[發明專利]電流檢測電路、以及使用了它的受光裝置和電子設備

無效

• 申請號: 200680003145.0
• 申請日: 2006-10-10
• 公開（公告）號: CN101107499A
• 公開（公告）日: 2008-01-16
• 發明（設計）人: 米丸昌男
• 申請（專利權）人: 羅姆股份有限公司
• 主分類號: G01J1/44
• 分類號: G01J1/44;G03B15/05;G01R19/165;H01L31/10;G03B7/16;H04N5/238;G03B15/03
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所
• 代理人: 邸萬奎

1.一種檢測受光器件中流過的電流的電流檢測電路，包括：

設置在上述受光器件的電流路徑上的第1晶體管；

設置在上述第1晶體管的一端和電位被固定了的端子間的第1電阻；

與上述第1晶體管一起構成電流鏡電路，將上述第1晶體管中流過的電流變成預定系數倍后作為本電流檢測電路的輸出的第2晶體管；以及

設置在上述第2晶體管的一端和電位被固定了的端子間的第2電阻。

2.根據權利要求1所述的電流檢測電路，其特征在于：

還包括與上述第2電阻并聯連接的調節電阻。

3.根據權利要求1或2所述的電流檢測電路，其特征在于：

將上述第2晶體管的尺寸設定得比上述第1晶體管的尺寸大，

將上述第2電阻的電阻值設定得比上述第1電阻的電阻值大。

4.根據權利要求1或2所述的電流檢測電路，其特征在于：

使上述第2晶體管中流過的電流對電容充電，變換成電壓進行輸出。

5.根據權利要求1或2所述的電流檢測電路，其特征在于：

上述第1晶體管、第2晶體管、第1電阻、第2電阻被一體集成在一個半導體襯底上，上述調節電阻連接于上述半導體襯底的外部。

6.一種受光裝置，包括：

受光器件；以及

檢測上述受光器件中流過的光電流的權利要求1或2所述的電流檢測電路。

7.根據權利要求6所述的受光裝置，其特征在于：

上述受光器件是光電晶體管。

8.根據權利要求6所述的受光裝置，其特征在于：

上述受光器件是光電二極管。

9.一種電子設備，包括：

發光器件；以及

檢測從上述發光器件發出的光經外部物體反射后的光的、權利要求6所述的受光裝置。

10.根據權利要求9所述的電子設備，其特征在于：

上述發光器件在由上述受光裝置檢測到的反射光的光量達到預定值后停止發光。