[發明專利]擺動信號讀出方法及光盤設備無效
| 申請號: | 200710165250.0 | 申請日: | 2007-10-31 |
| 公開(公告)號: | CN101174450A | 公開(公告)日: | 2008-05-07 |
| 發明(設計)人: | 荒川信一郎 | 申請(專利權)人: | 株式會社東芝 |
| 主分類號: | G11B27/19 | 分類號: | G11B27/19;G11B27/24 |
| 代理公司: | 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 | 代理人: | 陳源;張天舒 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 擺動 信號 讀出 方法 光盤 設備 | ||
1.一種光盤設備,其特征在于包括:
包括至少一個光源、透鏡和光檢測器的光頭,用于接收反射光并獲得對應于所述光的輸出信號,所述反射光是來自由一個記錄介質的信息記錄區反射的光源的光;
第一信號處理部分,用于從來自所述光檢測器的輸出信號中獲得預先記錄在一個信息記錄區上的具有周期性模式的第一信息;和
第二信號處理部分,用于獲得記錄在跟隨由所述第一信號處理部分檢測的所述第一信息的特定位置之后的一個位置的第二信息,
其特征在于:
所述第一信號處理部分根據所述周期模式的相位被反相的所在位置的組合來標識所述第一信息的引導頭位置。
2.根據權利要求1的光盤設備,其特征在于:
所述第一信號處理部分根據屬于是預先制備的多個模式中每一個的周期模式的相位被反相的所在位置的組合的條件來檢測所述第一信息的一個特定位置。
3.根據權利要求1的光盤設備,其特征在于:
在檢測到屬于是預先制備的多個模式中每一個的周期模式的相位被反相的所在位置的組合的條件中的至少一個已經變為一致時,所述第一信號處理部分檢測所述第一信息的一個特定位置。
4.根據權利要求3的光盤設備,其特征在于:
所述第一信號處理部分檢測制備在所述第一信息的引導頭或特定位置的用于確定的模式作為屬于是預先制備的多個模式中每一個的周期模式的相位被反相所在位置的組合的條件。
5.根據權利要求3的光盤設備,其特征在于:
當所述第一信號處理部分檢測到制備在所述第一信息的引導頭或特定位置的用于確定的模式已經完全變為與屬于是預先制備的多個模式中每一個的周期模式的相位被反相的所在位置的組合的條件一致時,所述第一信號處理部分使得所述第二信號處理部分立即開始信號處理。
6.根據權利要求1的光盤設備,特征在于還包括:
第三信號處理部分,當檢測到屬于是預先制備的多個模式中每一個的周期模式的相位被反相器的所在位置的組合條件至少之一已經變為一致時,所述第三信號處理部分用于根據所述第二信息的內容來檢驗所述第一信息的特定位置,以便檢測所述第一信息的被檢測到的特定位置是不正確的。
7.根據權利要求3的光盤設備,特征在于還包括:
第三信號處理部分,當檢測到屬于是預先制備的多個模式中每一個的周期模式的相位被反相器的所在位置的組合條件至少之一已經變為一致時,所述第三信號處理部分用于根據所述第二信息的內容來檢驗所述第一信息的特定位置,以便檢測所述第一信息的被檢測到的特定位置是不正確的。
8.一種光盤設備,其特征在于包括:
包括至少一個光源、透鏡和光檢測器的光頭,用于接收反射光并獲得對應于所述光的輸出信號,所述反射光是來自從一個記錄介質的信息記錄區反射的光源的光;
鑒相器單元,用于從光檢測器的輸出信號中檢測由預先記錄在該信息記錄區上的擺動周期模式的布局所標識的一個反相部分;
第一計數器單元,用于從所述光檢測器的輸出信號中計數預先記錄在所述信息記錄區上的擺動周期模式的重復的數目;
第二計數單元,用于按照一個預定數的單元從所述第一計數器單元的計數結果中計數所述擺動周期模式的重復數目;
地址檢測單元,用于根據由所述鑒相器單元檢測的反相部分的展現模式來檢測所述反相部分的展現模式的一個組合與預先制備的用于確定的一個模式相一致;
狀態計數單元,用于根據與由所述地址檢測單元檢測的用于確定的所述模式相一致的程度來確定一個位置是在PLL同步位置的附近、PLL同步位置、或PLL同步被啟動的位置;以及
同步碼檢測單元,用于根據來自所述狀態計數單元的輸出和來自所述第二計數單元的輸出而實現PLL同步。
9.根據權利要求8的光盤設備,其特征在于:
所述狀態計數單元檢測在PLL同步位置附近的位置、是PLL同步位置的位置、以及PLL同步被啟動的位置中的至少一個,這些位置是根據在被檢測的反相部分的展現模式和預先制備的用于確定的模式之間的一致程度而確定的。
10.根據權利要求8的光盤設備,其特征在于:
所述狀態計數單元檢測所述反相部分的展現模式與引導頭確定模式和預先準備的用于確定的模式的特定位置確定模式中的至少一個一致。
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