[發明專利]光拾取器裝置和具有它的光盤裝置

有效

• 申請號: 200710091083.X
• 申請日: 2007-04-06
• 公開（公告）號: CN101165790A
• 公開（公告）日: 2008-04-23
• 發明（設計）人: 神定利昌;北田保夫;山崎和良;川村友人;小西義郎
• 申請（專利權）人: 日立視聽媒介電子股份有限公司
• 主分類號: G11B7/125
• 分類號: G11B7/125;G11B7/13;G11B7/09
• 代理公司: 北京紀凱知識產權代理有限公司
• 代理人: 龍淳

1.一種光學頭，用于將光束照射在具有相互以規定間隔離開而疊層的多個信息記錄層的光盤上，并檢測來自所述光盤的反射光束，其特征在于，具有：

光源；

用于將從所述光源射出的光束匯聚在所述光盤上的物鏡；

用于將由所述光盤反射的光束分割成多束光束的分割元件；

用于匯聚由所述光盤反射的光束的聚光透鏡；以及

用于將由所述聚光透鏡匯聚的光束由多個受光部接收而變換成電信號的光檢測器，

其中，所述分割元件具有：

配置在大致中央的第一分割區域；

被第一分割線區分，并且由沿著第一分割線的方向隔著所述第一分割區域而配置的四個區域構成的第二分割區域；以及

被與所述第一分割線正交的第二分割線區分，并且由沿著所述第二分割線的方向隔著所述第一分割區域而配置的四個區域構成的第三分割區域，

所述第一至第三分割區域的各區域構成為：當在所述光盤的目的信息記錄層對焦時，來自所述目的信息記錄層的反射光束在所述光檢測器的受光部上聚焦，來自所述目的信息記錄層以外的記錄再現層的反射光束不照射所述光檢測器的所述受光部。

2.如權利要求1所述的光學頭，其特征在于：

由通過所述第二分割區域的光束檢測刀口法產生的聚焦誤差信號，

由通過所述第二分割區域和第三分割區域的光束檢測跟蹤誤差信號，

由通過所述第三分割區域的光束檢測所述跟蹤誤差信號的偏差修正信號，

由通過所述第一、第二和第三分割區域的光束檢測再現信號。

3.如權利要求1所述的光學頭，其特征在于：

在所述分割元件的各區域上形成有衍射光柵，

通過由所述第二分割區域衍射的-1次衍射光檢測聚焦誤差信號，

使用由所述第二和第三分割區域衍射的+1次衍射光檢測跟蹤誤差信號，

通過由所述第三分割區域衍射的-1次衍射光檢測跟蹤誤差信號的偏差修正信號，

通過由所述第一、第二和第三分割區域衍射的+1次衍射光之和檢測再現信號。

4.如權利要求3所述的光學頭，其特征在于：

所述衍射光柵形成為使得由所述分割元件的各區域衍射的+1次衍射光的光量大于-1次衍射光的光量。

5.一種光盤裝置，其特征在于，包括：

權利要求1所述的光學頭；

用于驅動所述光源的激光器驅動電路；

用于根據所述光學頭的光檢測器的輸出信號生成伺服信號的伺服信號生成電路；

用于根據所述光學頭的光檢測器的輸出信號再現記錄在所述光盤中的信息的信息信號再現電路；以及

控制所述激光器驅動電路、所述伺服信號生成電路和所述信息信號再現電路的系統控制電路。

6.一種光拾取器裝置，其特征在于，具有：

射出激光的半導體激光器；

將從所述半導體激光器射出的光束照射在光盤上的物鏡；以及

接收從光盤反射的光束的光檢測器，

其中，所述光檢測器包括具有區域1、區域2、區域3、區域4等四個區域的受光部，

所述受光部的區域1和區域3與區域2和區域4相對于所述受光部的中心線線對稱，

所述受光部的區域1與區域2隨著離開所述中心線而寬度變窄，

輸出由所述受光部的區域1、區域2、區域3、區域4檢測到的信號。

7.一種光拾取器裝置，其特征在于，具有：

射出激光的半導體激光器；

將從所述半導體激光器射出的光束照射在光盤上的物鏡；

使從光盤反射的光束分支的衍射光柵；以及

接收由所述衍射光柵分支的光束的光檢測器，

其中，所述衍射光柵具有區域1、區域2、區域3、區域4的四個區域，

所述衍射光柵的區域1和區域3與區域2和區域4相對于所述衍射光柵的中心線線對稱，

所述衍射光柵的區域1與區域2隨著離開所述中心線而寬度變窄，

輸出根據所述衍射光柵的區域1、區域2、區域3、區域4的衍射光檢測到的信號。