[發明專利]無損檢測探頭的定位無效
| 申請號: | 200680005326.7 | 申請日: | 2006-02-22 |
| 公開(公告)號: | CN101120267A | 公開(公告)日: | 2008-02-06 |
| 發明(設計)人: | 塞巴斯蒂安·羅萊;卡皮西納·卡彭鐵爾 | 申請(專利權)人: | 歐洲航空防務與空間公司-EADS法國 |
| 主分類號: | G01S5/30 | 分類號: | G01S5/30 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 | 代理人: | 楊生平;楊紅梅 |
| 地址: | 法國*** | 國省代碼: | 法國;FR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 無損 檢測 探頭 定位 | ||
1.一種對裝置(4)定位的系統(10),所述裝置例如是測量探頭,所述系統包括:
●信號發射器(12);
●所發射信號的兩個接收器(14、16);
●用于激勵發射器(12)的裝置;
●用以確定所述激勵產生的信號發射和每個接收器(14、16)對信號的接收之間的持續時間的裝置;
其特征在于所述發射器(12)和接收器(14、16)可以彼此獨立地定位。
2.根據權利要求1的系統,其中所述發射器12包括用于與裝置(4)耦合的裝置,并且/或者每個接收器(14、16)包括用于與表面(2)相聯的裝置。
3.根據權利要求1或2的系統,包括用于發射同步脈沖的裝置,該裝置用作激勵發射器(12)的裝置,其中,用于確定持續時間的裝置在操作上與用于發射脈沖的裝置耦合。
4.根據權利要求3的系統,其中所述信號為超聲波,并且所述接收器(14、16)與計數器相聯,所述計數器用來測量所述脈沖和所述接收器(14、16)接收到超聲波之間的延遲。
5.根據權利要求4的系統,其中,發射器(12)為壓電膜的形式。
6.根據權利要求3至5中任何一項的系統,其中,所述用于發射脈沖的裝置被配置為重復發射脈沖,尤其是以固定頻率發射脈沖。
7.根據權利要求1至6中任何一項的系統,包括殼體(20),該殼體包括用于激勵發射器(12)的裝置、確定所述激勵產生的信號發射與每個接收器(14、16)對信號的接收之間的持續時間的裝置,并且所述發射器(12)和所述接收器(14、16)通過線連接(18)與所述殼體耦合。
8.根據權利要求1至7中任何一項的系統,還包括根據所確定的持續時間通過三角測量法確定所述發射器(12)的位置的裝置。
9.根據權利要求7的系統,還包括根據所確定的持續時間通過三角測量法確定所述發射器(12)的位置的裝置,其中,所述殼體包括通信端口(22),所述用于確定位置的裝置連接到所述通信端口。
10.根據權利要求9的系統,其中,所述通信端口(22)為USB端口。
11.根據權利要求8至10中任何一項的系統,包括用于校準所述發射器(12)和接收器(14、16)的相對位置的裝置。
12.根據權利要求11的系統,其中所述校準裝置包括定位輔件(30)和導引所述校準過程的裝置。
13.一種用于確定測量探頭(4)在待分析區域(1)上的定位的方法,包括:
●將所述測量探頭(4)與信號發射器(12)耦合;
●將兩個獨立的接收器(14、16)置于包括所述待分析區域(1)的表面(2)上;
●發射用于激勵所述信號發射器(12)的脈沖;
●測量所述脈沖與所述接收器(14、16)對所述信號的接收之間的持續時間;
●工具所測得的持續時間通過三角測量法確定所述探頭(4)的位置。
14.根據權利要求13的方法,其中,所述待分析的區域(1)是一種材料表面的一部分,并且所述接收器(14、16)定位在所述表面(2)的所述待分析部分(1)之外的部分上。
15.根據權利要求13至14中任何一項的方法,包括對兩個接收器(14、16)的定位的校準。
16.根據權利要求15的方法,其中,所述校準包括將所述探頭(4)定位在至少基本位于兩個接收器(14、16)之間的垂直平分線(36)上的兩個點中。
17.根據權利要求16的方法,其中所述校準包括將所述探頭(4)定位在沿所述垂直平分線(36)以均勻距離間隔開的至少三個點上。
18.根據權利要求16至17的任何一項的方法,其中所述探頭(4)的定位借助定位輔件(30)來執行。
19.一種使用根據權利要求13至18中任何一項的方法對表面繪圖的方法,其中,對每個繪圖點重復執行發射、測量持續時間以及確定步驟。
20.根據權利要求13至19中任何一項的方法,其中所述發射器(12)及接收器(14、16)使用超聲波信號。
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