[發明專利]利用相襯成像的透鏡檢查系統

有效

• 申請號: 200680043591.4
• 申請日: 2006-11-22
• 公開（公告）號: CN101313205A
• 公開（公告）日: 2008-11-26
• 發明（設計）人: R·比埃爾;L·福爾納謝羅
• 申請（專利權）人: 諾瓦提斯公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 北京市中咨律師事務所
• 代理人: 楊曉光;李崢

技術領域

本發明涉及優選在自動的透鏡生產線上用于眼用透鏡的自動檢查的檢查系統。該檢查系統提供相襯(phase?contrast)成像單元和利用所述相襯成像單元的檢查方法，其被設計為以改進的可靠性程度識別有缺陷的透鏡，但是不會錯誤地選出良好的透鏡。

背景技術

現在，在高度自動化的生產設備上大規模生產由各種材料構成的接觸透鏡。有利的是，這些接觸透鏡利用可再度使用的陰、陽半模形成，該半模通常由玻璃或石英形成。當進行配對(模組裝)時，這些半模限定了對應于隨后的接觸透鏡形狀的空腔。在將半模閉合之前，將聚合物溶液投配入陰半模內。在將半模閉合之后，使用UV光在半模上照射，使得透鏡腔內透鏡材料的交聯。然后，例如，通過吸附式夾具或機械夾取器將透鏡從半模中移出，并放置在包裝內。

因為打算使接觸透鏡在眼睛內使用，所以必須非常仔細確保透鏡符合嚴格的質量控制標準。為了確保接觸透鏡的一致質量，可以實施利用工業圖像處理方法的接觸透鏡自動檢查。用于眼用透鏡的檢查的已知方法基于亮場和/或暗場成像。

WO-A-2005/054807披露了一種在自動的透鏡生產過程中用于自動檢查接觸透鏡，特別是帶色彩的接觸透鏡，的方法，該方法包括利用所謂的紋影法(Schlieren?method)的優選的暗場檢查方法的暗場檢查單元。

EP-A-1248092還披露了暗場檢查單元和亮場檢查單元的組合，優選所謂的紋影法和透射光法的組合。接觸透鏡相繼在暗場和亮場內被觀察。

WO-A-2004/057297披露了一種利用兩個不同的光源光學地檢查和檢測物體內的缺陷的方法，特別是將暗場設備用作第一檢測方法，而將亮場設備用作第二檢測方法。

WO-A-03/073060披露了在制造所述眼用透鏡的過程中利用至少兩種不同的機器視覺檢查技術的眼用透鏡的雙檢查，優選的該至少兩種檢查技術是亮場和暗場檢查技術；其他技術是吸收檢查，結構光檢查，熒光檢查和光譜屏蔽。

WO-A-99/32869披露了一種檢查接觸透鏡的系統，其利用光源和電子照相機以及一系列掩模，包括亮場掩模、暗場掩模和由細微條紋構成的轉移掩模(transition?mask)，來獲取透鏡的圖像，由此光在距掩模不同距離處以相長和相消的方式相互作用。然后每次利用一個掩模來取得圖像。

EP-A-0686842披露了一種利用兩個優化的亮場照明區域，即，利用不同灰度級的光，的透鏡檢查系統和方法。一個灰度級用于中心區域，而另一灰度級用于周邊區域。然而相襯的使用(另一種可想到的檢查方法)被認為是過于靈敏的，即，將外觀缺陷提高到了使透鏡由于有缺陷而被認為不合格的程度。

為了提高生產率，并且更重要的是為了提高眼用透鏡的質量和佩帶者的舒適性，需要發明一種更精確的檢查系統。特別是，合適的檢查系統應當對眼用透鏡在尺寸精度、表面缺陷、撕裂、外周破裂以及諸如氣泡和外來物體的包含以及在眼用透鏡邊緣處的小缺陷方面進行沒有遺漏的檢查。

發明內容

本發明利用權利要求1中所表征的特征解決了該問題。至于相關的進一步實質性的改進，參考從屬權利要求。

在一個方面，本發明提供一種檢查眼用透鏡的方法，其包括利用相襯成像單元。優選，該方法還包括利用亮場和/或暗場成像單元。更優選，該方法允許選擇性地使用相襯和亮場成像單元或相襯和暗場成像單元。還優選，該方法允許同時使用亮場成像單元和相襯成像單元。

在另一方面，本發明的方法允許同時使用暗場成像單元和相襯成像單元。

在更優選的方面，該方法是在自動化透鏡生產線上的自動檢查方法。

在又一方面，本發明提供一種在包含相襯成像單元的自動化透鏡生產線上用于眼用透鏡的自動檢查的檢查裝置。優選，該裝置還包括亮場成像單元和/或暗場成像單元。更優選，該裝置允許選擇性地使用相襯和亮場成像單元或相襯和暗場成像單元。再優選，該裝置允許同時使用亮場成像單元和相襯成像單元。在另一方面，該裝置允許同時使用暗場成像單元和相襯成像單元。

在另一方面，本發明可以包括改善對有色彩的或彩色接觸透鏡的檢查的裝置和方法。

附圖說明

根據隨后的說明和附圖，可以看到本發明進一步的細節和優點。

圖1示出了基于本發明包含相襯成像單元的檢查裝置的示意圖；

圖2示出了接觸透鏡的亮場圖像；

圖3示出了接觸透鏡的暗場圖像；

圖4示出了接觸透鏡的相襯圖像；

圖5a-c示出了有缺陷的透鏡的亮場(a)、暗場(b)和相襯(c)圖像的比較；