[發(fā)明專利]一種用于快速精確檢測電磁繼電器的銜鐵超行程的方法及其裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200710009738.4
• 申請日: 2007-10-30
• 公開（公告）號: CN101201390A
• 公開（公告）日: 2008-06-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 黃朝暉;鄭錦義;曾建軍
• 申請（專利權(quán)）人: 廈門頂科電子有限公司
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327
• 代理公司: 廈門市首創(chuàng)君合專利事務(wù)所有限公司
• 代理人: 連耀忠

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電磁繼電器參數(shù)的檢測方法，特別是涉及一種用于快速精確檢測電磁繼電器的銜鐵超行程的方法及其裝置。

背景技術(shù)

繼電器是一種具有IN/OUT隔離功能的自動開關(guān)元件，被廣泛應(yīng)用于遙控、遙測、通訊、自動控制、機(jī)電一體化及電力電子設(shè)備中，是最重要的基礎(chǔ)控制元件之一。電磁繼電器是繼電器的一種，它一般由鐵芯、電磁線圈、銜鐵鐵片、觸點(diǎn)簧片等組成，當(dāng)在線圈的兩端加上一定的電壓時，線圈中就會流過一定的電流，從而產(chǎn)生電磁場效應(yīng)，可運(yùn)動的銜鐵就會在電磁力吸引的作用下，克服返回彈簧的拉力(或永久磁鋼)而吸向被線圈套住的鐵芯，從而帶動固定在銜鐵上的動觸點(diǎn)與繼電器的常開靜觸點(diǎn)吸合；當(dāng)線圈斷電后，電磁的吸力也隨之消失，可運(yùn)動的銜鐵就會在彈簧(或永久磁鋼)的復(fù)位力作用下返回原來的位置，從而使動觸點(diǎn)與原來的常閉靜觸點(diǎn)吸合。這樣通過銜鐵的動作(吸合或釋放)令其動、靜觸點(diǎn)開、閉，從而達(dá)到在電路中的導(dǎo)通、切斷的目的。

為了保證電磁繼電器的使用效果(功能)，通常需要對電磁繼電器的一些參數(shù)進(jìn)行檢測，比如線圈電阻、接觸觸點(diǎn)電路電阻、吸合/釋放電壓、吸合/釋放時間等等。IEC?61810-7：2006標(biāo)準(zhǔn)對觸點(diǎn)超行程定義是：從動觸點(diǎn)與靜觸點(diǎn)接觸起到銜鐵完全吸合，動靜觸點(diǎn)共同移動(或可能移動)的距離。也就是說為了保證觸點(diǎn)的接觸良好，減少接觸觸點(diǎn)電路電阻，動觸點(diǎn)與靜觸點(diǎn)在力的作用下接觸以后，還要繼續(xù)前進(jìn)一段行程，以增加觸點(diǎn)的接觸壓力，前進(jìn)的這段行程就為觸點(diǎn)超行程。為了保證繼電器實現(xiàn)可靠的功能，繼電器在設(shè)計時都設(shè)計了超行程，超行程不夠會造成觸點(diǎn)的接觸不良，超行程過大或過小，都會直接影響繼電器的可靠性。因此，檢測電磁繼電器的觸點(diǎn)超行程是否符合要求就成為電磁繼電器制造與應(yīng)用中非常重要的一項參數(shù)指標(biāo)，而觸點(diǎn)超行程主要靠銜鐵超行程來保證的。

由于電磁繼電器的鐵芯、以及觸點(diǎn)對(組)銜鐵一般都是密封在塑料或金屬殼內(nèi)，所以其觸點(diǎn)機(jī)械參數(shù)(如超行程等)，在繼電器裝配完成后是根本無法測試的。目前常用的方法是在塑封罩殼前靠塞規(guī)來檢測，實現(xiàn)時，是在生產(chǎn)線上設(shè)有一道專門的測量銜鐵超行程的工序，檢測員先將產(chǎn)品放到夾具上，對電磁繼電器的線圈施加激勵電壓，檢查觸點(diǎn)的通斷情況；如果觸點(diǎn)通斷情況正常，再將塞規(guī)插到銜鐵與鐵芯的縫隙中，再看觸點(diǎn)通斷情況；以此來判斷電磁繼電器的銜鐵超行程，進(jìn)而篩選出銜鐵超行程不合格的產(chǎn)品。這種方法不僅麻煩，而且不能準(zhǔn)確的測出銜鐵超行程的大小值。

實用新型內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)之不足，提供一種用于快速精確檢測電磁繼電器的銜鐵超行程的方法及其裝置，既能快速、精確地判斷出電磁繼電器的銜鐵超行程的相對值，又有操作簡單，在外罩封閉的情況下可實現(xiàn)自動測量的特點(diǎn)。

本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是：一種用于快速精確檢測電磁繼電器的銜鐵超行程的方法，是在電磁繼電器線圈上施加一個激勵電壓，用觸點(diǎn)監(jiān)測電路獲取電磁繼電器的觸點(diǎn)接通情況，觸點(diǎn)接通的信號送給微處理器MCU，由微處理器MCU分析判斷觸點(diǎn)接通的時間并將該時間記為t1；與此同時，用電流采樣電路獲取線圈上逐漸增大的電流，該電流信號經(jīng)放大后送至微處理器MCU，由微處理器MCU分析判斷逐漸增大的電流出現(xiàn)拐點(diǎn)的時間并將該時間記為t2；微處理器MCU將電流出現(xiàn)拐點(diǎn)的時間t2與觸點(diǎn)信號接通的時間t1之間的差值記為T，該T值即為該電磁繼電器的銜鐵超行程的相對值。

所述的激勵電壓由微處理器MCU產(chǎn)生。

一種用于實現(xiàn)上述快速精確檢測電磁繼電器的銜鐵超行程的方法的裝置，它包括一線圈驅(qū)動電路、一電流采樣電路、一放大電路、一微處理器MCU、一觸點(diǎn)監(jiān)測電路；線圈驅(qū)動電路的正輸出端接至繼電器線圈的一端，繼電器線圈的另一端通過無觸點(diǎn)開關(guān)接至線圈驅(qū)動電路的負(fù)輸出端；電流采樣電路采用電流互感器，設(shè)置在繼電器線圈回路中，電流采樣電路的輸出通過放大電路接至微處理器MCU的輸入；微處理器MCU的輸出接至線圈驅(qū)動電路的輸入；觸點(diǎn)監(jiān)測電路通過動靜觸點(diǎn)接地，觸點(diǎn)監(jiān)測電路的輸出接至微處理器MCU的輸入；微處理器MCU的控制信號輸出接至無觸點(diǎn)開關(guān)的控制端。