[發明專利]用于確定用于在光學記錄載體上記錄數據的寫策略參數以及用于確定用于從光學記錄載體讀出數據的讀參數的裝置和方法

無效

• 申請號: 200680008188.8
• 申請日: 2006-03-09
• 公開（公告）號: CN101203910A
• 公開（公告）日: 2008-06-18
• 發明（設計）人: T·P·范恩德特;E·范克薩利
• 申請（專利權）人: 皇家飛利浦電子股份有限公司
• 主分類號: G11B7/0045
• 分類號: G11B7/0045
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 李靜嵐;劉紅

1.用于確定用于在光學記錄載體(100)上記錄數據的寫策略參數的裝置，包括：

-初始化裝置(110)，用于設置初始寫策略參數，

-設置裝置(120)，用于基于所述初始寫策略參數的變化來設置初始變量級別和初始實驗方案，用于優化所述寫策略參數的實驗方法的設計，

-優化裝置(130)，用于利用實驗方法的設計確定優化的寫策略參數，以及

-迭代裝置(140)，用于基于預定標準來檢查由優化裝置(130)所確定的優化的寫策略參數是否將被進一步優化，在寫策略參數將被進一步優化的情況下，用于確定在進一步優化所述寫策略參數的實驗方法的設計的另一個迭代中使用的新的變量級別和新的實驗方案。

2.如權利要求1所述的裝置，

其中所述優化裝置(130)包括：

-測試記錄裝置(131)，其利用在由實驗方法的設計所使用的變量級別和實驗方案中設置的所述初始寫策略參數的變化，在所述記錄載體(100)上執行測試記錄預定的次數，

-測量裝置(132)，用于對于每個測試記錄測量指示所述測試記錄的記錄質量的質量參數的質量參數值，以及

-確定裝置(133)，用于通過評估所測量的對于所述測試記錄的質量參數值來確定優化的寫策略參數。

3.確定用于從光學記錄載體(100)再現數據的讀參數的裝置，包括：

-初始化裝置(110)，用于設置初始讀參數，

-設置裝置(120)，用于基于所述初始讀參數的變化來設置初始變量級別和初始實驗方案，用于優化所述讀參數的實驗方法的設計，

-優化裝置(130)，用于利用實驗方法的設計確定優化的讀參數，以及

-迭代裝置(140)，用于基于預定標準來檢查由優化裝置(130)所確定的優化的讀參數是否將被進一步優化，以及在讀參數將被進一步優化的情況下，用于確定在進一步優化所述讀參數的實驗方法的設計的另一個迭代中使用的新的變量級別和新的實驗方案。

4.如權利要求3所述的裝置，

其中所述優化裝置(130)包括：

-測試讀取裝置(131)，用于利用在由實驗方法的設計所使用的變量級別和實驗方案中所設置的所述初始讀參數的變化，執行從所述記錄載體(100)的測試讀取或測試記錄載體預定的次數，

-測量裝置(132)，用于對于每個測試讀取測量指示所述測試讀取的質量參數的質量參數值，以及

-確定裝置(133)，用于通過評估所測量的對于所述測試讀取的質量參數值來確定優化的讀參數。

5.如權利要求2或4所述的裝置，

其中所述確定裝置(133)適于利用模型特別是二階模型且通過確定所述模型的最佳值特別是最小值來確定優化的參數。

6.如權利要求2或4所述的裝置，

其中所述測量裝置(132)適于將抖動、塊錯誤率或位錯誤率用作質量參數，并適于在每個測試記錄和測試讀取之后分別測量抖動值。

7.如權利要求1所述的裝置，其中所述設置裝置(120)適于在所述實驗方法的設計中使用的所述實驗方案中設置實驗的預定數目，尤其是9+4·n個實驗，其中n＝0，1，2……。

8.如權利要求7所述的裝置，

其中所述設置裝置(120)適于將在所述實驗方法的設計中使用的所述實驗方案中設置13個實驗。

9.如權利要求1所述的裝置，

其中所述設置裝置(120)適于基于所述初始參數的預定數目的變化，特別是兩個所述初始參數的變化，來設置所述初始變量級別和所述初始實驗方案。

10.如權利要求1所述的裝置，

其中所述迭代裝置(140)適于在用于檢查優化參數是否將被進一步優化的預定標準中使用由所述優化裝置(130)確定優化參數所用的模型的一個或多個系數值，所述預定標準包括對于所述系數值的閾值。

11.如權利要求1所述的裝置，

其中所述迭代裝置(140)適于基于由所述優化裝置(130)確定優化參數所用的模型的一個或多個系數值來確定新的變量級別和新的實驗方案。