[發明專利]密封測試裝置及其方法有效
| 申請號: | 200710094194.6 | 申請日: | 2007-11-02 |
| 公開(公告)號: | CN101424581A | 公開(公告)日: | 2009-05-06 |
| 發明(設計)人: | 曹玲玲 | 申請(專利權)人: | 英華達(上海)科技有限公司 |
| 主分類號: | G01M3/26 | 分類號: | G01M3/26 |
| 代理公司: | 上海浦一知識產權代理有限公司 | 代理人: | 丁紀鐵 |
| 地址: | 201114上海市閔*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 密封 測試 裝置 及其 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種測試裝置及其方法,且特別是涉及一種密封測試裝置及其方法。
背景技術
近年來,隨著科技與信息的日新月異,電子產品的制造技術亦日漸進步。在現代人追求輕便性與實用性的考慮下,電子產品不但追求輕、薄、短、小的特性,更要有優良的防水性能。特別是強調運動功能的產品,由于其需要在汗水或潮濕的環境下工作,因此防水性能的優劣往往是消費者考慮是否購買的要素。
目前電子產品做防水測試的方法主要有兩種,一種是直接將電子產品浸泡于水中,接著再檢測水是否泄漏至電子產品中。然而,此種測試不但耗時較長,且經過測試的電子產品將無法正常出貨。
另一種則是真空測試,但電子產品置放于真空環境中將導致內部電子組件損壞,因此測試后的電子產品也將無法正常出貨。綜以上所述,兩種習知的防水測試方法都只能針對局部電子產品做少量的抽測,而無法全面或大量的測試,因此難以確保電子產品的質量。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是提供一種密封測試裝置,用以對電子產品做防水測試,且不會對電子產品產生傷害。為此,本發明還要提供一種密封測試方法,其可對電子產品做全面性的防水測試,以確保電子產品的質量。
為解決上述技術問題,本發明密封測試裝置包含測試腔、壓力計、調壓閥、氣體源、閥門、平衡腔及卸壓閥。其中,測試腔系用以容置待測物體,且此測試腔具有氣體入口與氣體出口。壓力計連接測試腔,用以偵測測試腔的內部壓力。調壓閥連接測試腔的氣體入口。氣體源連接調壓閥。閥門連接測試腔的氣體出口。平衡腔連接該閥門;以及卸壓閥,連接該平衡腔。
本發明密封測試方法包含下列步驟:
(1)將氣體充入含待測物體的測試腔中,使得測試腔的內部壓力提升至預定壓力。
(2)待測試腔的內部壓力提升至預定壓力后,將測試腔密封一預定時間。
(3)取得測試腔的內部壓力的變化。也就是說,若測試腔的內部壓力于預定時間內下降,則代表待測物體的密封或防水性能有缺陷。
當該測試腔的內部壓力于該預定時間內未下降時,開啟該測試腔與一平衡腔間的連接;
待該測試腔與該平衡腔內的壓力平衡后,判斷該測試腔與該平衡腔內的壓力是否大于一理論壓力值;以及
當該測試腔與該平衡腔內的壓力大于該理論壓力值時,取得與該理論壓力值的差值。
綜以上所述,本發明系以氣壓來測試待測物體的密封或防水性能,因此對電子產品將不會產生傷害。此外,由于氣體對電子產品不會產生傷害,因此制造者將可依據本發明對量產的電子產品實施全面或大量的測試,以確保電子產品的質量。
附圖說明
下面結合附圖和實施例對本發明作進一步詳細的說明:
圖1本發明一實施例的密封測試裝置的一種示意圖。
圖2是應用圖1的密封測試裝置的步驟流程圖。
圖3是圖1的調壓閥的細部示意圖。
圖中附圖標記為:110-測試腔;112-氣體入口;114-氣體出口;120-壓力計;130-調壓閥;132-第一減壓閥;134-第二減壓閥;140-氣體源;150-閥門;160-平衡腔;170-卸壓閥;210~290-步驟。
具體實施方式
以下將以附圖及詳細說明清楚說明本發明的精神,如熟悉此技術的人員在了解本發明的實施例后,當可由本發明所教示的技術,加以改變及修飾,其并不脫離本發明的精神與范圍。
參照圖1,其繪示依照本發明一實施例的密封測試裝置的一種示意圖。如圖1所示,一種密封測試裝置包含測試腔110、壓力計120、調壓閥130、氣體源140及閥門150。其中,測試腔110系用以容置待測物體,且此測試腔110具有氣體入口112與氣體出口114。壓力計120連接測試腔110,用以偵測測試腔110的內部壓力。調壓閥130連接測試腔110的氣體入口112。氣體源140連接調壓閥130。閥門150連接測試腔110的氣體出口114。
一并參照圖1與圖2,其中圖2系繪示應用圖1的密封測試裝置的步驟流程圖。此外,圖2亦可視為揭露了一種密封測試方法,此密封測試方法包含下列步驟:
(1)將氣體充入含待測物體的測試腔110中,使得測試腔110的內部壓力提升至預定壓力(步驟210)。更具體地說,此步驟210系可藉由氣體源140來將氣體推入測試腔110中。其中,上述氣體源140的實施方式可為空壓機或各類高壓氣瓶。
(2)待測試腔110的內部壓力提升至預定壓力后,將測試腔110密封一預定時間(步驟220)。更具體地說,此步驟220系可藉由關閉調壓閥130與閥門150來達成。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于英華達(上海)科技有限公司,未經英華達(上海)科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200710094194.6/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:萬向輪
- 下一篇:一種安全升降式瓦楞紙板印刷機





