[發明專利]標本分析方法及標本分析裝置

無效

• 申請號: 200680010576.X
• 申請日: 2006-03-23
• 公開（公告）號: CN101151534A
• 公開（公告）日: 2008-03-26
• 發明（設計）人: 山本典正;山登隆司;松尾直彥;井口圣
• 申請（專利權）人: 希森美康株式會社
• 主分類號: G01N35/00
• 分類號: G01N35/00
• 代理公司: 北京金之橋知識產權代理有限公司
• 代理人: 梁朝玉

1.一種標本分析方法，包括以下步驟：

吸移試樣容器(150)中裝有的標本，分裝到第1容器(153)中；

對所述第1容器中的標本進行光學測定；

分裝所述標本到第2容器(154)，在第2容器中將標本與試劑混合，調制測定用試樣；

根據所述標本的光學測定結果，對測定用試樣進行分析。

2.根據權利要求1所述標本分析方法，其特征在于：所述標本分析方法還包括根據所述標本的光學測定結果判斷是否要對調制的測定用試樣進行分析的步驟；

在所述測定用試樣的分析步驟中，當根據所述標本的光學測定結果，判斷要對測定用試樣進行分析的時候，則進行分析。

3.根據權利要求1所述標本分析方法，其特征在于：在對所述測定用試樣進行分析的步驟中，當標本的光學測定結果在第1范圍內時，則按照第1分析方法進行分析，當標本的光學測定結果在第2范圍內時，則按照第2分析方法進行分析。

4.根據權利要求1～3任何一項所述標本分析方法，其特征在于：在調制測定用試樣的步驟中，將裝在第1容器中的標本分裝到所述第2容器中。

5.一種標本分析裝置，包括：

吸移裝在試樣容器中的標本，分裝到第1容器中的第1分裝部(30)；

對所述第1容器中分裝的標本進行光學測定的光學測定部(40、240)；

將標本分裝到第2容器中的第2分裝部(50)；

在第2容器中，將標本與試劑混合，調制測定用試樣的試樣調制部(50)；

對該測定用試樣進行分析的分析部；

根據標本的光學測定結果，控制分析部分析動作的控制部(4)。

6.根據權利要求5所述標本分析裝置，其特征在于：所述控制部根據標本的光學測定結果，控制是否進行分析操作。

7.根據權利要求5所述標本分析裝置，其特征在于：所述控制部控制所述分析部，當標本的光學測定結果在第1范圍內時，按照第1分析條件進行分析操作，當標本的光學測定結果在第2范圍內時，按照第2分析條件進行分析操作。

8.根據權利要求5～7所述標本分析裝置，其特征在于：所述第2分裝部，將裝在第1容器中的標本分裝到第2容器中。

9.根據權利要求5～7所述標本分析裝置，其特征在于：所述控制部根據標本的光學測定結果，控制是否將標本分裝到第2容器中。

10.根據權利要求5～7所述標本分析裝置，其特征在于：所述第1分裝部有一插入試樣容器、吸移所述標本的管(35)，所述試樣容器有一封閉試樣容器開口的蓋子(152)，所述第1分裝部將所述管穿過蓋子，吸移所述試樣容器中的標本。

11.根據權利要求5～7所述標本分析裝置，其特征在于：所述分析部，在復數條件下，對測定用試樣獲取信息，并根據所述標本的光學測定結果，從所述獲得的復數信息中選出適于分析的信息進行分析。

12.根據權利要求5～7所述標本分析裝置，其特征在于：所述分析部有照射測定用試樣的光源(73、250)，在對測定用試樣進行光照、從測定用試樣獲取信息的同時，通過分析光學信息，得出分析結果。

13.根據權利要求12所述標本分析裝置，其特征在于：所述光學測定部(240)使用分析部的光源(250)進行光學測定。

14.權利要求12所述標本分析裝置，其特征在于：所述光源能夠射出復數波長的光。

15.根據權利要求12所述標本分析裝置，其特征在于：所述分析部含有將從所述測定用試樣獲得的光轉換為電子信號的光電變換元件(74)，以及對從該光電轉換元件獲得的電子信號進行放大的放大器(75、76a、76b、176a)。

16.根據權利要求15所述標本分析裝置，其特征在于：所述放大器包括具有第1放大率的第1放大器(76a)以及具有與第1放大率不同的第2放大率的第2放大器(76b)。

17.根據權利要求15所述標本分析裝置，其特征在于：所述標本分析方法還具有將所述放大器的放大率調節為第1放大率和第2放大率的放大率調整部(176b)。

18.根據權利要求7所述標本分析裝置，其特征在于：所述分析部包含能夠射出數種波長光的光源(73)以及能夠以數種放大率進行放大的放大器(76a、76b)，所述分析部的第1分析條件以及第2分析條件，分別根據光學測定的結果，從所述光源的數種波長以及所述放大器的數種放大率中選擇。