[發明專利]具有表面結構的光學膜無效
| 申請號: | 200710091143.8 | 申請日: | 2007-04-10 |
| 公開(公告)號: | CN101285899A | 公開(公告)日: | 2008-10-15 |
| 發明(設計)人: | 郭浩然 | 申請(專利權)人: | 光耀科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G02B5/00 | 分類號: | G02B5/00;G02B5/04;G02F1/13357 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 | 代理人: | 周長興 |
| 地址: | 臺灣省*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 具有 表面 結構 光學 | ||
技術領域
本發明是有關光學膜,尤其是有關用于液晶顯示器(LCD,LiquidCrystal?Display)的背光系統或其它需要的具有復數棱鏡柱結構的光學膜。
背景技術
請參閱圖1所示。一般液晶顯示器的背光系統,包括冷陰極燈管(CCFL)11、導光板(LGP)12、下擴散片(Bottom?diffuser)13、聚光片(Prismsheet)14、上擴散片(Top?diffuser)15及反射板(Reflector)16所組成。
請參閱圖2所示。公知聚光片14是由復數個縱向平行排列的三角形的棱鏡柱(Prism?rod)141及基材(Substrate)142所組成。棱鏡柱141結合于基材142的一側邊。每一菱鏡柱141的高度、寬度相同,且棱鏡柱141的棱線高度不變,走向為直線,棱線兩側的斜面相對稱。
請參閱圖3所示。聚光片14的光學路徑模式有三種:
1、全反射回收(TRI?Recycle):
光線143由棱鏡柱141內約在垂直棱鏡柱141底面的虛擬垂直軸140的±4°內射入時,受棱鏡斜面柱141的全反射現象影響,經兩次全反射后,回收至背后光源方向,繼續擴散傳播利用;
2、二次折射回收(2nd?Reflection?Recycle):
光線144經由兩組棱鏡柱141的折射后,再回收至背后光源方向,繼續擴散傳播利用;及
3、直接折射(Directed?Reflective):
光線145經由棱鏡柱141的斜面折射出,此光路模式有集中光線的作用;如圖3中所示,由棱鏡柱141的視角80°范圍內折射出的光線才有利用價值。
請參閱圖4所示。上述具有復數縱向平行規律排列的棱鏡柱141的聚光片14,當其上方迭置一上擴散片15或另一聚光片等上層材料膜時,會產生如下問題:
1、容易發生光色散的現象。
2、容易發生迭紋的現象。
3、聚光片14與上層的上擴散片15之間會有沾粘的問題。
4、聚光片14與上擴散片15沾粘的區域151,在大視角觀察時有白斑的現象。
5、聚光片14于沾粘的區域151的峰(Peak)直接與上擴散片15等上層材料膜接觸容易刮傷上層材料膜。
美國專利第5,919,551號所揭示一種變化間距結構的光學膜(Variablepitch?structured?optical?film),包含至少三個相鄰棱鏡柱之間具有第一種峰間距(Peak?pitch)的第一組棱鏡柱,及第二組棱鏡柱;第一組棱鏡柱的峰間距不同于第二組棱鏡柱的峰間距,以減少穆爾干涉條紋(Moire?interferencepatterns)的能見度。
發明內容
為了使光學膜具有新的結構,減少光學膜與其它材料膜相迭時容易發生光色散及迭紋的現象,而提出本發明。
為實現上述目的,本發明提供的具有表面結構的光學膜,用以減少光學膜與其它材料膜相迭時發生光色散及迭紋的現象者,包括一基材,可供光線穿射通過;該基材的一表面包含有復數縱向接近平行排列的復數光控制組件;該等光控制組件分別具有峰;該等相鄰的峰之間分別具有谷;該等相鄰的谷之間分別具有谷間距;該等峰分別具有峰頂角;該等谷分別具有谷底角;其中:該等光控制組件的峰的高度呈周期性的變化。
所述的具有表面結構的光學膜,其中,該等光控制組件的峰的高度呈弦波式變化。
所述的具有表面結構的光學膜,其中,該等谷之間的谷間距隨峰的高度變化呈等比變化。
所述的具有表面結構的光學膜,其中,該等光控制組件的峰頂角均相等。
所述的具有表面結構的光學膜,其中,該等光控制組件的谷底角均相等。
所述的具有表面結構的光學膜,其中,該等光控制組件中任兩個峰之間的高度差在5微米至1微米之間。
所述的具有表面結構的光學膜,其中,該等峰中最高的峰為最低的峰之高度的1.2倍至1.05倍之間。
所述的具有表面結構的光學膜,其中,該等峰的高度變化周期約包含40~400個峰。
所述的具有表面結構的光學膜,其中,該等光控制組件的峰的高度呈鐘擺狀周期性的變化,即每個峰的兩斜面的中分線會隨位置不同成鐘擺狀周期性的左右傾斜。
所述的具有表面結構的光學膜,其中,該每個峰與最高的峰的高度差hd的值由下式獲得:
hd=Lr(1-cosθ),
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