[發明專利]太陽方位探測器

有效

• 申請號: 200610139712.7
• 申請日: 2006-09-22
• 公開（公告）號: CN101149259A
• 公開（公告）日: 2008-03-26
• 發明（設計）人: 余四祥;郭玉蛟
• 申請（專利權）人: 科強能源系統工程股份有限公司
• 主分類號: G01C1/00
• 分類號: G01C1/00;F24J2/38
• 代理公司: 北京英賽嘉華知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 余朦;方挺

1.一種太陽方位探測器，包括：

殼體，其頂部具有能夠透光的縫隙；以及

第一光電探測部件，

其特征在于，所述第一光電探測部件包括在光敏材料基片上形成的形狀相同的第一和第二光電探測元件，所述第一和第二光電探測元件能夠各自響應于通過所述縫隙入射的太陽光而提供電信號。

2.如權利要求1所述的太陽方位探測器，其特征在于，所述光敏材料基片為矩形，所述第一和第二光電探測元件為所述矩形的對角線劃分而形成的兩個直角三角形區域。

3.如權利要求1所述的太陽方位探測器，其特征在于，所述光敏材料基片為圓形，所述第一和第二光電探測元件為所述圓形的直徑劃分而形成的兩個半圓形區域。

4.如權利要求2所述的太陽方位探測器，其特征在于，所述第一和第二光電探測元件響應于入射太陽光而提供的電信號分別為I₁和I₂，所述入射太陽光的光面與所述第一光電探測部件的法平面之間的夾角α_i通過以下公式來確定：

tgα_i＝[(I₁-I₂)/(I₁+I₂)]*C

其中，C是與所述太陽方位探測器有關的常數。

5.如權利要求4所述的太陽方位探測器，其特征在于，所述常數C的值根據所述縫隙與所述第一光電探測部件之間的距離、以及所述第一和第二光電探測元件的形狀來確定。

6.如權利要求1所述的太陽方位探測器，其特征在于，進一步包括位于所述殼體側面上的輔助探測器，所述輔助探測器內設置有第二光電探測部件，太陽光能夠通過所述輔助探測器入射到所述第二光電探測部件上。

7.如權利要求6所述的太陽方位探測器，其特征在于，所述第一光電探測部件與所述第二光電探測部件的探測視場互有交疊。

8.如權利要求1所述的太陽方位探測器，其特征在于，所述第一光電探測部件進一步包括第三和第四光電探測元件，所述第三和第四光電探測元件分別位于所述第一和第二光電探測元件所形成的區域的上側和下側。