)施例的特征可以為一種半導(dǎo)體器件的制造方法。該方法例如可以包括在半導(dǎo)體襯底上形成限定有源區(qū)的隔離層。在具有隔離層的半導(dǎo)體襯底上可以形成層間電介質(zhì)層。在層間電介質(zhì)層上可以形成第一模塑圖案。還可以形成第二模塑圖案,其定位于第一模塑圖案之間并與其間隔開。可以形成包圍第一模塑圖案和第二模塑圖案的側(cè)壁的掩模圖案模塑。通過去除第一模塑圖案和第二模塑圖案,可以形成開口。通過利用掩模圖案作為蝕刻掩模來蝕刻層間電介質(zhì)層,形成接觸孔。
附圖說明
通過參考附圖來詳細(xì)地描述本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例,上述示例性描述的實(shí)施例的上述和其它特征,對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來講,將變得更加顯而易見,在附圖中:
圖1是根據(jù)一個示例性實(shí)施例的半導(dǎo)體器件的平面圖;
圖2A、3A、4A、5A、6A、7A、8A、9A、10A、11A、12A、13A和14A是沿圖1中的線I-I’獲得的截面圖,示出了制造根據(jù)第一實(shí)施例的半導(dǎo)體器件的示例性方法;
圖2B、3B、4B、5B、6B、7B、8B、9B、10B、11B、12B、13B和14B是沿圖1中的線II-II’獲得的截面圖,示出了制造根據(jù)第一實(shí)施例的半導(dǎo)體器件的示例性方法;
圖15A、16A、17A、18A、19A和20A是沿圖1中的線I-I’獲得的截面圖,示出了制造根據(jù)第二實(shí)施例的半導(dǎo)體器件的示例性方法;以及
圖15B、16B、17B、18B、19B和20B是沿圖1中的線II-II’獲得的截面圖,示出了制造根據(jù)第二實(shí)施例的半導(dǎo)體器件的示例性方法。
具體實(shí)施方式
在下文中,現(xiàn)將參考附圖,更加全面地描述本發(fā)明的示例性實(shí)施例。然而,這些實(shí)施例可以以多種不同的形式實(shí)現(xiàn),而且不應(yīng)認(rèn)為僅限于在此所描述的實(shí)施例。更確切地,提供這些實(shí)施例以使得本公開徹底和完整,并且將全面地向本領(lǐng)域的技術(shù)人員傳達(dá)本發(fā)明的范圍。在附圖中,為清晰起見,放大各圖和各區(qū)域的厚度。在整個說明書中,類似的標(biāo)記表示類似的元件。應(yīng)當(dāng)理解,當(dāng)諸如層、膜、區(qū)域或者襯底的元件被稱為在另一元件“上”時,其可以是直接在其它元件之上,也可以存在插入的元件。相反地,當(dāng)元件被稱為“直接在另一元件上”時,則不存在插入的元件。
圖1是根據(jù)一個示例性實(shí)施例的半導(dǎo)體器件的平面圖。圖2A、3A、4A、5A、6A、7A、8A、9A、10A、11A、12A、13A和14A是沿圖1中的線I-I’獲得的截面圖,示出了根據(jù)第一實(shí)施例的半導(dǎo)體器件的制造方法。圖2B、3B、4B、5B、6B、7B、8B、9B、10B、11B、12B、13B和14B是沿圖1中的線II-II’獲得的截面圖,示出了根據(jù)第一實(shí)施例的半導(dǎo)體器件的制造方法。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





