[發明專利]用于Sigma-Delta A/D和D/A轉換器中多位量化器的非線性誤差校正方法無效
| 申請號: | 200710013856.2 | 申請日: | 2007-03-27 |
| 公開(公告)號: | CN101051840A | 公開(公告)日: | 2007-10-10 |
| 發明(設計)人: | 馮暉;韓志剛;吳杰 | 申請(專利權)人: | 上海凸現電子科技有限公司 |
| 主分類號: | H03M1/06 | 分類號: | H03M1/06 |
| 代理公司: | 青島發思特專利商標代理有限公司 | 代理人: | 翟國明 |
| 地址: | 200233上海*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 sigma delta 轉換器 中多位 量化 非線性 誤差 校正 方法 | ||
1、用于Sigma-DeltaA/D和D/A轉換器中多位量化器的非線性誤差校正方法,其特征是:利用開關的隨機動作,隨機開合多位DAC中的開關電容,從而引入隨機噪聲來平滑由于電容元件失配引起的非線性失真,隨機噪聲的引入使得信號帶寬內的本底噪聲升高,在此基礎上再進行噪聲整形,將信號帶寬內的噪聲推向帶外,從而有效地提高系統的信噪比。
2、按照權利要求1所述的用于Sigma-DeltaA/D和D/A轉換器中多位量化器的非線性誤差校正方法,其特征是所述的開關的隨機動作和噪聲整形是通過在DAC前引入一個誤差校正環節來實現。
3、按照權利要求2所述的用于Sigma-Delta?A/D和D/A轉換器中多位量化器的非線性誤差校正方法,其特征是所述的誤差校正環節由一個開關控制信號產生模塊根據量化器的輸出產生一個帶有噪聲整形特性的隨機序列來隨機開合多位DAC中的開關電容。
4、按照權利要求3所述的用于Sigma-Delta?A/D和D/A轉換器中多位量化器的非線性誤差校正方法,其特征是所述的帶有噪聲整形特性的隨機序列由一個構成誤差校正環節基本單位的零輸入的2階Sigma-delta調制器產生。
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