[發(fā)明專利]光盤裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200710104877.5 | 申請日： | 2007-05-23 |
| 公開（公告）號： | CN101086865A | 公開（公告）日： | 2007-12-12 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 藤田浩司 | 申請（專利權(quán)）人： | 株式會社日立制作所 |
| 主分類號： | G11B7/09 | 分類號： | G11B7/09;G02B7/04 |
| 代理公司： | 北京紀凱知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人： | 龍淳 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 光盤 裝置 | ||
1.一種光盤裝置，具有從光盤記錄或再現(xiàn)信息的光頭部，其特征在于，包括：
跟蹤伺服單元；
用于校正球面像差的透鏡；和
對因所述透鏡的位移而使光盤上的激光點位置在徑向發(fā)生位移的所述透鏡的位移量進行檢測的透鏡位置檢測單元，
把所述透鏡位置檢測單元的結(jié)果與所述跟蹤伺服單元進行加法運算。
2.一種光盤裝置，具有從光盤記錄或再現(xiàn)信息的光頭部，其特征在于，包括：
跟蹤伺服單元；
用于校正球面像差的透鏡；和
對因所述透鏡的位移而使光盤上的激光點位置在徑向發(fā)生位移的所述透鏡的位移的加速度進行檢測的透鏡加速度檢測單元；
把所述透鏡加速度檢測單元的結(jié)果向所述跟蹤伺服單元進行負反饋控制。
3.一種光盤裝置，具有從光盤記錄或再現(xiàn)信息的光頭部，其特征在于，包括：
跟蹤伺服單元；
用于校正球面像差的透鏡；
對因所述透鏡的位移而使光盤上的激光點位置在徑向發(fā)生位移的所述透鏡的位移量進行檢測的第一透鏡位置檢測單元；
把所述第一透鏡位置檢測單元的結(jié)果與所述跟蹤伺服單元進行加法運算，對因所述透鏡的位移而使光盤上的激光點位置在切向發(fā)生位移的所述透鏡的位移量進行檢測的第二透鏡位置檢測單元；
由所述第二透鏡位置檢測單元的結(jié)果判斷所述第二透鏡的位移量的判斷單元，
根據(jù)所述判斷單元的判斷結(jié)果，停止所述記錄控制單元。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息，商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于株式會社日立制作所，未經(jīng)株式會社日立制作所許可，擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/200710104877.5/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
