[發(fā)明專利]在納米棒的氧化鋅上生長(zhǎng)無(wú)支撐的氮化鎵納米晶的方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200710063881.1 | 申請(qǐng)日: | 2007-02-14 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101245491A | 公開(kāi)(公告)日: | 2008-08-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 胡衛(wèi)國(guó);魏鴻源;焦春美;劉祥林 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院半導(dǎo)體研究所 |
| 主分類號(hào): | C30B29/38 | 分類號(hào): | C30B29/38;C30B25/18 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 | 代理人: | 湯保平 |
| 地址: | 100083北*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 納米 氧化鋅 生長(zhǎng) 支撐 氮化 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體材料的外延生長(zhǎng)方法,主要指在納米棒的氧化鋅上生長(zhǎng)無(wú)支撐的氮化鎵納米晶的方法。
背景技術(shù)
GaN是一種重要的第三代半導(dǎo)體材料,GaN基光電器件在許多重要的領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用前景,例如:白光照明工程,高密度光存儲(chǔ),寬帶通訊等。目前,許多實(shí)驗(yàn)室已經(jīng)研制了高性能的GaN基光電器件,然而,繁瑣的工藝,高昂的成本和較低的成品率限制了這些光電器件在商業(yè)領(lǐng)域的推廣和應(yīng)用。襯底剝離工藝是研制大多數(shù)GaN基光電器件必不可少的中間環(huán)節(jié),現(xiàn)在常用的剝離工藝是大功率激光剝離,這種工藝中存在以下三個(gè)缺點(diǎn):
1)大功率激光器成本昂貴,而且易于損耗,這極大的增加了GaN基光電器件的成本;
2)大功率激光剝離不可避免的損傷了GaN的晶體學(xué)、光和電學(xué)特性,這極大的抑制了GaN基光電器件的光電性能和成品率;
3)額外的剝離工藝使GaN基光電器件更為繁瑣。因此,更為簡(jiǎn)易有效的剝離工藝能促進(jìn)GaN基光電器件的商業(yè)應(yīng)用。
此外,低維納米材料能通過(guò)控制納米結(jié)構(gòu)的尺度和形狀,實(shí)現(xiàn)半導(dǎo)體材料的能帶裁剪,從而獲得獨(dú)特的光學(xué)和電學(xué)性質(zhì)。因此,半導(dǎo)體材料的納米結(jié)構(gòu)有著廣泛的應(yīng)用前景,極大的提高了光電器件的內(nèi)量子效率,從而顯著的改善器件的光電性能。但是由于GaN具有較強(qiáng)的二維生長(zhǎng)特性,極易于形成膜狀結(jié)構(gòu),而難于獲得納米結(jié)構(gòu)。人們一般是通過(guò)昂貴的納米加工工藝設(shè)備,通過(guò)掩膜、光刻制備納米圖形模板,從而限制GaN的二維生長(zhǎng),獲得納米結(jié)構(gòu)的GaN。這種工藝盡管能極大的提高GaN器件的光電性能,但不可避免的使工藝更為復(fù)雜,增加了成本。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種在納米棒的氧化鋅上生長(zhǎng)無(wú)支撐的氮化鎵納米晶的方法,特指一種使用納米棒的ZnO作為模板,限制GaN的二維生長(zhǎng),從而獲得納米晶結(jié)構(gòu)的GaN;然后通過(guò)使用N2+H2混合載氣在高溫下刻蝕ZnO,直接獲得無(wú)支撐的GaN納米晶的工藝。
本發(fā)明提供一種在納米棒的氧化鋅上生長(zhǎng)無(wú)支撐的氮化鎵納米晶的方法,其特征在于,包含以下步驟:
步驟1:取一襯底,表面清洗后,放入金屬有機(jī)物化學(xué)氣相沉積設(shè)備的反應(yīng)室中;
步驟2:使用金屬有機(jī)物化學(xué)氣相沉積方法,在襯底上生長(zhǎng)納米棒的ZnO層,以用來(lái)限制后續(xù)生長(zhǎng)GaN的二維生長(zhǎng);
步驟3:用去離子水沖洗所生長(zhǎng)的納米棒的ZnO層,以清除表面的污染;
步驟4:在反應(yīng)室中,采用金屬有機(jī)物化學(xué)氣相沉積方法,使用純N2載氣在沖洗后的納米棒的ZnO層上生長(zhǎng)GaN納米晶層,納米晶的尺寸取決于納米棒的ZnO層的直徑;
步驟5:在反應(yīng)室中,使用N2+H2混合載氣刻蝕納米棒的ZnO層,完成無(wú)支撐的GaN納米晶層的生長(zhǎng)。
其中所述的襯底是C面藍(lán)寶石襯底。
其中納米棒的ZnO層是取向一致的納米棒,生長(zhǎng)方向是沿著ZnO層<0002>晶軸,并且ZnO層<0002>晶軸平行于藍(lán)寶石<0002>晶軸。
其中使用N2+H2混合載氣刻蝕納米棒的ZnO層是通過(guò)改變反應(yīng)室的N2+H2混合載氣的成分、溫度和刻蝕時(shí)間,從而控制ZnO層的刻蝕程度,最終獲得無(wú)支撐的GaN納米晶層。
其中反應(yīng)室的溫度是600℃至1100℃,刻蝕時(shí)間是30分鐘至1小時(shí)。
本發(fā)明與現(xiàn)有的技術(shù)相比,具有以下意義:
1、能獲得GaN納米晶。在通常條件下,GaN具有較強(qiáng)的二維生長(zhǎng),易形成薄膜結(jié)構(gòu),而難以形成納米結(jié)構(gòu)。但是,納米棒的ZnO作為模板,限制了GaN的二維生長(zhǎng),從而獲得GaN納米晶;
2、在金屬有機(jī)物沉淀的過(guò)程中,直接獲得無(wú)支撐的GaN納米晶,因此能省略成本高昂的大功率激光刻蝕工藝;
3、使用N2+H2混合載氣刻蝕納米棒的ZnO具有較好的均勻性,對(duì)GaN薄膜的晶體質(zhì)量的損傷較小,從而提高GaN基光電器件的成品率。
附圖說(shuō)明:
為了進(jìn)一步說(shuō)明本發(fā)明的特征和效果,下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步的說(shuō)明,其中:
圖1-圖3是在納米棒的氧化鋅上生長(zhǎng)無(wú)支撐的氮化鎵納米晶的步驟的截面示意圖,其中:
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