[實用新型]揚聲器T/S參數測試裝置

有效

• 申請號: 201720747704.4
• 申請日: 2017-06-23
• 公開（公告）號: CN206923046U
• 公開（公告）日: 2018-01-23
• 發明（設計）人: 顧善勇;閆鑫
• 申請（專利權）人: 深圳精拓創新科技有限公司
• 主分類號: H04R29/00
• 分類號: H04R29/00
• 代理公司: 北京睿派知識產權代理事務所(普通合伙)11597
• 代理人: 劉鋒

技術領域

本實用新型涉及揚聲器領域，具體涉及一種揚聲器T/S參數測試裝置。

背景技術

T/S參數，是用來衡量揚聲器性能的重要參數，對于揚聲器的設計、制造和質量控制具有重要的作用。目前已有的可以兼顧研究和在線測試T/S參數的方法包括激光測位移法或附加聲容法。

激光測位移法是通過可見光對揚聲器振膜的位移變化產生不同的折射，進而獲得揚聲器的多個特征參數，通過計算得到T/S參數。激光測位移法的優點：可以精確的通過非接觸測量被測揚聲器振膜的位置、位移等變化。其缺點：無法直接測出振膜非外漏的側出聲揚聲器模組的特征參數，需要將揚聲器模組前腔的上殼打孔，并利用透明薄片密封后才可以進行測試。不僅耗時長，而且測試后揚聲器無法使用。因此激光測位移法僅可用于研發而無法用于在線測試。

附加聲容法也可以測試揚聲器T/S參數：首先測揚聲器單體電聲參數，然后將揚聲器單體置于背腔中再測試參數諧振頻率，通過公式計算出T/S參數。但附加聲容法僅限于揚聲器單體測試，且需要先測試單體性能，然后將揚聲器單體裝入帶有背腔的測試裝置中再次進行測試。此方法效率較低且適用性不強，不能對揚聲器模組進行在線測試。

針對激光測位移法和附加聲容法存在的問題現提出了一種通過測試密封揚聲器前腔前后獲取T/S參數，根據此方法設計了一種揚聲器T/S參數測試裝置。

實用新型內容

有鑒于此，本實用新型提供一種揚聲器T/S參數測試裝置，以實現在揚聲器無損情況下，可以對揚聲器單體進行在線測試獲取T/S參數。

本實用新型提供了一種揚聲器T/S參數測試裝置，包括：

第一蓋板，所述第一蓋板的內部設置有開口的容置空腔，所述容置空腔的底部設置有凸起，并被設置為適于容納揚聲器單體；

第二蓋板，所述第二蓋板設置于所述第一蓋板開口的兩端，并向開口的中心伸出形成凸臺；

密封件，適于以密封的方式與所述第二蓋板連接，以密封所述第一蓋板的容置空腔；

其中，所述容置空腔容納有揚聲器單體時，所述凸起與所述揚聲器單體的背部連接，所述第二蓋板與所述揚聲器單體的發聲部連接。

優選地，所述容置空腔容納有揚聲器單體時，所述揚聲器單體的背部與所述第一蓋板、第二蓋板形成背腔，所述揚聲器單體的發聲部與所述第二蓋板、所述密封件形成前腔。

本申請提供了一種揚聲器T/S參數測試裝置，通過設置具有容置空腔的密封測試裝置，將揚聲器單體放置于容置空腔內，揚聲器單體與測試裝置的容置空腔分別形成背腔和前腔，分別測試密封前揚聲器單體的電聲參數組和密封后揚聲器單體的阻抗曲線，提取電聲參數組和密封后揚聲器的阻抗曲線的特征參數并根據聲學系統設備的標準公式計算獲取揚聲器單體的T/S參數。本申請的揚聲器T/S參數測試裝置可以實現在揚聲器單體無損情況下，快速對揚聲器單體進行在線測試獲取T/S參數，縮短了測試時間，提高了效率。

附圖說明

通過以下參照附圖對本實用新型實施例的描述，本實用新型的上述以及其它目的、特征和優點將更為清楚，在附圖中：

圖1是本實用新型的揚聲器單體T/S參數的測試方法流程圖；

圖2是本實用新型的揚聲器單體和測試裝置截面示意圖；

圖3是本實用新型的揚聲器單體密封前后測得的阻抗曲線對比圖。

具體實施方式

以下基于實施例對本實用新型進行描述，但是本實用新型并不僅僅限于這些實施例。在下文對本實用新型的細節描述中，詳盡描述了一些特定的細節部分。對本領域技術人員來說沒有這些細節部分的描述也可以完全理解本實用新型。為了避免混淆本實用新型的實質，公知的方法、過程、流程、元件和電路并沒有詳細敘述。

此外，本領域普通技術人員應當理解，在此提供的附圖都是為了說明的目的，并且附圖不一定是按比例繪制的。

除非上下文明確要求，否則整個說明書和權利要求書中的“包括”、“包含”等類似詞語應當解釋為包含的含義而不是排他或窮舉的含義；也就是說，是“包括但不限于”的含義。

在本實用新型的描述中，需要理解的是，術語“第一”、“第二”等僅用于描述目的，而不能理解為指示或暗示相對重要性。此外，在本實用新型的描述中，除非另有說明，“多個”的含義是兩個或兩個以上。