[發(fā)明專利]基于AFM的納米機械性能檢測裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200610151235.6 | 申請日： | 2006-12-31 |
| 公開（公告）號： | CN101000295A | 公開（公告）日： | 2007-07-18 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 閆永達;孫濤;胡振江;史立秋;董申 | 申請（專利權(quán)）人： | 哈爾濱工業(yè)大學(xué) |
| 主分類號： | G01N3/40 | 分類號： | G01N3/40 |
| 代理公司： | 哈爾濱市松花江專利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人： | 朱永林 |
| 地址： | 150001黑龍江*** | 國省代碼： | 黑龍江;23 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 基于 afm 納米 機械性能 檢測 裝置 | ||
【權(quán)利要求書】：
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