[發(fā)明專利]MAX724芯片檢測(cè)電路及其檢測(cè)方法

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200710077538.2
• 申請(qǐng)日: 2007-11-30
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN101452026A
• 公開(kāi)（公告）日: 2009-06-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 高云峰;張政
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市大族激光科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/00
• 分類號(hào): G01R31/00;G01R31/28
• 代理公司: 深圳市科吉華烽知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所
• 代理人: 胡吉科

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種MAX724芯片檢測(cè)電路及其檢測(cè)方法。

背景技術(shù)

相對(duì)于線性穩(wěn)壓器來(lái)說(shuō)，開(kāi)關(guān)電源在計(jì)算機(jī)主板上、工控機(jī)主板和各種各樣的電路板上起著電壓變換的作用。例如電路板上只有DC24V電壓，但是，還需要Dc5V/2A的電源，這么高的壓降，使用線性穩(wěn)壓器顯然不合適，如果使用DC/DC模塊，成本太高，體積也比較大，所以，得選用一款芯片完成這個(gè)功能。MAX724這款芯片就是起電壓變換作用的，且因其輸入只要在它的允許的范圍內(nèi)波動(dòng)，或者負(fù)載在變化，輸出DC5V電源十分穩(wěn)定，所以其選用一直得到用戶的睛睞?？vMAX724這款芯片有良好的性能，但卻不能確保其有良好的品質(zhì)，所以在使用前，用戶一般需檢測(cè)其品質(zhì)是否優(yōu)良，因此設(shè)計(jì)出一套能檢測(cè)MAX724這款芯片品質(zhì)優(yōu)劣的檢測(cè)裝置或檢測(cè)方法勢(shì)在必行。

發(fā)明內(nèi)容

為了克服現(xiàn)有技術(shù)中用戶只能靠直接使用而在使用過(guò)程中才能發(fā)現(xiàn)MAX724這款芯片優(yōu)劣的技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明提供了一種能夠能方便快速地檢測(cè)MAX724功能是否正常的MAX724芯片檢測(cè)電路及其檢測(cè)方法。

本發(fā)明解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是：一種MAX724芯片檢測(cè)電路，包括一個(gè)電感、一個(gè)電位器、一個(gè)電阻及一個(gè)二極管，所述電感、電位器、電阻及二極管串聯(lián)連接成回路，MAX724芯片的兩引腳并聯(lián)接入所述回路中。

本發(fā)明進(jìn)一步解決技術(shù)問(wèn)題的方案是：所述回路中電感、電位器、電阻和二極管依次連接，所述檢測(cè)電路包括一電容并聯(lián)在所述回路中，其中電容的兩端分別接在回路中電感與電位器之間及電阻與二極管之間。

本發(fā)明進(jìn)一步解決技術(shù)問(wèn)題的方案是：所述電感值為68uH，所述電容為電解電容。

本發(fā)明進(jìn)一步解決技術(shù)問(wèn)題的方案是：所述檢測(cè)電路中還包括由一個(gè)電阻及一個(gè)電容串聯(lián)形成的補(bǔ)償電路。

本發(fā)明進(jìn)一步解決技術(shù)問(wèn)題的方案是：所述電容為瓷片電容。

本發(fā)明進(jìn)一步解決技術(shù)問(wèn)題的方案是：所述補(bǔ)償電路中還串聯(lián)接有電源輸入插座及開(kāi)關(guān)。

本發(fā)明進(jìn)一步解決技術(shù)問(wèn)題的方案是：所述補(bǔ)償電路中還并聯(lián)接入至少一個(gè)電解電容。

本發(fā)明解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的另一技術(shù)方案是：一種檢測(cè)MAX724芯片的方法，主要包括以下步驟：

提供一個(gè)電路，接入MAX724的引腳；

打開(kāi)電路中的開(kāi)關(guān)；

調(diào)節(jié)電路中的電位器；

讀取MAX724的電壓值是否在所需電壓范圍內(nèi)。

本發(fā)明進(jìn)一步解決技術(shù)問(wèn)題的方案是：所述電路包括由一個(gè)電感、一個(gè)電位器、一個(gè)電阻及一個(gè)二極管串聯(lián)連接成的回路。

相較于現(xiàn)有技術(shù)，采用上述技術(shù)方案，本發(fā)明的有益效果是：測(cè)試電路可通過(guò)調(diào)節(jié)50KΩ電位器，測(cè)試MAX724輸出電壓范圍是否在2.5V-35V之間；其電路結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，操作方法簡(jiǎn)單，使用方便，檢測(cè)結(jié)果可信。

附圖說(shuō)明

圖1是本發(fā)明芯片的檢測(cè)裝置的電路圖。

具體實(shí)施方式

結(jié)合上述的附圖說(shuō)明本發(fā)明的各種實(shí)施例。

本發(fā)明檢測(cè)裝置包括待測(cè)的MAX724芯片1及檢測(cè)該芯片1的電路板，該電路板的電路圖如圖1所示。其包括由50KΩ電位器10、68uH電感20、R2電阻30、100S20B二極管40組成的回路；在電路中，50KΩ電位器10為可調(diào)電位器，該電位器10與R2電阻30組成分壓電路，共同控制MAX724芯片1的輸出電壓；68uH電感20用于輸出端濾波及儲(chǔ)能；R2電阻30用于Fb反饋端的電壓采樣；100S20B二極管40用于輸出端的續(xù)流。在上述回路中的電感20與電位器10之間及電阻30與二極管40之間引出連線并聯(lián)接入電解電容C3，該電容用于輸出端的濾波。在電感20與二極管40之間及電位器10與電阻30之間分別引出連線接入MAX724芯片1的接腳。

在電路中，另包括SW開(kāi)關(guān)50和2510-2P插座60，以及電阻R1及瓷片電容C4，其中，SW開(kāi)關(guān)50作為輸入電源的開(kāi)關(guān)使用，2510-2插座60為輸入電源的接口；電阻R1及瓷片電容C4用于電路補(bǔ)償。在該補(bǔ)償電路中分別并聯(lián)接入兩個(gè)100uF/50V電解電容C1、C2，作為輸入端濾波電容，本發(fā)明采用兩個(gè)電解電容C1、C2并聯(lián)，可以增大容量，同時(shí)可減小ESD。

本發(fā)明采用上述檢測(cè)電路檢測(cè)MAX724芯片的方法，主要包括以下步驟：

提供一個(gè)電路，接入MAX724的四個(gè)引腳；

打開(kāi)電路中的開(kāi)關(guān)；

調(diào)節(jié)電路中的電位器；

讀取MAX724的電壓值是否在所需電壓范圍內(nèi)。