[發(fā)明專利]半導(dǎo)體集成電路有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200680032025.3 | 申請日: | 2006-08-29 |
| 公開(公告)號: | CN101253686A | 公開(公告)日: | 2008-08-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 炭田昌哉 | 申請(專利權(quán))人: | 松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社 |
| 主分類號: | H03K5/12 | 分類號: | H03K5/12 |
| 代理公司: | 北京德琦知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 陸弋;王誠華 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 半導(dǎo)體 集成電路 | ||
1.?一種半導(dǎo)體集成電路,包括:
信號線;
電壓電平檢測器,其用于檢測所述信號線的電壓電平;和
躍遷時(shí)間檢測器,其用于基于所述電壓檢測器檢測到的電壓電平,檢測所述信號線從非激活的電壓狀態(tài)改變到激活的電壓狀態(tài)的躍遷時(shí)段的時(shí)間長度,其中,
所述電壓電平檢測器檢測所述信號線在所述躍遷時(shí)段的電壓電平。
2.?如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體集成電路,其中,
所述躍遷時(shí)間檢測器進(jìn)一步基于所述電壓電平檢測器檢測到的電壓電平判斷在所述躍遷時(shí)段中是否產(chǎn)生逆躍遷。
3.?如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體集成電路,其中,
所述信號線躍遷時(shí)間檢測器至少包括NMOS晶體管,其中
所述信號線連接到該NMOS晶體管的柵極,第一電壓連接到該NMOS晶體管的源極,而在所述信號線從非激活的電壓狀態(tài)改變到激活的電壓狀態(tài)的躍遷時(shí)段之前,大于所述第一電壓的電壓設(shè)置給所述NMOS晶體管的漏極,
所述電壓電平檢測器檢測所述NMOS晶體管在所述躍遷時(shí)段的漏極電壓,并且
所述信號線躍遷時(shí)間檢測器基于所述電壓電平檢測器檢測到的漏極電壓,檢測所述躍遷時(shí)段的時(shí)間長度。
4.?如權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體集成電路,其中,
所述NMOS晶體管的基底電壓被設(shè)置成其閾值表示期望值。
5.?如權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體集成電路,其中,
所述NMOS晶體管的基底電壓值由阱上夾著該NMOS晶體管的基底觸點(diǎn)所提供的基底電壓值設(shè)置,該NMOS晶體管形成于所述阱上。
6.?如權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體集成電路,其中,
所述電壓電平檢測器包括:
PMOS晶體管,其中第二電壓設(shè)置給它的源極,小于該第二電壓的電壓在所述躍遷時(shí)段開始之前設(shè)置給它的漏極,而所述信號線連接到它的柵極;以及
NMOS晶體管,其中所述PMOS晶體管的漏極連接到NMOS晶體管的漏極,而NMOS晶體管的漏極連接到自身的柵極,其中,
所述電壓電平檢測器檢測所述PMOS晶體管在所述躍遷時(shí)段的漏極電壓,并且
所述躍遷時(shí)間檢測器基于所述電壓電平檢測器檢測到的PMOS晶體管的漏極電壓檢測所述躍遷時(shí)段的時(shí)間長度,并判斷在所述躍遷時(shí)段中是否產(chǎn)生逆躍遷。
7.?如權(quán)利要求6所述的半導(dǎo)體集成電路,其中,
所述PMOS晶體管的基底電壓被設(shè)置成其閾值電壓表示期望值。
8.?如權(quán)利要求2所述的半導(dǎo)體集成電路,其中,
所述電壓電平檢測器至少包括NMOS晶體管,其中所述信號線連接到該NMOS晶體管的柵極,而且該NMOS晶體管的基底電壓是可控的。
9.?如權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體集成電路,進(jìn)一步包括:躍遷時(shí)間調(diào)節(jié)器,用于基于所述躍遷時(shí)間檢測器的檢測結(jié)果調(diào)節(jié)所述信號線的信號波形的躍遷時(shí)間。
10.?如權(quán)利要求9所述的半導(dǎo)體集成電路,其中,
所述躍遷時(shí)間調(diào)節(jié)器通過調(diào)節(jié)所述信號線的電感值來調(diào)節(jié)躍遷時(shí)間。
11.?如權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體集成電路,其中,
所述躍遷時(shí)間調(diào)節(jié)器通過調(diào)節(jié)所述信號線的電容來調(diào)節(jié)躍遷時(shí)間。
12.?如權(quán)利要求9所述的半導(dǎo)體集成電路,其中,
所述躍遷時(shí)間調(diào)節(jié)器通過調(diào)節(jié)所述信號線的接收機(jī)的終端電阻來調(diào)節(jié)躍遷時(shí)間。
13.?如權(quán)利要求12所述的半導(dǎo)體集成電路,其中,
當(dāng)所述信號線的傳送頻率最大顯示為任意頻率值時(shí),所述信號線的接收機(jī)的終端電阻被切斷。
14.?如權(quán)利要求9所述的半導(dǎo)體集成電路,進(jìn)一步包括:所述信號線的發(fā)送側(cè)驅(qū)動性能調(diào)節(jié)器,其中,
所述躍遷時(shí)間調(diào)節(jié)器通過控制所述發(fā)送側(cè)驅(qū)動性能調(diào)節(jié)器來調(diào)節(jié)躍遷時(shí)間。
15.?如權(quán)利要求14所述的半導(dǎo)體集成電路,進(jìn)一步包括:包含MOS晶體管的發(fā)送側(cè)驅(qū)動器,其中,
所述發(fā)送側(cè)驅(qū)動性能調(diào)節(jié)器通過控制所述MOS晶體管的并行度來調(diào)節(jié)躍遷時(shí)間。
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