[發(fā)明專利]檢測(cè)羥基自由基的納米銀分光光度法

無效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200710050561.2
• 申請(qǐng)日: 2007-11-15
• 公開（公告）號(hào): CN101158638A
• 公開（公告）日: 2008-04-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉慶業(yè);蔣治良;王素梅;梁愛惠
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 廣西師范大學(xué)
• 主分類號(hào): G01N21/17
• 分類號(hào): G01N21/17
• 代理公司: 桂林市華杰專利事務(wù)所有限責(zé)任公司
• 代理人: 巢雄輝

1.檢測(cè)羥基自由基的納米銀分光光度法，含有下述步驟：

(1)取定量的納米銀，與已知濃度的含有或可產(chǎn)生羥基自由基的被測(cè)物混勻，用水定容后形成被測(cè)體系；

(2)將被測(cè)體系轉(zhuǎn)移至比色皿，使用分光光度計(jì)于460nm處測(cè)定其吸光度A；

(3)取納米銀作空白對(duì)照，測(cè)定吸光度A₀；

(4)求得ΔA＝A₀-A；

(5)依照不同濃度的被測(cè)體系中羥基自由基的濃度C與ΔA值的對(duì)應(yīng)關(guān)系，作出標(biāo)準(zhǔn)曲線；

(6)按上述(1)～(4)的方法，測(cè)得某未知濃度被測(cè)體系的ΔA，依據(jù)(5)的標(biāo)準(zhǔn)曲線計(jì)算出未知濃度被測(cè)體系中羥基自由基的濃度。

2.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，其特征在于被測(cè)體系中納米銀的濃度為0.004～0.04mmol/L。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2的方法，其特征在于被測(cè)體系形成后，需在5min后移入比色皿測(cè)定吸光度。