[發明專利]粉體材料電導率測量方法及適用該方法的電導率測量裝置

有效

• 申請號: 200710075037.0
• 申請日: 2007-06-14
• 公開（公告）號: CN101324538A
• 公開（公告）日: 2008-12-17
• 發明（設計）人: 駱兆軍;毛煥宇;肖斌;胡領坡
• 申請（專利權）人: 深圳市比克電池有限公司
• 主分類號: G01N27/02
• 分類號: G01N27/02
• 代理公司: 深圳創友專利商標代理有限公司
• 代理人: 彭家恩

1.一種粉體材料電導率測量方法，其特征在于：包括以下步驟：

a、使被測粉體保持柱狀并通過壓力機向該柱狀粉體施加一定的壓力 P，至該柱狀粉體保持形狀穩定；步驟a這樣實現：將被測粉體置于直筒形 空腔內，從該直筒形空腔的一端或同時從該直筒形空腔的兩端向被測粉體 施加一定的壓力P，具體采用兩個活塞從兩側將被測粉體封堵在所述直筒 形空腔內并使被測粉體保持柱狀，該兩個活塞中的一個或兩個向被測粉體 施加一定的壓力P，至被測粉體保持形狀穩定，兩個所述活塞為電阻值可 知的導電體，兩個所述活塞各自的遠離被測粉體的一端為錐形；

b、測量此時該柱狀粉體的長度L、橫截面積S，以及所述柱狀粉體的 電阻值R；

c、通過以下公式：

σ＝L/(R×S)

計算該柱狀粉體的電導率。

d、改變壓力P，在每一壓力值下重復步驟a、b和c，得到與各壓力P 相對應的柱狀粉體電導率值σ，相應地得出柱狀粉體電導率σ隨壓力P變 化的關系。

2.根據權利要求1所述的粉體材料電導率測量方法，其特征在于：步 驟b中測量所述柱狀粉體的電阻值R的過程這樣實現：采用電阻測量儀器， 測量時該電阻測量儀器的兩個測試端子分別與兩個所述活塞各自的遠離被 測粉體的一端接觸，所得電阻數據減去兩個所述活塞的阻值即得所述柱狀 粉體的電阻值R。

3.根據權利要求2所述的粉體材料電導率測量方法，其特征在于：所 述兩個活塞中至少一個上設有將所述直筒形空腔與外部空間連通的排氣 孔，在所述活塞向被測粉體施加一定的壓力P時所述直筒形空腔內的氣體 從該排氣孔排出。

4.根據權利要求3所述的粉體材料電導率測量方法，其特征在于：兩 個所述活塞的材質采用銅或金。

5.適用權利要求1所述測量方法的電導率測量裝置，其特征在于：包 括帶有直筒形空腔且與被測粉體絕緣的粉體容器、兩個可將被測粉體封閉 在所述直筒形空腔內并使被測粉體保持柱狀的導電活塞、可向兩個所述活 塞中至少一個施加定量壓力的加壓裝置、電阻測量儀器，兩個所述活塞各 自的遠離被測粉體的一端為錐形。

6.根據權利要求5所述的電導率測量裝置，其特征在于：所述兩個活 塞中至少一個上設有將所述直筒形空腔與外部空間連通的排氣孔，在所述 活塞向被測粉體施加一定的壓力P時所述直筒形空腔內的氣體從該排氣孔 排出。

7.根據權利要求6所述的電導率測量裝置，其特征在于：所述活塞為 導電體；兩個所述活塞的材質采用銅或金。