[發(fā)明專利]一種多晶刻蝕腔室中電極表面的清洗方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200710062734.2 | 申請日: | 2007-01-15 |
| 公開(公告)號: | CN101226873A | 公開(公告)日: | 2008-07-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 童翔 | 申請(專利權(quán))人: | 北京北方微電子基地設(shè)備工藝研究中心有限責(zé)任公司 |
| 主分類號: | H01L21/00 | 分類號: | H01L21/00;H01L21/3065;C23F4/00 |
| 代理公司: | 北京凱特來知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 鄭立明;任紅 |
| 地址: | 100016北京市*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 多晶 刻蝕 腔室中 電極 表面 清洗 方法 | ||
1.一種多晶刻蝕腔室中電極表面的清洗方法,其特征在于,包括以下步驟:
A、用固態(tài)二氧化碳CO2清洗電極表面;
B、對電極表面進行拋光處理,去除表面材料至消除表面缺陷與損傷;
C、對電極進行超聲波清洗、有機溶劑清洗與酸性溶液清洗。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多晶刻蝕腔室中電極表面的清洗方法,其特征在于,所述步驟A后包括:
用有機溶劑清洗去除硅材質(zhì)表面的有機雜質(zhì)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多晶刻蝕腔室中電極表面的清洗方法,其特征在于,所述的步驟B包括:
依次采用粒度由大至小的金剛石砂輪對電極表面進行拋光處理,直至電極表面滿足預(yù)定的性能要求。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的多晶刻蝕腔室中電極表面的清洗方法,其特征在于,所述的步驟C包括:
C1、將電極放入40℃至80℃的熱水中超聲清洗設(shè)定的時間,且在清洗時保持電極上下擺動;
C2、用有機溶劑擦拭、浸泡或噴淋電極,并用超純水噴淋電極;且此步驟可重復(fù)多次;
C3、用酸性溶液擦拭電極,并用超純水噴淋電極;且此步驟可重復(fù)多次。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的多晶刻蝕腔室中電極表面的清洗方法,其特征在于:所述的步驟C1前還包括:
C4、將電極放入70至90℃的水中浸泡0.5~1.5小時;
和/或,所述的步驟C3后還包括:
C5、將電極放入60℃的熱超純水中超聲清洗設(shè)定的時間;和/或,
C6、將零件在100℃~120℃環(huán)境下烘烤零件進行烘干處理。
6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的多晶刻蝕腔室中電極表面的清洗方法,其特征在于:所述的步驟C1、步驟C2、步驟C3和/或步驟C5后還包括:
用超純水噴淋電極,并用潔凈的氣體吹干電極表面。
7.根據(jù)權(quán)利要求1、2、3、4、或5所述的多晶刻蝕腔室中電極表面的清洗方法,其特征在于,所述的有機溶劑包括:
含量為100%的異丙醇;或者,
含量為100%的丙酮;
其中,所述的異丙醇符合SEMI標(biāo)準(zhǔn)C41-1101A的I級標(biāo)準(zhǔn);所述的丙酮滿足電子純級別要求。
8.根據(jù)權(quán)利要求1、2、3、4、或5所述的多晶刻蝕腔室中電極表面的清洗方法,其特征在于,所述的酸性溶液包括氫氟酸HF、硝酸HNO3、醋酸CH3COOH與水H2O,其含量體積百分比為:
HF?????????0.2%-1.0%
HNO3???????10%-40%
CH3COOH????10%-20%
H2O????????余量
其中各組份的含量各為100%。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





