[發明專利]計算循環冗余校驗碼之方法及系統無效
| 申請號: | 200710097966.1 | 申請日: | 2007-04-25 |
| 公開(公告)號: | CN101296053A | 公開(公告)日: | 2008-10-29 |
| 發明(設計)人: | 鐘勝民;王俊堯;李曉暉 | 申請(專利權)人: | 財團法人工業技術研究院 |
| 主分類號: | H04L1/00 | 分類號: | H04L1/00;H04L1/18;H04L29/06 |
| 代理公司: | 北京律盟知識產權代理有限責任公司 | 代理人: | 王允方;徐永樂 |
| 地址: | 中國臺*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 計算 循環 冗余 校驗碼 方法 系統 | ||
1.一種計算循環冗余校驗碼的方法,其包括以下步驟:
根據消息的片段計算片段循環冗余校驗碼;
產生第一碼,所述第一碼具有所述片段循環冗余校驗碼,所述第一碼的其它位設定為零;和
根據所述第一碼計算調整后的循環冗余校驗碼。
2.根據權利要求1所述的方法,其另外包括展開步驟,由所述第一碼展開成多個第二碼,所述片段循環冗余校驗碼具有多個子字節,其分別展開到所述第二碼的最高字節,所述第二碼的其它字節為零。
3.根據權利要求2所述的方法,其另外包括循環冗余校驗碼運算步驟和異或運算步驟,依據所述第二碼,分別進行循環冗余校驗碼運算,以取得多個第三碼;異或運算所述第三碼,以計算得到所述調整后的循環冗余校驗碼。
4.根據權利要求2所述的方法,其另外包括查表步驟和異或運算步驟,依據所述第二碼,在至少一存儲器處相應取得多個第三碼,所述第三碼對應于所述第二碼的循環冗余校驗運算結果;異或運算所述第三碼,以計算得到所述調整后的循環冗余校驗碼。
5.根據權利要求4所述的方法,其中所述存儲器包括多個塊,每一塊存儲相應子字節的多個循環冗余校驗運算結果。
6.根據權利要求1所述的方法,其另外包括以下步驟:
分解所述第一碼的多個零字節,所述零字節的字節數為第一階數值,依據2的冪次方的組合數將所述第一階數值分解為多個第二階數值;
由高到低從所述第二階數值取第二階處理數值,并由所述片段循環冗余校驗碼展開成多個第二碼,所述片段循環冗余校驗碼具有多個子字節,其分別展開到所述第二碼的最高字節,所述第二碼的其它字節為零,所述零字節的字節數為所述第二階處理數值加設定值;
依據所述第二碼,在至少一存儲器處相應取得多個第三碼,所述第三碼對應于所述第二碼的循環冗余校驗運算結果;
異或運算所述第三碼,以計算得到迭代結果,用所述迭代結果取代所述片段循環冗余校驗碼;和
重復上述展開步驟、查表步驟和異或運算步驟,直到最低的第二階處理數值,所述迭代結果為所述調整后的循環冗余校驗碼。
7.根據權利要求6所述的方法,其中所述片段循環冗余校驗碼具有四個子字節,其分別展開到四個第二碼的最高字節,四個第二碼的所述零字節的字節數目分別為所述第二階處理數值加三、所述第二階處理數值加二、所述第二階處理數值加一和所述第二階處理數值加零。
8.根據權利要求7所述的方法,其中在查表步驟中利用四個存儲器,所述四個存儲器分別存儲對應于四個第二碼的循環冗余校驗運算結果。
9.根據權利要求1所述的方法,其另外包括以下步驟:
分解所述第一碼的多個零字節,所述零字節的字節數為第一階數值,依據2的冪次方的組合數分解所述第一階數值為多個第二階數值;
由高到低從所述第二階數值取第二階處理數值;
依據第一選擇信號,切換控制取得所述片段循環冗余校驗碼或迭代結果,所述片段循環冗余校驗碼和所述迭代結果均具有多個子字節;
依據第二選擇信號,切換控制取得所述子字節中的一者;
依據所述子字節和所述第二階處理數值,在至少一個存儲器處取得第三碼,所述第三碼對應于第二碼的循環冗余校驗運算結果,所述第二碼的最高字節為所述子字節,所述第二碼的其它字節為零,所述零字節的字節數為所述第二階數值;
依據第三選擇信號,切換控制所述第三碼或異或運算結果為第一中段循環冗余校驗運算結果;
運算在所述第一中段循環冗余校驗運算結果之后補一個零字節的循環冗余校驗運算結果,以得到第二中段循環冗余校驗運算結果;
異或運算所述第三碼和所述第二中段循環冗余校驗運算結果,以計算得到所述異或運算結果;和
依據致能信號,控制所述第一中段循環冗余校驗運算結果是否輸出為所述迭代結果;
重復上述切換控制取得其中一子字節之后的所有步驟,由高位到低位,直到取得所述子字節的最低子字節;和
重復上述取所述第二階處理數值之后的所有步驟,由高數值到低數值,直到取得所述第二階數值的最小數值,所述迭代結果為所述調整后的循環冗余校驗碼。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于財團法人工業技術研究院,未經財團法人工業技術研究院許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200710097966.1/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:集成電路設計的驗證方法及裝置
- 下一篇:液晶顯示器裝置及信號傳遞單元與方法





