[發(fā)明專利]大氣成分垂直分布探測的多軸差分吸收光譜方法與裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200710024299.4 | 申請日: | 2007-07-28 |
| 公開(公告)號: | CN101109699A | 公開(公告)日: | 2008-01-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 謝品華;李昂;劉文清;竇科;司福祺;陸志賢;張玉鈞;劉建國 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院安徽光學(xué)精密機械研究所 |
| 主分類號: | G01N21/31 | 分類號: | G01N21/31;G01N21/00 |
| 代理公司: | 安徽合肥華信知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 余成俊 |
| 地址: | 230031安徽省合*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 大氣 成分 垂直 分布 探測 多軸差分 吸收光譜 方法 裝置 | ||
1.大氣成分垂直分布探測的多軸差分吸收光譜方法,其特征在于設(shè)置多個望遠鏡,從地面不同俯仰角度觀測太空,探測和收集經(jīng)過大氣散射的太陽光,望遠鏡鏡筒進行表面處理染黑減少雜散光,散射的太陽光經(jīng)過望遠鏡中的透鏡、濾光片后會聚到光纖的端頭,濾光片濾除太陽光的長波波段,讓紫外光和可見光通過,多個望遠鏡筒尾端的光纖合束后將多束太陽散射光導(dǎo)入成像光譜儀的入射狹縫,光譜儀對太陽散射光進行色散后聚集在面陣成像CCD探測器的光敏面上,同時成像多條光譜,光譜信號經(jīng)A/D轉(zhuǎn)換后輸入計算機進行光譜數(shù)據(jù)分析和處理;同時設(shè)置溫濕度傳感器和雨滴傳感器,把溫濕度及是否下雨的信息傳給計算機;同時多個望遠鏡的俯仰角度調(diào)整由計算機控制步進電機通過機械傳動機構(gòu)實現(xiàn)。
2.大氣成分垂直分布探測的多軸差分吸收光譜的裝置,包括成像光譜儀、面陣成像CCD探測器,計算機,其特征在于有多個俯仰角度可調(diào)整的望遠鏡,每個望遠鏡的鏡筒內(nèi)安裝有凸透鏡、濾光片,鏡筒經(jīng)過表面處理染黑減少雜散光,鏡筒尾部安裝有光纖,光纖的端頭處于凸透鏡的焦點位置,濾光片濾除太陽光的長波波段,讓紫外光和可見光通過,各個望遠鏡尾部的光纖經(jīng)過合束后,接入成像光譜儀的入射狹縫,成像光譜儀對入射的太陽散射光進行色散后聚集在后續(xù)光路上的面陣成像CCD探測器的光敏面上,面陣成像CCD探測器的輸出信號經(jīng)過A/D轉(zhuǎn)換后輸入到計算機;同時另外設(shè)置溫濕度傳感器和雨滴傳感器的信號線與計算機連接。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國科學(xué)院安徽光學(xué)精密機械研究所,未經(jīng)中國科學(xué)院安徽光學(xué)精密機械研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200710024299.4/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





