[發明專利]一種測試芯片的方法及裝置無效
| 申請號： | 200710063930.1 | 申請日： | 2007-02-14 |
| 公開（公告）號： | CN101038325A | 公開（公告）日： | 2007-09-19 |
| 發明（設計）人： | 崔云飛;吳大畏 | 申請（專利權）人： | 北京中星微電子有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/3177 | 分類號： | G01R31/3177;G01R31/317 |
| 代理公司： | 北京同達信恒知識產權代理有限公司 | 代理人： | 黃志華 |
| 地址： | 100083北京市*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 測試 芯片 方法 裝置 | ||
【權利要求書】：
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