[發明專利]備用區分配系統及方法有效
| 申請號: | 200710153940.4 | 申請日: | 2007-09-14 |
| 公開(公告)號: | CN101149953A | 公開(公告)日: | 2008-03-26 |
| 發明(設計)人: | 陳世新;薛景文;洪英哲 | 申請(專利權)人: | 聯發科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G11B20/18 | 分類號: | G11B20/18;G11B7/0037 |
| 代理公司: | 上海翼勝專利商標事務所 | 代理人: | 翟羽 |
| 地址: | 中國臺灣新竹市*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 備用 區分 系統 方法 | ||
【技術領域】
本發明涉及一種光盤缺陷管理,尤其是關于一種用于為光盤缺陷分配備用區的備用區分配系統及方法,以及一種執行備用區分配方法的光驅。
【背景技術】
光盤,例如藍光雷射光盤,通常具有為記錄一些備份信息(包括登錄缺陷替換)而界定的備用區。單層光盤在光盤最內層邊緣和最外層邊緣具有兩個備用區。該兩個備用區稱為內備用區(inner?spare?area,以下簡稱:ISA)和外備用區(outer?spare?area,以下簡稱:OSA)。相似的,雙層光盤具有四個備用區。雙層光盤的0層具有備用區ISA0和OSA0,而雙層光盤的1層具有備用區ISA1和OSA1。
若在執行光盤寫入程序期間找到替換單元(如缺陷簇(defect?cluster)),則應該將多個備用區中的一簇作為替換簇指派給此缺陷。即通過分配多個備用區的一者中的替換簇來替換該缺陷簇。該缺陷簇的數據被記錄于該替換簇中。當嘗試讀取或寫入該缺陷簇時,讀取/寫入程序一般被重新指示至該替換簇,以存取其中的數據。
當讀取/寫入程序進行至缺陷時,光驅的讀寫頭需要前后移動,以尋找在該備用區中的替換簇。若謹慎考慮分配多個備用區中的何者至替換簇,則可縮短存取該替換簇所需的時間,以在讀取/寫入該光盤時提高存取效率。
【發明內容】
因此,本發明提供一種可以提高讀取/寫入該光盤時的存取效率的備用區分配方法及系統。
本發明之目的是提供一種備用區分配方法,應用于具有多個備用區的光盤。該備用區分配方法包含:分別將權重給予至少一部分該多個備用區中的各個備用區,用于為該光盤中至少一缺陷分配至少一替換單元。以及依據給予該各個備用區的權重,選擇該多個備用區中的一者。
本發明的另一目的是提供一種機備用區分配系統,用于具有讀寫頭的光驅以存取光盤,該光盤具有多個備用區,該備用區分配系統包含:內存,用于儲存該多個備用區的數據;以及控制單元,用于依據該多個備用區的數據將權重給予至少一部分該多個備用區中的各個備用區,并依據給予該各個備用區的權重選擇其中一備用區用于為缺陷分配替換單元。
本發明同時提供一種備用區分配方法,包含:檢測光盤上的缺陷,該光盤具有多個備用區;估計從該缺陷到至少一部分該多個備用區中的各個備用區的尋軌時間;比較該多個尋軌時間;以及選擇該多個備用區中的一者以為該缺陷分配替換單元,該備用區具有最短尋軌時間。
本發明同時提供一種備用區分配方法,包含:檢測光盤上的缺陷,該光盤具有多個備用區。決定在相關于該缺陷的預定范圍內是否存在舊缺陷。以及若在該預定范圍內找到舊缺陷,選定該舊缺陷的替換單元,該替換單元已被分配至該多個備用區中的一者。
本發明同時提供一種備用區分配方法,包含:檢測光盤上的缺陷,該光盤具有多個備用區。決定是否存在指定該多個備用區中的特定備用區的外部命令。以及依據該外部命令選定該多個備用區中的該特定備用區,用于為該缺陷分配替換單元。
通過依據不同情形給予各個備用區權重,本發明提供的備用區分配系統及方法能夠有效的為光盤缺陷選擇最適當的備用區利用,有效縮短存取所需的時間,提高了讀取/寫入光盤時的存取效率。
【附圖說明】
圖1是依據本發明提供具有備用區分配系統的光驅的方框示意圖。
圖2是本發明一實施例備用區分配方法的方框示意圖。
圖3是依據本發明另一實施例備用區分配方法的方框示意圖。
圖4是依據本發明又一實施例備用區分配方法的方框示意圖。
圖5是依據本發明一實施例備用區分配方法的流程圖。將結合圖5和圖1詳細闡述此實施例的流程。
【具體實施方式】
將結合圖式對本發明的實施例作詳細闡述。以下將以雙層(DL)藍光雷射光盤作為一范例加以描述,但本發明也可應用其它適當類型光盤或具有其它數量層的藍光雷射光盤。DL藍光雷射光盤有兩層,0層和1層。DL藍光雷射光盤具有四個備用區,在0層上的備用區ISA0、OSA0,以及1層上的備用區ISA1、OSA1。
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