[發(fā)明專利]錯誤覆蓋分析法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200610168648.5
• 申請日: 2006-12-20
• 公開（公告）號: CN101206238A
• 公開（公告）日: 2008-06-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張延生;劉東昱
• 申請（專利權(quán)）人: 力晶半導(dǎo)體股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R31/28;H01L21/66;G06Q10/00
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務(wù)所
• 代理人: 蒲邁文;黃小臨

1.一種錯誤覆蓋分析方法，適用于分析一產(chǎn)品的多個晶片測試項(xiàng)目，以決定該產(chǎn)品的一測試模塊，其包括：

依序?qū)υ摦a(chǎn)品的多個測試標(biāo)的物進(jìn)行所述晶片測試項(xiàng)目，其中，根據(jù)每一測試項(xiàng)目產(chǎn)生相對應(yīng)的一測試涵蓋范圍；

于一數(shù)據(jù)庫中，根據(jù)所述晶片測試項(xiàng)目相對應(yīng)儲存所述測試涵蓋范圍；以及

根據(jù)該數(shù)據(jù)庫中的每一所述晶片測試項(xiàng)目的相對應(yīng)所述測試涵蓋范圍，選擇部份所述晶片測試項(xiàng)目組成一測試模塊，其中該測試模塊的一錯誤覆蓋范圍是組成該測試模塊的部份所述晶片測試項(xiàng)目的相對應(yīng)所述測試涵蓋范圍的一聯(lián)集。

2.如權(quán)利要求1所述的錯誤覆蓋分析方法，其中每一所述測試涵蓋范圍包括至少所述測試標(biāo)的物的其中之一。

3.如權(quán)利要求1所述的錯誤覆蓋分析方法，其中該錯誤覆蓋范圍包括所有所述測試標(biāo)的物。

4.如權(quán)利要求1所述的錯誤覆蓋分析方法，其中至少所述測試涵蓋范圍其中之二彼此互相重迭。

5.如權(quán)利要求1所述的錯誤覆蓋分析方法，其中組成該測試模塊的部份所述晶片測試項(xiàng)目的數(shù)量，不大于原本所述測試項(xiàng)目的總數(shù)量。

6.如權(quán)利要求1所述的錯誤覆蓋分析方法，其中決定組成該測試模塊的部份所述測試項(xiàng)目的參考因子還包括一后段工藝的一錯誤回饋報(bào)告。

7.如權(quán)利要求6所述的錯誤覆蓋分析方法，其中該錯誤回饋報(bào)告至少相對應(yīng)于所述晶片測試項(xiàng)目其中之一。

8.一種錯誤覆蓋分析方法，適用于一產(chǎn)品，其中該產(chǎn)品具有多個測試標(biāo)的物，其包括：

提供多個測試項(xiàng)目；

以每一所述測試項(xiàng)目分別測試該產(chǎn)品，并相對應(yīng)產(chǎn)生一測試涵蓋范圍，其中該測試涵蓋范圍至少包括所述測試標(biāo)的物其中之一；

根據(jù)所述測試涵蓋范圍，建立一錯誤覆蓋數(shù)據(jù)庫，其中對于每一所述測試項(xiàng)目，紀(jì)錄該測試項(xiàng)目可有效測試的所述測試標(biāo)的物，而所述有效測試的測試標(biāo)的物組成該測試涵蓋范圍；

分析該錯誤覆蓋數(shù)據(jù)庫以決定一測試模塊，其中該測試模塊包括部份所述測試項(xiàng)目，且該測試模塊的一錯誤覆蓋范圍包括所有所述測試標(biāo)的物；以及

根據(jù)一后段工藝的一錯誤回饋報(bào)告，調(diào)整該測試模塊中的所述測試項(xiàng)目的組合。

9.如權(quán)利要求8所述的錯誤覆蓋分析方法，其中每一所述測試涵蓋范圍包括至少所述測試標(biāo)的物的其中之一。

10.如權(quán)利要求8所述的錯誤覆蓋分析方法，其中該錯誤覆蓋范圍為組成該測試模塊的部份所述測試項(xiàng)目的所述測試涵蓋范圍的聯(lián)集。

11.如權(quán)利要求8所述的錯誤覆蓋分析方法，其中至少所述測試涵蓋范圍其中之二彼此互相重迭。

12.如權(quán)利要求8所述的錯誤覆蓋分析方法，其中組成該測試模塊的部份所述晶片測試項(xiàng)目的數(shù)量，不大于原本所述測試項(xiàng)目的總數(shù)量。

13.如權(quán)利要求8所述的錯誤覆蓋分析方法，其中該錯誤回饋報(bào)告至少相對應(yīng)于所述晶片測試項(xiàng)目其中之一。