[發明專利]有機半導體材料薄膜的形成方法和有機薄膜晶體管的制造方法有效
| 申請號: | 200680021905.0 | 申請日: | 2006-05-23 |
| 公開(公告)號: | CN101203949A | 公開(公告)日: | 2008-06-18 |
| 發明(設計)人: | 小渕禮子;竹村千代子;平井桂 | 申請(專利權)人: | 柯尼卡美能達控股株式會社 |
| 主分類號: | H01L21/368 | 分類號: | H01L21/368;H01L21/336;H01L29/786;H01L51/40 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所 | 代理人: | 張平元 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 有機 半導體材料 薄膜 形成 方法 薄膜晶體管 制造 | ||
1.一種有機半導體材料薄膜的形成方法,該方法包括:在基板表面上涂布含有有機半導體材料的液體來形成半導體材料薄膜,其中,
上述基板表面的表面自由能用γS=γSd+γSp+γSh表示時(式中,γSd、γSp、γSh分別表示基于Young-Fowkes式的固體表面的表面自由能的非極性分量、極性分量、氫鍵分量),并且上述液體中的溶劑的表面自由能用γL=γLd+γLp+γLh表示時(式中,γLd、γLp、γLh分別表示基于Young-Fowkes式的液體的表面自由能的非極性分量、極性分量、以及氫鍵分量),γSh-γLh的值為-5mN/m~20mN/m的范圍,且上述基板表面的表面自由能的氫鍵分量γSh滿足0<γSh<20(mN/m)。
2.權利要求1記載的有機半導體材料薄膜的形成方法,其中,上述基板表面實施表面處理。
3.權利要求1或2記載的有機半導體材料薄膜的形成方法,其中,上述基板表面的表面自由能的氫鍵分量γSh滿足0<γSh<15(mN/m)。
4.權利要求1~3中任何一項記載的有機半導體材料薄膜的形成方法,其中,上述表面處理是采用硅烷偶聯劑進行的處理。
5.權利要求1~4中任何一項記載的有機半導體材料薄膜的形成方法,其中,含有有機半導體材料的上述液體中的溶劑是非鹵素類溶劑。
6.權利要求1~5中任何一項記載的有機半導體材料薄膜的形成方法,其中,上述有機半導體材料的重均分子量為5000以下。
7.一種有機薄膜晶體管的制造方法,該方法使用權利要求1~6中任何一項記載的有機半導體薄膜的形成方法,所述有機半導體材料是具有噻吩環的化合物。
8.權利要求7中所述的有機薄膜晶體管的制造方法,其中,上述有機半導體材料是具有烷基噻吩環的化合物。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





