[發明專利]缺陷管理方法和使用該方法的光驅無效
| 申請號: | 200610159802.2 | 申請日: | 2006-09-22 |
| 公開(公告)號: | CN101064155A | 公開(公告)日: | 2007-10-31 |
| 發明(設計)人: | 江俊穎;翁益馨 | 申請(專利權)人: | 聯發科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G11B20/10 | 分類號: | G11B20/10;G11B20/18;G11B7/00 |
| 代理公司: | 上海翼勝專利商標事務所 | 代理人: | 翟羽 |
| 地址: | 中國臺灣新竹科*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 缺陷 管理 方法 使用 光驅 | ||
【技術領域】
本發明是關于一種在記錄媒體例如光盤中進行缺陷管理的方法,特別是關于一種具有缺陷處理表列的光盤的缺陷管理方法和具有缺陷處理表列的光驅。
【背景技術】
如圖1所示,通常,一片光盤10(例如DVDRAM盤片)分成導入區(LIA)11、用戶數據區13和導出區(LOA)15。此外,在主備用區(PSA)17之前形成有用戶數據區13,在用戶數據區13之后形成有輔助備用區(SSA)19。
對于用戶數據區的每一個已記錄缺陷(例如缺陷糾錯塊),在備用區域都有一個與其對應的替換(例如替換糾錯塊)。如圖1所示的例子中,在用戶數據區有三個缺陷糾錯塊101、103、105,在主備用區17則有三個分別與前述缺陷糾錯塊101、103、105對應的替換糾錯塊111、113、115。
當對光盤10進行寫入時,讀寫頭寫入光盤的用戶數據區的第一部分,當記錄到第一缺陷糾錯塊101時則停止寫入,此過程被稱為“記錄1”。此時讀寫頭跳到主備用區寫入用以替換缺陷糾錯塊101的替換糾錯塊111,此過程被稱為“記錄2”。然后讀寫頭繼續在缺陷糾錯塊101后面的用戶數據區13的第二部分寫入,當記錄到第二缺陷糾錯塊103時則停止寫入,該過程被稱為“記錄3”。然后讀寫頭跳到主備用區寫入用以替換缺陷糾錯塊103的替換糾錯塊113,該過程被稱為“記錄4”。然后讀寫頭繼續在缺陷糾錯塊103后面的用戶數據區13的第三部分寫入,當記錄到第三缺陷糾錯塊105時則停止寫入,該過程被稱為記錄5。然后讀寫頭跳到主備用區寫入用以替換缺陷糾錯塊105的替換糾錯塊115,該過程被稱為“記錄6”。
如圖1所示及前述所述,讀寫頭需要不斷地來回移動以在用戶數據區以及替換糾錯塊寫入完好的數據。如圖2所示,一種減少讀寫頭搜尋次數的方法是設立一個緩沖存儲器20。在寫入操作過程中,當遇到缺陷糾錯塊時不立即寫入替換糾錯塊,而是將缺陷糾錯塊的數據暫時儲存在緩沖存儲器內。在整個寫入操作完成之后,再將儲存在緩沖存儲器中的缺陷糾錯塊的數據依序寫入對應的替換糾錯塊。然而該方法需要相當大的內存容量。
因此,確有必要提供一種新的技術方案以克服現有技術中的前述缺陷。
【發明內容】
本發明的主要目的在于提供一種在例如DVD盤片等記錄媒體中進行缺陷管理的方法,其利用缺陷處理表列,占用較小的內存空間即可減少讀寫頭獲取與用戶數據區中缺陷糾錯塊對應的替換糾錯塊所需的搜尋時間。
本發明的另一目的是提供一種缺陷處理表列,其設置于計算機可讀媒體例如緩沖器內。缺陷處理表列用于指示與缺陷對應的替換的存取位置。在寫入或讀取過程中,所有在用戶數據區的缺陷和與缺陷對應的替換的相關信息都被添加到缺陷處理表列中,如此可以同時獲取與缺陷對應的替換。由于缺陷處理表列(DPT)中儲存的是與缺陷和與缺陷對應的替換的相關信息,而非直接儲存缺陷糾錯塊的數據,因此其僅占用很少的內存空間。本發明提供一種缺陷處理表列管理單元以管理缺陷處理表列里的內容。該缺陷處理表列有若干個條目,每一條目包括一個缺陷的缺陷相關信息。在本發明的一種實施例中,該缺陷處理表列包括若干列,每一條目位于一列內。缺陷相關信息包括指示缺陷位置的信息、指示替換位置的信息以及指示缺陷儲存在該內存內位置的缺陷索引。
本發明的再一目的是提供一種光驅,其包括具有缺陷處理表列的計算機可讀媒體和管理單元,一種具有前述缺陷處理表列和缺陷處理表列管理單元的裝置。
【附圖說明】
圖1是簡略顯示現有光盤的通常結構。
圖2是簡略顯示一種處理如圖1所示光盤中的缺陷的現有方法。
圖3是根據本發明的光盤的缺陷處理方法的示意圖。
圖4是簡略顯示根據本發明的光驅的方塊示意圖。
圖5是簡略顯示根據本發明的缺陷處理表列的示意圖。
圖6是簡略顯示一張光盤的結構,該光盤內的缺陷和替換塊在讀取操作中是采用本發明的方法處理。
圖7A至圖7E是顯示根據本發明的一個實施例在讀取過程中的缺陷處理程序。
圖8是簡略顯示一張光盤的結構,該光盤內的缺陷和替換塊在寫入操作中是采用本發明的方法處理。
圖9A至圖9F是顯示根據本發明的一個實施例在寫入過程中的缺陷處理程序。
【具體實施方式】
請參閱圖3和圖4所示,其中圖3是根據本發明的處理光盤中缺陷的方法的示意圖,圖4是根據本發明的光驅的方塊示意圖。在圖3中所示的該光盤的結構與圖1和圖2中所示的結構相同,其中相同的元件標號表示相同的部分。
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